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도장 공정 분석 방법

  • 기술번호 : KST2019014467
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 도장 공정 분석 방법이 개시된다. 도장 공정 분석 방법에서 도장 공정을 객관화된 디지털 정보로 변환하고, 디지털 정보를 이용하여 도장 공정에서의 작업 지연 요소에 대한 원인 분석함으로써, 불량 발생에 대한 예방이 가능하게 되며, 새로운 작업자에게 기존 작업자들의 경험을 전달하여 도장공정의 생산성을 높이는 방법을 제공한다.
Int. CL G06Q 50/04 (2012.01.01) G06Q 10/06 (2012.01.01)
CPC G06Q 50/04(2013.01) G06Q 50/04(2013.01)
출원번호/일자 1020180008207 (2018.01.23)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0089543 (2019.07.31) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 나갑주 대전광역시 유성구
2 정양재 대전광역시 유성구
3 유미선 대전광역시 유성구
4 전인걸 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2018.01.23 수리 (Accepted) 1-1-2018-0078951-70
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번호 청구항
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블록 도장 작업이 완료된 복수의 블록의 도장 검사 정보를 디지털화하는 단계;도장 작업장 내 특정 상황 및 도장 조건으로부터 상기 블록 도장 작업 시, 발생 가능한 불량 조건을 분석하는 단계;상기 디지털화된 도장 검사 정보 및 상기 발생 가능한 불량 조건을 저장하는 단계; 및상기 저장된 도장 검사 정보 및 불량 조건을 기반으로 블록 도장 작업을 수행하기 위한 도장 공정을 분석하는 단계를 포함하는 도장 공정 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국전자통신연구원 정보통신 방송연구개발사업 SW통합 개발자 환경(SDK) 및 공통 라이브러리 분석·설계