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광간섭 단층촬영 장치 및 그를 이용한 광간섭 단층촬영 방법

  • 기술번호 : KST2015174444
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 서로 다른 대역의 광원을 이용하여 안구의 각막과 망막을 동시에 촬영할 수 있는 광간섭 단층촬영 장치 및 광간섭 단층촬영 방법에 관한 것이다.본 발명은 두 개의 광원과, 각 광원으로부터 출력되는 광에 의해 서로 다른 간섭무늬를 발생하는 제1 간섭계 및 제2 간섭계와, 각 간섭계에서 발생되는 간섭무늬를 검출하는 간섭무늬 검출수단을 포함한다.
Int. CL A61B 3/107 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01) A61B 3/103 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020110055492 (2011.06.09)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자 10-1206832-0000 (2012.11.26)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20121130) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호 1020120125038;
심사청구여부/일자 Y (2011.06.09)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 엄태중 대한민국 광주광역시 북구
2 이인원 대한민국 광주광역시 북구
3 김훈섭 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인우인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 중평빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 휴비츠 경기도 안양시 동안구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0433084-20
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.09.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5187089-85
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2012.05.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2012.06.21 수리 (Accepted) 9-1-2012-0048203-35
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.07.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0531965-40
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.09.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0528797-41
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.11.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0911653-13
8 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application		 2012.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2012-0911672-81
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2012-0911652-78
10 등록결정서
Decision to grant		 2012.11.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0710562-00
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 광을 출력하는 제1 광원;상기 제1 광보다 높은 대역의 제2 광을 출력하는 제2 광원;상기 제1 광을 제1 기준광과 제1 샘플광으로 분할하여 출사하는 제1 광 커플러;상기 제2 광을 제2 기준광과 제2 샘플광으로 분할하여 출사하는 제2 광 커플러;상기 제1 기준광이 입사되어 반사되는 제1 기준미러;상기 제2 기준광이 입사되어 반사되는 제2 기준미러;상기 제1 샘플광 및 상기 제2 샘플광의 파장을 결합시키는 파장결합수단;상기 파장결합수단으로부터 입사되는 상기 제1 샘플광을 소정 각도로 반사시키고, 상기 제2 샘플광을 투과시키는 제1 선택투과수단;상기 제1 선택투과수단에서 반사된 상기 제1 샘플광을 소정 각도로 반사시키는 광로변경수단;상기 제1 선택투과수단을 통과한 상기 제2 샘플광을 투과시키고, 상기 광로변경수단에 의해 반사된 상기 제1 샘플광을 소정 각도로 반사시키는 제2 선택투과수단;상기 제1 선택투과수단과 상기 제2 선택투과수단 사이의 상기 제1 샘플광의 광로상에 배치되어 상기 제1 샘플광을 집광시키는 제1 렌즈;상기 제2 선택투과수단에서 반사된 상기 제1 샘플광을 평행광으로 변환하여 안구의 망막으로 출사시키고, 상기 제2 선택투과수단을 통과한 상기 제2 샘플광을 상기 안구의 각막에 집광시키는 제2 렌즈;상기 망막에서 산란 또는 반사되는 상기 제1 샘플광의 복귀광과 상기 제1 기준미러에서 반사되는 상기 제1 기준광의 반사광의 결합에 의해 발생되는 간섭무늬를 검출하는 제1 간섭무늬 검출수단; 및상기 각막에서 산란 또는 반사되는 상기 제2 샘플광의 복귀광과 상기 제2 기준미러에서 반사되는 상기 제2 기준광의 반사광의 결합에 의해 발생되는 간섭무늬를 검출하는 제2 간섭무늬 검출수단; 을 포함하는 광간섭 단층촬영 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 샘플광 및 상기 제2 샘플광의 진행 방향을 동시에 조절하는 XY 스캐너를 더 포함하는 광간섭 단층촬영 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 제1 선택투과수단 및 상기 제2 선택투과수단은, 광을 파장에 따라 선택적으로 투과시키거나 소정 각도로 반사시키는 다이크로익 미러(Dichroic Mirror)인 광간섭 단층촬영 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 제1 선택투과수단 및 상기 제2 선택투과수단은 상기 제1 샘플광을 90도 각도로 반사시키고,상기 광로변경수단은, 상기 제1 샘플광을 90도 각도로 반사시키는 제1 미러 및 제2 미러인 광간섭 단층촬영 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 파장결합수단은 WDM 커플러(Wavelength Division Multiplexing Coupler)인 광간섭 단층촬영 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 제1 광원 및 상기 제2 광원은 파장가변 레이저인 광간섭 단층촬영 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 제1 광원은 1
