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나노 갭 플랫폼의 제조방법

  • 기술번호 : KST2023007456
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 나노 갭 플랫폼의 제조방법에 관한 것으로, (a) 실리콘 웨이퍼의 양측 표면에 각각 제1 실리콘 질화물층 및 제2 실리콘 질화물층을 형성하는 단계와; (b) 상기 제1 실리콘 질화물층의 표면에 직사각형의 마스크 패턴이 형성된 마스크 층을 도포하는 단계와; (c) 상기 마스크 패턴에 의해 노출된 상기 제1 실리콘 질화물층의 영역을 에칭하여 상기 실리콘 웨이퍼의 표면을 노출시키는 단계와; (d) 상기 (c) 단계에서 노출된 상기 실리콘 웨이퍼의 영역을 에칭하여 상기 제2 실리콘 질화물층의 표면을 상기 실리콘 웨이퍼 내부에서 노출시키는 단계와; (e) 상기 실리콘 웨이퍼 내부에서 노출된 상기 제2 실리콘 질화물층의 표면을 밀링하여, 상호 마주하게 한 쌍의 노치 패턴을 형성하는 단계 - 한 쌍의 상기 노치 패턴 각각의 뾰족한 모서리 영역이 상호 마주하며 이격되고, 상호 마주하는 상기 모서리 영역 사이에 브릿지 영역이 형성됨 - 와; (f) 상기 브릿지 영역에서 한 쌍의 상기 노치 패턴을 연결하는 방향으로 발생하는 크랙에 의해 나노 갭이 형성되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01N 27/327 (2006.01.01) G01N 33/483 (2006.01.01) H01L 21/311 (2006.01.01) H01L 21/02 (2006.01.01) H01L 21/306 (2006.01.01) H01L 21/027 (2006.01.01) H01L 21/285 (2006.01.01) H01J 37/26 (2006.01.01) H10N 60/01 (2023.01.01) C23C 16/48 (2006.01.01)
CPC G01N 27/3278(2013.01) G01N 33/483(2013.01) H01L 21/31116(2013.01) H01L 21/31144(2013.01) H01L 21/0217(2013.01) H01L 21/02271(2013.01) H01L 21/30604(2013.01) H01L 21/0274(2013.01) H01L 21/2855(2013.01) H01J 37/26(2013.01) H10N 60/0912(2013.01) C23C 16/487(2013.01)
출원번호/일자 1020230026563 (2023.02.28)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0129198 (2023.09.07) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020220026148   |   2022.02.28
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2023.02.28)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장승민 서울특별시 동대문구
2 이병양 서울특별시 강남구
3 곽다인 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인남촌 대한민국 서울특별시 종로구 새문안로*길 **, 도렴빌딩 ***호 (도렴동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2023.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2023-0231241-35
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번호 청구항
1 1
(a) 실리콘 웨이퍼의 양측 표면에 각각 제1 실리콘 질화물층 및 제2 실리콘 질화물층을 형성하는 단계와;(b) 상기 제1 실리콘 질화물층의 표면에 직사각형의 마스크 패턴이 형성된 마스크 층을 도포하는 단계와;(c) 상기 마스크 패턴에 의해 노출된 상기 제1 실리콘 질화물층의 영역을 에칭하여 상기 실리콘 웨이퍼의 표면을 노출시키는 단계와;(d) 상기 (c) 단계에서 노출된 상기 실리콘 웨이퍼의 영역을 에칭하여 상기 제2 실리콘 질화물층의 표면을 상기 실리콘 웨이퍼 내부에서 노출시키는 단계와;(e) 상기 실리콘 웨이퍼 내부에서 노출된 상기 제2 실리콘 질화물층의 표면을 밀링하여, 상호 마주하게 한 쌍의 노치 패턴을 형성하는 단계 - 한 쌍의 상기 노치 패턴 각각의 뾰족한 모서리 영역이 상호 마주하며 이격되고, 상호 마주하는 상기 모서리 영역 사이에 브릿지 영역이 형성됨 - 와;(f) 상기 브릿지 영역에서 한 쌍의 상기 노치 패턴을 연결하는 방향으로 발생하는 크랙에 의해 나노 갭이 형성되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제1항에 있어서,상기 (f) 단계에서 상기 크랙은 상기 제2 실리콘 질화물층 중 상기 브릿지 영역에서의 국부 응력이 상기 제2 실리콘 질화물층의 강도를 초과하여 발생하는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제2항에 있어서,상기 (f) 단계에서의 상기 크랙은 상기 국부 응력에 따른 상기 브릿지 영역의 파손 후 한 쌍의 상기 노치 영역 사이를 가로지는 방향으로의 응력 집중에 따른 상기 제2 실리콘 질화물층의 수축 현상에 의해 발생하는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제1항에 있어서,상기 (a) 단계에서 상기 제1 실리콘 질화물층과 상기 제2 실리콘 질화물층은 화학기상증착 기법을 통해 상기 실리콘 웨이퍼에 증착되는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제1항에 있어서,상기 (b) 단계는(b1) 포지티브 포토레지스트가 상기 제1 실리콘 질화물층에 스핀 코팅을 통해 도포되는 단계와;(b2) 현상 기법을 통해 상기 포지티브 포토레지스트에 상기 마스크 패턴을 형성하여 상기 마스크 층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제1항에 있어서,상기 (c) 단계에서는 반응성 이온 에칭을 이용한 건식 에칭을 통해 상기 마스크 패턴에 의해 노출된 상기 제1 실리콘 질화물층의 영역이 에칭되는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제1항에 있어서,상기 (e) 단계에서는 집속이온빔(Focused Ion Beam : FIB)을 이용하여 상기 제2 실리콘 질화물층의 표면을 밀링하는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제7항에 있어서,상기 (e) 단계는(e1) 상기 실리콘 웨이퍼 내부에서 노출된 상기 제2 실리콘 질화물층의 표면을 밀링하여 직사각형 형상의 제1 영역과 제2 영역을 형성하는 단계 - 상기 제1 영역과 상기 제2 영역은 제1 방향으로 상호 이격되며, 밀링되지 않은 상기 제2 실리콘 질화물층에 의해 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 연장 형상되는 구획 격벽에 의해 상호 이격됨 - 와,(e2) 상기 구획 격벽의 중간 영역에 상기 제1 방향으로 마주하는 한 쌍의 상기 노치 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제8항에 있어서,상기 구획 격벽은 상기 (f) 단계에서 형성된 상기 나노 갭에 의해 상기 제2 방향으로 제1 캔틸레버와 제2 캔틸레버로 구획되는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제9항에 있어서,(g) 상기 제1 캔틸레버 및 상기 제2 캔틸레버의 표면에 도전성을 갖는 금속을 도포하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제10항에 있어서,상기 (g) 단계에서는 전자빔 증착(EBID : Electron beam-induced deposition) 기법을 통한 증착을 통해 금속이 도포되는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
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제1항에 있어서,상기 (c) 단계와 상기 (d) 단계 사이에 상기 마스크 층을 제거하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
13 13
제12항에 있어서,상기 마스크 층은 습식 에칭을 통해 제거되는 것을 특징으로 하는 나노 갭 플랫폼의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.