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광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015174894
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광섬유형 Fizeau 간섭계를 이용하여 반사면의 나노 변위를 측정하는 기술이다. 종래 기술에서는 광원(Light Source)에서 나온 빛이 기준 면(Reference face)와 샘플 면(Sample face)에서 각각 반사되어 나오게 되고, 이 두 가지의 빛이 빔 스플리터(Beam splitter)를 거쳐 중첩되면서 간섭 패턴을 형성하게 되고, 그 간섭 패턴을 분석하여 반사면의 나노 변위를 측정하였다(도 5 참조). 이에 반해서, 본 발명은 레이저 다이오드, 포토 다이오드, 커플러, 렌즈 파이버(lensed fiber) 등을 사용함으로써, 렌즈 파이버의 표면에서의 반사광과 샘플에서의 반사광이 중첩되고, 이 중첩된 패턴이 커플러와 포토 다이오드(PD1)을 거쳐, 연산부(또는 컴퓨터)에서 분석되어, 샘플 표면의 나노 변위를 측정하게 된다(도 1 참조). 본 발명은 광학 소자를 없애고, 광섬유로만 연결되어 있으므로, 광학 소자에 의한 비선형이나 노이즈로부터 자유롭고, 광학 소자를 사용하기 위한 광축 정렬도 할 필요가 없다는 장점을 갖고 있다.
Int. CL B82B 1/00 (2006.01) G01B 11/00 (2006.01) G01B 11/24 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01)
CPC G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01)
출원번호/일자 1020100065137 (2010.07.07)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0004578 (2012.01.13) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강진호 대한민국 광주광역시 북구
2 이선규 대한민국 광주광역시 북구
3 주재영 대한민국 광주광역시 북구
4 이차범 대한민국 광주광역시 북구
5 우도균 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 장한특허법인 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로 ***, **층 (서초동, 서초지웰타워)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.07.07 수리 (Accepted) 1-1-2010-0437637-27
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.07.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0443334-95
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.08.04 수리 (Accepted) 1-1-2010-0504040-31
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5187089-85
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번호 청구항
1 1
빛을 발광하는 광원부; 상기 광원부를 구동하는 광원구동기;상기 광원부로부터 받은 빛을 커플링하여 빛을 두 개의 경로로 분리시키며, 그 하나는 제 2 광전변환부로 보내고, 다른 하나는 렌즈 파이버로 보내고, 상기 렌즈 파이버로부터 입력된 빛은 제 1 광전변환부로 보내는 광 커플러; 상기 광 커플러로부터 입력받은 빛을 피검체에 발광하여 상기 피검체로부터 반사된 빛을 다시 상기 광 커플러로 보내는 렌즈 파이버; 상기 광 커플러로부터 입력 받은 빛을 전기 신호로 변환하는 제 1 및 제 2 광전변환부; 및상기 제 1 광전변환부로부터 입력받은 전기 신호를 분석하여, 상기 피검체의 나노 변위를 연산하는 연산부;를 포함하는 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 광원부와 상기 광 커플러 사이, 상기 광 커플러와 상기 렌즈 파이버 사이, 상기 광 커플러와 상기 제 1 광전변환부 사이, 및 상기 광 커플러와 상기 제 2 광전변환부 사이는 광섬유로 연결되는 것을 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 광원부는 레이저 다이오드이고, 상기 제 1 및 제 2 광전변환부는 포토 다이오드인 것을 특징으로 하는 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 피검체가 배치되는 나노 스테이지를 더 구비하는 것을 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 연산부의 명령에 따라, 상기 나노 스테이지를 이동시키는 나노 스테이지 구동부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 피검체와 상기 렌즈 파이버 사이의 거리를 측정하기 위한 동작 거리 측정부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 동작 거리 측정부는, 상기 피검체와 상기 렌즈 파이버 사이를 촬영하는 촬상소자를 더 구비하고, 상기 촬상소자에서 촬영된 이미지를 처리하여 상기 피검체와 상기 렌즈 파이버 간의 거리를 계산하는 것을 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 측정 장치
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 렌즈 파이버는, 상기 광섬유 끝단에 직접 렌즈를 가공하여, 광섬유와 렌즈가 일체화된 것을 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 렌즈 파이버는, 빔 스팟 크기(Beam spot size)를 줄이고, 샘플 표면에서 반사된 빛의 광섬유로의 결합을 높일 수 있도록 렌즈의 파라미터를 설계한 것 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 제 2 광전변환부로부터 입력되는 신호를 기초로 하여 상기 광원구동기를 되먹임 제어하여 상기 광원부의 출력을 안정화시키는 제어기를 더 포함하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
11 11
제 1 항에 있어서, 상기 연산부는, 상기 제 1 광전변환부로부터 입력되는 간섭 전기 신호의 피크에서 피크까지의 변위가, 상기 광원부의 빛의 파장의 절반인 경우, 상기 피검체와 상기 렌즈 파이버 사이의 거리가 동작 거리라고 판단하는 것을 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 피검체와 상기 렌즈 파이버 사이를 촬영하는 촬상소자; 및 상기 촬상소자에서 촬영된 이미지를 처리하여 상기 피검체와 상기 렌즈 파이버 간의 거리를 계산하는 동작 거리 측정부를 더 구비하고, 상기 연산부에서, 상기 광전변환부로부터 입력되는 간섭 전기 신호의 피크에서 피크까지의 변위가, 상기 광원부의 빛의 파장의 절반인 경우, 상기 피검체와 상기 렌즈 파이버 사이의 거리가 동작 거리라고 판단하는 것을, 상기 동작 거리 측정부의 계산 결과로 검증하는 것을 특징으로 하는, 광섬유형 피조 간섭계를 이용한 나노 변위 및 표면 형상 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 광주과학기술원 국가지정연구실(NRL)사업 초슬림광포인팅장치기술(2)
2 지식경제부 한국기계연구원 기술혁신사업 직선운동유니트정밀도예측및통합시뮬레이터개발