8 8
삭제
9 9
제1항에 있어서,상기 제1 광원 및 상기 제2 광원은 광대역 광원이고,상기 간섭무늬 검출수단은 분광계인 광간섭 단층촬영 장치
10 10
제1 광을 출력하는 제1 광원;상기 제1 광보다 높은 대역의 제2 광을 출력하는 제2 광원;상기 제1 광을 제1 기준광과 제1 샘플광으로 분할하여 출사하는 제1 광 커플러;상기 제2 광을 제2 기준광과 제2 샘플광으로 분할하여 출사하는 제2 광 커플러;상기 제1 기준광이 입사되어 반사되는 제1 기준미러;상기 제2 기준광이 입사되어 반사되는 제2 기준미러;상기 제1 광 커플러로부터 입사되는 상기 제1 샘플광을 상기 제1 샘플광을 소정 각도로 반사시키는 광로변경수단;상기 광로변경수단에 의해 반사된 상기 제1 샘플광을 소정 각도로 반사시키고, 상기 제2 광 커플러로부터 입사되는 상기 제2 샘플광을 투과시키는 선택투과수단;상기 제1 광 커플러와 상기 선택투과수단 사이의 상기 제1 샘플광의 광로상에 배치되어 상기 제1 샘플광을 집광시키는 제1 렌즈;상기 선택투과수단에서 반사된 상기 제1 샘플광을 평행광으로 변환하여 안구의 망막으로 출사시키고, 상기 선택투과수단을 통과한 상기 제2 샘플광을 상기 안구의 각막에 집광시키는 제2 렌즈;상기 망막에서 산란 또는 반사되는 상기 제1 샘플광의 복귀광과 상기 제1 기준미러에서 반사되는 상기 제1 기준광의 반사광의 결합에 의해 발생되는 간섭무늬를 검출하는 제1 간섭무늬 검출수단; 및상기 각막에서 산란 또는 반사되는 상기 제2 샘플광의 복귀광과 상기 제2 기준미러에서 반사되는 상기 제2 기준광의 반사광의 결합에 의해 발생되는 간섭무늬를 검출하는 제2 간섭무늬 검출수단; 을 포함하는 광간섭 단층촬영 장치
11 11
제10항에 있어서,상기 제1 샘플광의 진행 방향을 조절하는 제1 XY 스캐너 및 상기 제2 샘플광의 진행 방향을 조절하는 제2 XY 스캐너를 더 포함하는 광간섭 단층촬영 장치
12 12
제10항에 있어서,상기 선택투과수단은, 광을 파장에 따라 선택적으로 투과시키거나 소정 각도로 반사시키는 다이크로익 미러(Dichroic Mirror)인 광간섭 단층촬영 장치
13 13
제10항에 있어서,상기 선택투과수단은 상기 제1 샘플광을 90도 각도로 반사시키고, 상기 광로변경수단은, 상기 제1 샘플광을 90도 각도로 반사시키는 미러인 광간섭 단층촬영 장치
14 14
제10항에 있어서,상기 제1 광원 및 상기 제2 광원은 파장가변 레이저인 광간섭 단층촬영 장치
15 15
제14항에 있어서,상기 제1 광원은 1
16 16
삭제
17 17
제10항에 있어서,상기 제1 광원 및 상기 제2 광원은 광대역 광원이고,상기 간섭무늬 검출수단은 분광계인 광간섭 단층촬영 장치
18 18
제1 광원으로부터 제1 광을 출력하고, 제2 광원으로부터 상기 제1 광보다 높은 대역의 제2 광을 출력하는 단계;상기 제1 광을 제1 기준광과 제1 샘플광으로 분할하고, 상기 제2 광을 제2 기준광과 제2 샘플광으로 분할하는 단계;상기 제1 기준광을 제1 기준미러에 반사시키고, 상기 제2 기준광을 제2 기준미러에 반사시키는 단계;파장결합수단을 이용하여 상기 제1 샘플광 및 상기 제2 샘플광의 파장을 결합시키는 단계; 제1 선택투과수단을 이용하여 상기 제1 샘플광의 광로를 우회시켜 제1 렌즈를 통과시키는 단계;상기 제1 렌즈를 통과한 상기 제1 샘플광을 제2 선택투과수단을 이용하여 상기 제2 렌즈를 통과시켜 안구의 망막에서 산란 또는 반사시키는 단계;상기 제2 샘플광을 제2 렌즈를 통과시켜 상기 안구의 각막에서 산란 또는 반사시키는 단계;상기 파장결합수단을 이용하여 상기 제1 샘플광의 복귀광과 상기 제2 샘플광의 복귀광을 분할하는 단계;상기 제1 기준광의 반사광과 상기 제1 샘플광의 복귀광을 결합시켜 간섭무늬를 발생시키는 단계; 및상기 제2 기준광의 반사광과 상기 제2 샘플광의 복귀광을 결합시켜 간섭무늬를 발생시키는 단계;를 포함하는 광간섭 단층촬영 방법
19 19
제18항에 있어서,XY 스캐너를 이용하여 상기 제1 샘플광 및 상기 제2 샘플광의 진행 방향을 동시에 조절하는 단계를 포함하는 광간섭 단층촬영 방법
20 20
제18항에 있어서,상기 제1 선택투과수단 및 상기 제2 선택투과수단은, 광을 파장에 따라 선택적으로 투과시키거나 소정 각도로 반사시키는 다이크로익 미러(Dichroic Mirror)인 광간섭 단층촬영 방법
21 21
제18항에 있어서,상기 파장결합수단은 WDM 커플러(Wavelength Division Multiplexing Coupler)인 광간섭 단층촬영 방법
22 22
제18항에 있어서,상기 제1 광원 및 상기 제2 광원은 파장가변 레이저인 광간섭 단층촬영 방법
23 23
제22항에 있어서,상기 제1 광원은 1
24 24
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP02719324 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP02719324 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 KR101257355 KR 대한민국 FAMILY
4 US09072460 US 미국 FAMILY
5 US20140125951 US 미국 FAMILY
6 WO2012169740 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
7 WO2012169740 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP2719324 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
2 EP2719324 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
3 EP2719324 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 US2014125951 US 미국 DOCDBFAMILY
5 US9072460 US 미국 DOCDBFAMILY
6 WO2012169740 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
7 WO2012169740 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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