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기준 물체의 이미지를 포함하는 템플릿(template) 이미지로부터 기본 템플릿 패턴 정보를 획득하는 단계, 여기서 상기 기본 템플릿 패턴 정보는 상기 기준 물체를 식별하는 제1 에지 픽셀들의 제1 위치 정보와 제1 히스토그램 정보를 포함함;상기 템플릿 이미지를 기설정된 각도만큼 회전시킨 회전 템플릿 이미지로부터 회전 템플릿 패턴 정보를 획득하는 단계, 여기서 상기 회전 템플릿 패턴 정보는 상기 기준 물체를 식별하는 제2 에지 픽셀들의 제2 위치 정보와 제2 히스토그램 정보를 포함함;대상 물체의 이미지를 포함하는 입력 이미지로부터 입력 패턴 정보를 획득하는 단계, 여기서 상기 입력 패턴 정보는 상기 대상 물체를 식별하는 제3 에지 픽셀들의 제3 위치 정보와 제3 히스토그램 정보를 포함함;상기 제1 위치 정보와 상기 제3 위치 정보 간의 픽셀 위치 유사도 및 상기 제1 히스토그램 정보와 상기 제3 히스토그램 정보 간의 히스토그램 유사도가 모두 기설정된 임계값 이상이면 상기 대상 물체를 상기 기준 물체와 동일한 물체로 판별하는 제 1 판별 단계; 및상기 제2 위치 정보와 상기 제3 위치 정보 간의 상기 픽셀 위치 유사도 및 상기 제2 히스토그램 정보와 상기 제3 히스토그램 정보 간의 상기 히스토그램 유사도가 모두 기설정된 임계값 이상이면 상기 대상 물체를 상기 기준 물체와 동일한 물체로 판별하는 제 2 판별 단계를 포함하되,상기 픽셀 위치 유사도는, 서로 다른 에지 이미지를 각각 동일한 방향으로 스캔하여 각 라인에서 가장 먼저 탐지되는 에지 픽셀들의 위치 또는 가장 나중에 탐지되는 에지 픽셀들이 위치가 겹치는 비율을 나타내고,상기 히스토그램 유사도는, 서로 다른 에지 이미지의 에지 픽셀 수를 동일한 방향으로 누적하여 형성된 두개의 히스토그램 간의 겹치는 영역의 비율을 나타내는, 물체 검출 방법
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제1항에 있어서, 상기 제3 히스토그램 정보의 형성에 사용된 에지 픽셀의 손실 비율이 기설정된 임계값 이상이면 상기 대상 물체가 상기 기준 물체와 동일하지 않은 것으로 결정되는, 물체 검출 방법
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제1항에 있어서, 상기 제3 에지 픽셀들에 포함된 픽셀들 중 임계 거리 이상의 오차를 갖는 픽셀의 개수가 패널티 값으로써 누적되고, 상기 제3 에지 픽셀들 중 누적된 상기 패널티 값의 비율이 기설정된 임계값 이상이면 상기 대상 물체가 상기 기준 물체와 동일하지 않은 것으로 결정되는, 물체 검출 방법
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제1항에 있어서, 상기 대상 물체가 상기 기준 물체와 동일한 물체에 해당하는 것으로 판별된 경우, 상기 대상 물체의 중심위치와 회전 각도를 획득하는 단계를 더 포함하는, 물체 검출 방법
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제1항에 있어서, 상기 대상 물체가 상기 기준 물체와 동일한 물체에 해당하는 것으로 판별된 경우, 복수의 대상 물체 에지 이미지를 획득하고, 상기 복수의 대상 물체 에지 이미지 각각에 대하여 임계 거리 이상의 오차를 갖는 픽셀의 개수를 누적하여 누적 패널티 값을 획득하고, 상기 누적 패널티 값이 가장 작은 대상 물체 에지 이미지를 최종 대상 물체 에지 이미지로 선택하고, 상기 최종 대상 물체 에지 이미지의 중심 위치를 상기 대상 물체의 최종 위치로써 획득하는, 물체 검출 방법
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제1항에 있어서, 상기 입력 패턴 정보를 획득하는 단계에 있어서, 상기 입력 이미지로부터 대상 물체의 이미지의 에지를 포함하는 입력 에지 이미지를 획득하고, 상기 입력 에지 이미지를 스캔할 윈도우 필터를 생성하고, 상기 입력 에지 이미지에 상기 윈도우 필터(window filter)를 사용함으로써 상기 윈도우 필터의 내부 에지 이미지를 획득하고, 상기 윈도우 필터의 내부 에지 이미지로부터 상기 입력 패턴 정보를 획득하는, 물체 검출 방법
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제1항에 있어서, 상기 기본 템플릿 패턴 정보를 획득하는 단계에 있어서, 상기 템플릿 이미지로부터 상기 기준 물체의 이미지의 에지를 포함하는 제1 에지 이미지를 획득하고, 상기 제1 에지 이미지로부터 상기 기본 템플릿 패턴 정보를 획득하고,상기 회전 템플릿 패턴 정보를 획득하는 단계에 있어서, 상기 템플릿 이미지를 상기 회전 각도만큼 회전시킨 회전 템플릿 이미지를 획득하고, 상기 회전 템플릿 이미지로부터 상기 기준 물체의 에지를 포함하는 제2 에지 이미지를 획득하고, 상기 제2 에지 이미지로부터 상기 회전 템플릿 패턴 정보를 획득하는, 물체 검출 방법
