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분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2023008416
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법은 리모트 메모리로부터 기록 데이터 및 상기 기록 데이터에 기반하여 생성된 복수의 해시값을 수신하는 단계 및 상기 기록 데이터 및 해시값에 기반하여 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06F 21/64 (2013.01.01) G06F 9/455 (2018.01.01) G06F 21/53 (2013.01.01)
CPC G06F 21/64(2013.01) G06F 9/45558(2013.01) G06F 21/53(2013.01) G06F 2009/45583(2013.01)
출원번호/일자 1020230014978 (2023.02.03)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 시스기어
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2023-0139303 (2023.10.05)
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020220037299   |   2022.03.25
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2023.02.03)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 시스기어 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김태훈 대전광역시 유성구
2 고광원 대전광역시 유성구
3 김강호 대전광역시 유성구
4 김창대 대전광역시 유성구
5 엄상호 서울특별시 강서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 (유)한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2023.02.03 수리 (Accepted) 1-1-2023-0131536-86
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번호 청구항
1 1
무결성 검증 장치에 의해 수행되는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법에 있어서, 리모트 메모리로부터 기록 데이터 및 상기 기록 데이터에 기반하여 생성된 복수의 해시값을 수신하는 단계; 및상기 기록 데이터 및 해시값에 기반하여 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 단계;를 포함하고,상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 단계는상기 리모트 메모리에 대한 접근 지연시간에 기반하여 상기 무결성 검증을 위한 해시값을 선택하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법
2 2
청구항 1에 있어서,상기 해시값은 상기 기록 데이터를 분할한 복수의 세그먼트 중 적어도 하나의 세그먼트를 포함하는 제1 세그먼트 세트에 상응하는 제1 해시값 및 상기 제1 세그먼트 세트보다 많은 세그먼트를 포함하는 제2 세그먼트 세트에 상응하는 제2 해시값을 포함하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법
3 3
청구항 2에 있어서,상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 단계는상기 접근 지연시간이 임계치를 초과하면 상기 제1 해시값을 이용하여 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하고, 상기 접근 지연시간이 임계치 이하이면 상기 제2 해시값을 이용하여 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법
4 4
청구항 1에 있어서,상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 단계는상기 접근 지연시간이 검증 임계치 이하이면 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법
5 5
청구항 4에 있어서,상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 단계는상기 접근 지연시간이 검증 임계치 이하인 기록 데이터에 대한 무결성을 검증한 후, 상기 접근 지연시간이 검증 임계치를 초과하는 기록 데이터에 대한 무결성을 검증하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법
6 6
청구항 1에 있어서,상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 단계는상기 기록 데이터 중 온디맨드 데이터를 프리페치 데이터보다 우선하여 무결성을 검증하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법
7 7
청구항 2에 있어서,상기 제1 해시값은 상기 제1 세그먼트 세트 및 상기 리모트 노드의 식별자를 이용하여 생성되고, 상기 제2 해시값은 상기 제2 세그먼트 세트 및 상기 리모트 노드의 식별자를 이용하여 생성되는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법
8 8
청구항 1에 있어서,상기 해시값은상기 기록 데이터를 분할한 복수의 세그먼트 중 적어도 하나의 세그먼트를 포함하는 복수의 세그먼트 세트들 각각에 상응하는 해시값들을 포함하되, 상기 복수의 세그먼트 세트들은 상기 기록 데이터 크기에 대한 세그먼트 세트 크기의 비율이 서로 다른 세그먼트 세트들을 포함하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 방법
9 9
리모트 메모리로부터 기록 데이터 및 상기 기록 데이터에 기반하여 생성된 복수의 해시값을 수신하는 수신부; 및상기 기록 데이터 및 해시값에 기반하여 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 무결성 검증부;를 포함하고,상기 무결성 검증부는상기 리모트 메모리에 대한 접근 지연시간에 기반하여 상기 무결성 검증을 위한 해시값을 선택하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 장치
10 10
청구항 9에 있어서,상기 해시값은 상기 기록 데이터를 분할한 복수의 세그먼트 중 적어도 하나의 세그먼트를 포함하는 제1 세그먼트 세트에 상응하는 제1 해시값 및 상기 제1 세그먼트 세트보다 많은 세그먼트를 포함하는 제2 세그먼트 세트에 상응하는 제2 해시값을 포함하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 장치
11 11
청구항 10에 있어서,상기 무결성 검증부는상기 접근 지연시간이 임계치를 초과하면 상기 제1 해시값을 이용하여 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하고, 상기 접근 지연시간이 임계치 이하이면 상기 제2 해시값을 이용하여 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 장치
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청구항 9에 있어서,상기 무결성 검증부는상기 접근 지연시간이 검증 임계치 이하이면 상기 기록 데이터의 무결성을 검증하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 장치
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청구항 12에 있어서,상기 무결성 검증부는상기 접근 지연시간이 검증 임계치 이하인 기록 데이터에 대한 무결성을 검증한 후, 상기 접근 지연시간이 검증 임계치를 초과하는 기록 데이터에 대한 무결성을 검증하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 장치
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청구항 9에 있어서,상기 무결성 검증부는상기 기록 데이터 중 온디맨드 데이터를 프리페치 데이터보다 우선하여 무결성을 검증하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 장치
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청구항 10에 있어서,상기 제1 해시값은 상기 제1 세그먼트 세트 및 상기 리모트 노드의 식별자를 이용하여 생성되고, 상기 제2 해시값은 상기 제2 세그먼트 세트 및 상기 리모트 노드의 식별자를 이용하여 생성되는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 장치
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청구항 9에 있어서,상기 해시값은상기 기록 데이터를 분할한 복수의 세그먼트 중 적어도 하나의 세그먼트를 포함하는 복수의 세그먼트 세트들 각각에 상응하는 해시값들을 포함하되, 상기 복수의 세그먼트 세트들은 상기 기록 데이터 크기에 대한 세그먼트 세트 크기의 비율이 서로 다른 세그먼트 세트들을 포함하는 것을 특징으로 하는 분리 메모리 환경의 무결성 검증 장치
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