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3차원 형상 측정 장치

  • 기술번호 : KST2014009524
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 3차원 형상 측정 장치가 개시되어 있다. 개시된 측정 장치는, 제1파장광, 제2파장광, 제3파장광, 및 제4파장광을 각각 제1격자, 제2격자, 제3격자, 및 제4격자를 통해 투과시켜 피검체에 격자 무늬가 생성되도록 하고, 격자 무늬 영상을 영상 감지부에서 촬영하여 위상 천이된 간섭 무늬를 얻고, 이 간섭 무늬로부터 3차원 형상을 측정한다.
Int. CL G02B 5/20 (2006.01) G01B 11/24 (2006.01) G01B 11/25 (2006.01)
CPC G01B 11/24(2013.01) G01B 11/24(2013.01) G01B 11/24(2013.01) G01B 11/24(2013.01) G01B 11/24(2013.01)
출원번호/일자 1020090013497 (2009.02.18)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1078877-0000 (2011.10.26)
공개번호/일자 10-2010-0094185 (2010.08.26) 문서열기
공고번호/일자 (20111101) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.02.18)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박승한 대한민국 서울특별시 양천구
2 김경환 대한민국 경기도 화성시
3 김대근 대한민국 서울특별시 양천구
4 이규승 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.02.18 수리 (Accepted) 1-1-2009-0100822-40
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.01.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0043685-15
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.03.24 수리 (Accepted) 1-1-2011-0215541-37
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.03.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0215542-83
5 등록결정서
Decision to grant
2011.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0554242-44
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광원; 상기 광원으로부터 조사된 백색광을 제1경로로 진행하는 제1파장광, 제2경로로 진행하는 제2파장광, 및 제3경로로 진행하는 제3파장광, 및 제4경로로 진행하는 제4파장광으로 분리시키는 광 분리 유닛; 상기 제1경로 상에 배치된 제1격자; 상기 제2경로 상에 배치된 제2격자; 상기 제3경로 상에 배치된 제3격자; 상기 제4경로 상에 배치된 제4격자; 상기 제1파장광, 제2파장광, 제3파장광, 제4파장광을 동일한 경로로 진행하도록 하는 광 합성 유닛; 상기 광 합성 유닛을 통과한 광에 의해 피검체에 형성된 격자 무늬 영상을 촬영하는 영상 감지부를 포함하고, 상기 제1격자, 제2격자, 제3격자 및 제4격자가 격자 주기가 같고, 각 격자 배열이 1/4 주기만큼씩 쉬프트된 3차원 형상 측정 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 광 분리 유닛은, 상기 광원으로부터의 광 중 제1파장광과 제2파장광을 투과시키고, 제3파장광과 제4파장광을 반사시키는 제1다이크로익 필터; 상기 제1파장광을 투과시키고, 제2파장광을 반사시키는 제2다이크로익 필터; 및 상기 제3파장광을 반사시키고, 제4파장광을 투과시키는 제3다이크로익 필터;를 포함하는 3차원 형상 측정 장치
3 3