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데이터를 저장하는 메모리; 및상기 메모리를 제어하는 프로세서를 포함하고,상기 프로세서는, 기준 물체의 이미지를 포함하는 템플릿(template) 이미지로부터 기본 템플릿 패턴 정보를 획득하고, 여기서 상기 기본 템플릿 패턴 정보는 상기 기준 물체를 식별하는 제1 에지 픽셀들의 제1 위치 정보와 제1 히스토그램 정보를 포함하고, 상기 템플릿 이미지를 기설정된 각도만큼 회전시킨 회전 템플릿 이미지로부터 회전 템플릿 패턴 정보를 획득하고, 여기서 상기 회전 템플릿 패턴 정보는 상기 기준 물체를 식별하는 제2 에지 픽셀들의 제2 위치 정보와 제2 히스토그램 정보를 포함하고, 대상 물체의 이미지를 포함하는 입력 이미지로부터 입력 패턴 정보를 획득하고, 여기서 상기 입력 패턴 정보는 상기 대상 물체를 식별하는 제3 에지 픽셀들의 제3 위치 정보와 제3 히스토그램 정보를 포함하고, 상기 제1 위치 정보와 상기 제3 위치 정보 간의 픽셀 위치 유사도 및 상기 제1 히스토그램 정보와 상기 제3 히스토그램 정보 간의 히스토그램 유사도가 모두 기설정된 임계값 이상이면 상기 대상 물체를 상기 기준 물체와 동일한 물체로 판별하고, 상기 제2 위치 정보와 상기 제3 위치 정보 간의 상기 픽셀 위치 유사도 및 상기 제2 히스토그램 정보와 상기 제3 히스토그램 정보 간의 상기 히스토그램 유사도가 모두 기설정된 임계값 이상이면 상기 대상 물체를 상기 기준 물체와 동일한 물체로 판별하되, 상기 픽셀 위치 유사도는, 서로 다른 에지 이미지를 각각 동일한 방향으로 스캔하여 각 라인에서 가장 먼저 탐지되는 에지 픽셀들의 위치 또는 가장 나중에 탐지되는 에지 픽셀들이 위치가 겹치는 비율을 나타내고,상기 히스토그램 유사도는, 서로 다른 에지 이미지의 에지 픽셀 수를 동일한 방향으로 누적하여 형성된 두개의 히스토그램 간의 겹치는 영역의 비율을 나타내는, 물체 검출 장치
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제11항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 제3 히스토그램 정보의 형성에 사용된 에지 픽셀의 손실 비율이 기설정된 임계값 이상이면 상기 대상 물체가 상기 기준 물체와 동일하지 않은 것으로 결정하는, 물체 검출 장치
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제11항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 제3 에지 픽셀들에 포함된 픽셀들 중 임계 거리 이상의 오차를 갖는 픽셀의 개수가 패널티 값으로써 누적하고, 상기 제3 에지 픽셀들 중 누적된 상기 패널티 값의 비율이 기설정된 임계값 이상이면 상기 대상 물체가 상기 기준 물체와 동일하지 않은 것으로 결정하는, 물체 검출 장치
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제11항에 있어서, 상기 대상 물체가 상기 기준 물체와 동일한 물체에 해당하는 것으로 판별된 경우, 상기 프로세서는 상기 대상 물체의 중심 위치와 회전 각도를 더 획득하는, 물체 검출 장치
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제11항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 대상 물체가 상기 기준 물체와 동일한 물체에 해당하는 것으로 판별한 경우, 복수의 대상 물체 에지 이미지를 획득하고, 상기 복수의 대상 물체 에지 이미지 각각에 대하여 임계 거리 이상의 오차를 갖는 픽셀의 개수를 누적하여 누적 패널티 값을 획득하고, 상기 누적 패널티 값이 가장 작은 대상 물체 에지 이미지를 최종 대상 물체 에지 이미지로 선택하고, 상기 최종 대상 물체 에지 이미지의 중심 위치를 상기 대상 물체의 최종 위치로써 획득하는, 물체 검출 장치
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제11항에 있어서, 상기 입력 패턴 정보의 획득은, 상기 프로세서가 상기 입력 이미지로부터 대상 물체의 이미지의 에지를 포함하는 입력 에지 이미지를 획득하고, 상기 입력 에지 이미지를 스캔할 윈도우 필터를 생성하고, 상기 입력 에지 이미지에 윈도우 필터(window filter)를 사용함으로써 상기 윈도우 필터의 내부이미지를 획득하고, 상기 윈도우 필터의 내부 이미지로부터 상기 입력 패턴 정보를 획득하는, 물체 검출 장치
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제11항에 있어서, 상기 기본 템플릿 정보의 획득은, 상기 프로세서가 상기 템플릿 이미지로부터 상기 기준 물체의 이미지의 에지를 포함하는 제1 에지 이미지를 획득하고, 상기 제1 에지 이미지로부터 상기 기본 템플릿 패턴 정보를 획득하고,상기 회전 템플릿 패턴 정보의 획득은, 상기 프로세서가 상기 템플릿 이미지를 상기 회전 각도만큼 회전시킨 회전 템플릿 이미지를 획득하고, 상기 회전 템플릿 이미지로부터 상기 기준 물체의 에지를 포함하는 제2 에지 이미지를 획득하고, 상기 제2 에지 이미지로부터 상기 회전 템플릿 패턴 정보를 획득하는, 물체 검출 장치
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