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이진 분류기를 이용한 클래스 분류기 설계 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2019033812
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 이진 분류기를 이용한 클래스 분류기 설계 장치 및 방법이 개시된다. 개시된 장치는, 복수의 샘플들을 입력받는 입력부, 상기 입력된 샘플들을 두 개의 클래스(클래스0, 클래스1)로 분류하기 위한 이진 분류기를 설계하고, 상기 설계된 이진 분류기들을 입력 샘플에 따라 순차적으로 연결하여 출력하는 이진 분류기 설계부, 및 상기 이진 분류기에 의해 상기 클래스0로 분류된 샘플에 오류가 포함되어 있는 경우 상기 클래스0로 분류된 샘플을 상기 이진 분류기 설계부로 입력하고, 상기 클래스1으로 분류된 샘플에 오류가 포함되어 있는 경우 상기 클래스1으로 분류된 샘플을 상기 이진 분류기 설계부로 입력하는 판단부를 포함한다. 개시된 장치 및 방법에 의하면, 클래스 분류를 위한 연산량을 현저하게 줄일 수 있는 이점이 있다.
Int. CL G06K 9/62 (2006.01.01) G06F 7/08 (2006.01.01) G06F 7/24 (2006.01.01)
CPC G06K 9/6279(2013.01) G06K 9/6279(2013.01) G06K 9/6279(2013.01)
출원번호/일자 1020160050824 (2016.04.26)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1771849-0000 (2017.08.21)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170828) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호 1020170081579;
심사청구여부/일자 Y (2016.04.26)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이철희 대한민국 경기도 고양시 일산동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 민영준 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로 ****, *층(도곡동, 차우빌딩)(맥스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2016-0400873-58
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.10.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.12.20 수리 (Accepted) 9-1-2016-0051486-58
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.02.16 수리 (Accepted) 1-1-2017-0158980-14
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.03.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0210966-20
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0375542-55
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.06.28 수리 (Accepted) 1-1-2017-0618538-14
8 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2017.06.28 수리 (Accepted) 1-1-2017-0618505-18
9 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2017.06.28 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2017-0618549-16
10 수수료 반환 안내서
Notification of Return of Official Fee
2017.07.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0094448-49
11 등록결정서
Decision to Grant Registration
2017.07.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0517845-71
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 샘플들을 입력받는 입력부;상기 입력된 샘플들을 두 개의 클래스(클래스0, 클래스1)로 분류하기 위한 이진 분류기를 설계하는 이진 분류기 설계부; 및상기 이진 분류기에 의해 상기 클래스0로 분류된 샘플에 오류가 포함되어 있는 경우 상기 클래스0로 분류된 샘플을 상기 이진 분류기 설계부로 입력하고, 상기 클래스1으로 분류된 샘플에 오류가 포함되어 있는 경우 상기 클래스1으로 분류된 샘플을 상기 이진 분류기 설계부로 입력하는 판단부를 포함하되,상기 이진 분류기 설계부는 상기 판단부에 의해 입력되는 샘플들을 두 개의 클래스(클래스0, 클래스1)로 분류하는 이진 분류기를 설계하며 상기 설계된 이진 분류기들을 설계된 순서에 따라 순차적으로 연결하여 출력하는 것을 특징으로 하는 이진 분류기를 이용한 분류기 설계 장치
2 2
제1 항에 있어서,상기 판단부는 상기 복수의 샘플들을 모두 오류 없이 분류하는 경우 상기 이진 분류기 설계부에서 상기 복수의 샘플들에 대한 이진 분류기 설계를 종료시키는 것을 특징으로 하는 이진 분류기를 이용한 분류기 설계 장치
3 3
제2 항에 있어서,상기 이진 분류기 설계부는 상기 판단부가 상기 이진 분류기 설계를 모두 종료시킬 때까지 상기 판단부에서 입력하는 샘플들을 분류하는 제n 이진 분류기들을 순차적으로 연결한 분류기를 출력하는 것을 특징으로 하는 이진 분류기를 이용한 분류기 설계 장치
4 4
삭제
5 5
분류기 설계 장치가 이진 분류기를 이용하여 분류기를 설계하는 방법에 있어서,복수의 샘플들을 입력받는 단계(a);상기 입력된 샘플들을 두 개의 클래스(클래스0, 클래스1)로 분류하기 위한 이진 분류기를 설계하는 단계(b); 및상기 단계(b)에서 설계한 이진 분류기가 상기 클래스0로 분류한 샘플에 오류가 포함되어 있는 경우 상기 클래스0로 분류한 샘플을 상기 단계(b)로 입력하고, 상기 클래스1로 분류한 샘플에 오류가 포함되어 있는 경우 상기 클래스1로 분류한 샘플을 상기 단계(b)로 입력하는 단계(c)를 포함하되,상기 단계(b)는 상기 단계(c)에 의해 입력되는 샘플들을 상기 두 개의 클래스(클래스0, 클래스1)로 분류하는 이진 분류기를 설계하며, 상기 설계된 이진 분류기들을 설계된 순서에 따라 순차적으로 연결하여 출력하는 것을 특징으로 하는 이진 분류기를 이용한 분류기 설계 방법
6 6
제5 항에 있어서,상기 단계(c)는 상기 복수의 샘플들을 모두 오류 없이 분류하는 경우 상기 이진 분류기 설계부에서 상기 복수의 샘플들에 대한 이진 분류기 설계를 종료시키는 것을 특징으로 하는 이진 분류기를 이용한 분류기 설계 방법
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제6 항에 있어서,상기 단계(b)는 상기 단계(c)에서 상기 이진 분류기 설계를 모두 종료시킬 때까지 상기 단계(c)에서 입력하는 샘플들을 분류하는 제n 이진 분류기들을 순차적으로 연결한 분류기를 출력하는 것을 특징으로 하는 이진 분류기를 이용한 분류기 설계 방법
8 8
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1 미래창조과학부 연세대학교 산학협력단 중견연구자지원사업 고차원 공간분할을 통한 저연산 패턴인식 기술(1/2)