제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 광 합성 유닛은, 상기 제1파장광을 반사시키는 제1반사미러; 상기 제1파장광을 투과시키고, 상기 제2파장광을 반사시키는 제4다이크로익 필터; 상기 제3파장광을 반사시키는 제2반사미러; 상기 제3파장광을 반사시키고, 상기 제4파장광을 투과시키는 제5다이크로익 필터; 및 상기 제1파장광과 제2파장광을 반사시키고, 상기 제3파장광과 제4파장광을 투과시키는 제6다이크로익 필터;를 포함하는 3차원 형상 측정 장치
4 4
제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 광 합성 유닛은, 상기 제1파장광을 반사하고, 나머지 파장광을 투과시키는 제4다이크로익 필터; 상기 제2파장광을 반사하고, 나머지 파장광을 투과시키는 제5다이크로익 필터; 상기 제3파장광을 반사하고, 나머지 파장광을 투과시키는 제6다이크로익 필터; 상기 제4파장광을 반사하고, 나머지 파장광을 투과시키는 제7다이크로익 필터;를 포함하는 3차원 형상 측정 장치
5 5
제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 광 분리 유닛과 상기 제1 격자 사이에 배치된 제1밴드 패스 필터; 상기 광 분리 유닛과 상기 제2 격자 사이에 배치된 제2밴드 패스 필터; 상기 광 분리 유닛과 상기 제3 격자 사이에 배치된 제3밴드 패스 필터; 및 상기 광 분리 유닛과 상기 제4 격자 사이에 배치된 제4밴드 패스 필터;를 포함하는 3차원 형상 측정 장치
6 6
제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 영상 감지부는, 상기 제1파장광에 의한 영상을 촬영하는 제1 영상 감지 소자; 상기 제2파장광에 의한 영상을 촬영하는 제2 영상 감지 소자; 상기 제3파장광에 의한 영상을 촬영하는 제3 영상 감지 소자; 및 상기 제4파장광에 의한 영상을 촬영하는 제4 영상 감지 소자;를 포함하는 형상 측정 장치
7 7
제1파장광을 조사하는 제1광원; 제2파장광을 조사하는 제2광원; 제3파장광을 조사하는 제3광원; 제4파장광을 조사하는 제4광원; 상기 제1파장광과, 제2파장광과, 제3파장광과 제4파장광을 동일한 광경로로 진행하도록 합성하는 광 합성 유닛; 상기 제1광원과 상기 광 합성 유닛 사이의 광 경로 상에 배치된 제1격자; 상기 제2광원과 상기 광 합성 유닛 사이의 광 경로 상에 배치된 제2격자; 상기 제3광원과 상기 광 합성 유닛 사이의 광 경로 상에 배치된 제3격자; 상기 제4광원과 상기 광 합성 유닛 사이의 광 경로 상에 배치된 제4격자; 및 상기 광 합성 유닛을 통과한 광에 의해 피검체에 형성된 격자 무늬 영상을 촬영하는 영상 감지부;를 포함하고, 상기 제1격자, 제2격자, 제3격자 및 제4격자가 격자 주기가 같고, 각 격자 배열이 1/4 주기만큼씩 쉬프트된 3차원 형상 측정 장치
8 8
제 7항에 있어서, 상기 광 합성 유닛은, 상기 제1파장광을 반사하고, 나머지 파장광을 투과시키는 제1다이크로익 필터; 상기 제2파장광을 반사하고, 나머지 파장광을 투과시키는 제2다이크로익 필터; 상기 제3파장광을 반사하고, 나머지 파장광을 투과시키는 제3다이크로익 필터; 상기 제4파장광을 반사하고, 나머지 파장광을 투과시키는 제4다이크로익 필터;를 포함하는 3차원 형상 측정 장치
9 9
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 제1광원과 상기 제1 격자 사이에 배치된 제1밴드 패스 필터; 상기 제2광원과 상기 제2 격자 사이에 배치된 제2밴드 패스 필터; 상기 제3광원과 상기 제3 격자 사이에 배치된 제3밴드 패스 필터; 및 상기 제4광원과 상기 제4 격자 사이에 배치된 제4밴드 패스 필터;를 포함하는 3차원 형상 측정 장치
10 10
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 영상 감지부는, 상기 제1파장광에 의한 영상을 촬영하는 제1 영상 감지 소자; 상기 제2파장광에 의한 영상을 촬영하는 제2 영상 감지 소자; 상기 제3파장광에 의한 영상을 촬영하는 제3 영상 감지 소자; 및 상기 제4파장광에 의한 영상을 촬영하는 제4 영상 감지 소자;를 포함하는 3차원 형상 측정 장치
11 11
제 1항 또는 제 7항에 있어서, 상기 제1격자, 제2격자, 제3격자 및 제4격자를 통과한 제1, 제2, 제3, 제4 파장광이 상기 피검체에 동시에 격자 무늬를 생성하는 3차원 형상 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.