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위치 측정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015174496
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 발광 다이오드(LED, Light Emitting Diode)에서 방출되는 광신호의 세기를 이용하여 물체의 위치를 측정하는 위치 측정 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 위치 측정 장치는 적어도 셋 이상의 발광 다이오드(LED, Light Emitting Diode)에서 각각의 상기 발광 다이오드마다 고유한 타임 슬롯(Time Slot)또는 코드(Code)를 가지고 방출되는 광신호를 이용하여 위치를 측정하는 장치에 있어서, 상기 발광 다이오드들의 위치 정보 및 상기 발광 다이오드들 각각의 상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보를 저장하는 저장부; 상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보가 포함된 상기 발광 다이오드에서 방출되는 광신호를 수신하는 수신부; 상기 수신부에서 수신된 광신호의 세기를 각각의 상기 발광 다이오드별로 측정하는 세기측정부; 및 상기 저장부에 저장된 발광 다이오드의 위치 정보, 상기 측정된 광신호의 세기를 이용하여 물체의 위치를 측정하는 위치측정부를 포함할 수 있다.
Int. CL G01B 11/00 (2006.01) B25J 9/10 (2006.01) B25J 13/08 (2006.01)
CPC G01B 11/14(2013.01) G01B 11/14(2013.01) G01B 11/14(2013.01)
출원번호/일자 1020130003221 (2013.01.11)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0091230 (2014.07.21) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.01.11)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박창수 대한민국 광주광역시 북구
2 정수용 대한민국 광주광역시 북구
3 최창국 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인우인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 중평빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.01.11 수리 (Accepted) 1-1-2013-0028747-73
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.01.11 수리 (Accepted) 1-1-2018-0033047-22
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.05.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.06.08 수리 (Accepted) 9-1-2018-0026672-37
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.10.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0733620-51
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.12.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-1313356-49
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2018-1313355-04
8 등록결정서
Decision to grant
2019.05.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0381605-09
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번호 청구항
1 1
적어도 셋 이상의 발광 다이오드(LED, Light Emitting Diode)에서 각각의 상기 발광 다이오드마다 고유한 타임 슬롯(Time Slot)또는 코드(Code)를 가지고 방출되는 광신호를 이용하여 위치를 측정하는 장치에 있어서,상기 발광 다이오드들의 위치 정보 및 상기 발광 다이오드들 각각의 상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보를 저장하는 저장부;상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보가 포함된 상기 발광 다이오드에서 방출되는 광신호를 상기 발광 다이오드 별로 구분하여 수신하는 수신부;상기 수신부에서 수신된 광신호의 세기를 각각의 상기 발광 다이오드별로 측정하는 세기측정부; 상기 저장부에 저장된 발광 다이오드의 위치 정보, 상기 측정된 광신호의 세기를 이용하여 물체의 위치를 측정하는 위치측정부; 및상기 저장부에 저장된 상기 발광 다이오드들의 위치 정보를 설정하는 위치설정부;를 포함하고,상기 위치설정부는,상기 세기측정부에서 측정된 상기 광신호의 세기를 이용하여 상기 광신호의 세기 분포를 측정하는 분포측정부; 및상기 측정된 세기 분포를 이용하여 상기 광신호의 세기가 최대인 지점을 상기 발광 다이오드의 위치로 설정하는 설정부를 포함하고,상기 분포측정부는 상기 세기 분포를 이용하여 다항식을 생성하고,상기 설정부는 상기 생성된 다항식을 미분을 이용하여 1차 미분 방정식을 생성하고, 상기 생성된 1차 미분 방적식의 실근을 산출하여 상기 산출된 실근을 상기 발광 다이오드의 위치로 설정하는 것을 특징으로 하는 위치 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보는 상기 발광 다이오드의 스위칭(Switching)에 의하여 발생되는 것을 특징으로 하는 위치 측정 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 수신부는 상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보를 이용하여 상기 수신된 광신호를 각각의 발광 다이오드 별로 구분하고,상기 세기측정부는 상기 각각의 발광 다이오드 마다 상기 수신된 광신호의 세기를 측정하는 것을 특징으로 하는 위치 측정 장치
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삭제
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삭제
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제 1 항에 있어서,상기 수신부는한 방향으로 이동하면서 기 설정된 이동 간격 마다 상기 발광 다이오드에서 방출된 광신호의 세기를 측정하는 것을 특징으로 하는 위치 측정 장치
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적어도 셋 이상의 발광 다이오드(LED, Light Emitting Diode)에서 각각의 상기 발광 다이오드마다 고유한 타임 슬롯(Time Slot)또는 코드(Code)를 가지고 방출되는 광신호를 이용하여 위치를 측정하는 방법에 있어서,상기 발광 다이오드들의 위치 정보 및 상기 발광 다이오드들 각각의 상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보를 제공하는 저장단계;상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보가 포함된 상기 발광 다이오드에서 방출되는 광신호를 상기 발광 다이오드 별로 구분하여 수신하는 수신단계;상기 수신단계에서 수신된 광신호의 세기를 각각의 상기 발광 다이오드별로 측정하는 세기측정단계;상기 저장단계에서 저장된 발광 다이오드의 위치 정보, 상기 측정된 광신호의 세기를 이용하여 물체의 위치를 측정하는 위치측정단계; 및상기 저장단계에서 저장된 상기 발광 다이오드들의 위치 정보를 설정하는 위치설정단계;를 포함하고,상기 위치설정단계는,상기 세기측정단계에서 측정된 상기 광신호의 세기를 이용하여 상기 광신호의 세기 분포를 측정하는 분포측정단계; 및상기 측정된 세기 분포를 이용하여 상기 광신호의 세기가 최대인 지점을 상기 발광 다이오드의 위치로 설정하는 설정단계를 포함하고,상기 분포측정단계는 상기 세기 분포를 이용하여 다항식을 생성하고,상기 설정단계는 상기 생성된 다항식을 미분을 이용하여 1차 미분 방정식을 생성하고, 상기 생성된 1차 미분 방적식의 실근을 산출하여 상기 산출된 실근을 상기 발광 다이오드의 위치로 설정하는 것을 특징으로 하는 위치 측정 방법
9 9
제 8 항에 있어서,상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보는 상기 발광 다이오드의 스위칭(Switching)에 의하여 발생되는 것을 특징으로 하는 위치 측정 방법
10 10
제 8 항에 있어서,상기 수신단계는 상기 저장단계에서 제공하는 상기 고유한 타임 슬롯 또는 코드 정보를 이용하여 상기 수신된 광신호를 각각의 발광 다이오드 별로 구분하고,상기 세기측정단계는 상기 각각의 발광 다이오드 마다 상기 수신된 광신호의 세기를 측정하는 것을 특징으로 하는 위치 측정 방법
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제 8 항에 있어서,상기 수신단계는한 방향으로 이동하면서 기 설정된 이동 간격 마다 상기 발광 다이오드에서 방출된 광신호의 세기를 측정하는 것을 특징으로 하는 위치 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.