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광 프로브 및 이를 포함하는 광 간섭 단층 촬영 장치

  • 기술번호 : KST2015134471
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 의한 광 프로브는, 외부로부터 전달받은 광의 진행 경로를 조절하는 광 경로 조절부; 상기 광 경로 조절부에서 광의 진행 경로가 조절됨에 따라 광로 길이(optical path length)에 차이가 발생하도록 하는 광로 길이 조절 부재; 및 상기 광로 길이 조절 부재를 통과한 광을 출력하는 광 출력부를 포함한다.
Int. CL A61B 1/00 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01)
CPC G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01)
출원번호/일자 1020120082564 (2012.07.27)
출원인 고려대학교 산학협력단, 삼성전자주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0081628 (2013.07.17) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020120002469   |   2012.01.09
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.07.17)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구
2 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임재균 대한민국 경기 성남시 분당구
2 최현 대한민국 서울 송파구
3 최민석 대한민국 서울 송파구
4 이성덕 대한민국 경기 성남시 분당구
5 장우영 대한민국 경기 성남시 분당구
6 최원희 대한민국 경기 용인시 기흥구
7 김법민 대한민국 서울특별시 성북구
8 정현우 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 경기도 수원시 영통구
2 고려대학교 산학협력단 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.07.27 수리 (Accepted) 1-1-2012-0603983-84
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-1059101-15
3 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2012.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-1059026-88
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
6 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.07.17 수리 (Accepted) 1-1-2017-0680060-80
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.02.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.04.09 수리 (Accepted) 9-1-2018-0015217-29
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.04.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0272408-42
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.06.15 수리 (Accepted) 1-1-2018-0589447-11
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.06.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0589448-67
12 등록결정서
Decision to grant
2018.10.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0691790-29
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
대상체에 광을 조사하기 위한 광 프로브에 있어서,외부로부터 전달받은 광이 상기 대상체에 조사되는 지점이 횡 방향으로 기 설정된 길이만큼 반복하여 이동하도록 상기 광의 진행 경로를 조절하는 광 경로 조절부;상기 광 경로 조절부에서 상기 광이 상기 대상체에 조사되는 지점이 매번 이동할 때마다 상기 광의 광로 길이(optical path length)가 일정하게 증가하도록 하는 광로 길이 조절 부재; 및상기 광로 길이 조절 부재를 통과한 광을 출력하는 광 출력부를 포함하는 광 프로브
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 상기 광 경로 조절부에서 진행 경로가 조절된 광을 통과시키며, 광이 통과하는 지점에 따라 광로 길이에 차이가 발생하도록 하는 것을 특징으로 하는 광 프로브
4 4
제3항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 동일한 굴절률을 가지는 재질로 형성되며, 두께가 일정하지 않은 광 프로브
5 5
제4항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 상기 광의 진행 방향과 평행하게 절단된 단면이 웨지(wedge) 형상인 광 프로브
6 6
제4항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 어느 일면 또는 양면의 단면이 메니스커스(meniscus) 형상인 광 프로브
7 7
제3항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 서로 다른 굴절률을 가지는 둘 이상의 재질로 형성되는 광 프로브
8 8
제3항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 표면에 돌기가 형성되어 있는 광 프로브
9 9
제1항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 상기 광 경로 조절부에서 진행 경로가 조절된 광의 일부를 차단하여 광의 직경이 감소하도록 함으로써 차단 전에 비하여 상대적으로 광로 길이 조절 효과가 발생하도록 하는 것을 특징으로 하는 광 프로브
10 10
제9항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 상기 광 경로 조절부에서 조절된 광의 진행 경로에 따라 광의 직경이 달라지도록 하는 것을 특징으로 하는 광 프로브
11 11
제1항에 있어서,상기 광 경로 조절부는 고정된 축을 중심으로 일정 반경만큼 회전 이동하는 미러(mirror)인 광 프로브
12 12
대상체에 광을 조사하여 단층 촬영을 하는 광 간섭 단층 촬영 장치에 있어서,광을 생성하는 광 생성기;상기 생성된 광을 측정 광선 및 참조 광선으로 분리하고, 상기 측정 광선은 광 프로브에 전달하고, 상기 측정 광선이 대상체에서 반사되어 돌아온 응답 광선을 상기 광 프로브로부터 수신하는 광 결합기;상기 응답 광선과 상기 참조 광선에 의해 발생되는 간섭 신호를 검출하는 검출기; 및상기 검출된 간섭 신호를 이용하여 상기 대상체의 단층 촬영 영상을 생성하는 영상 신호 처리기를 포함하며,상기 광 프로브는,상기 광 결합기로부터 전달받은 광이 상기 대상체에 조사되는 지점이 횡 방향으로 기 설정된 길이만큼 반복하여 이동하도록 상기 광의 진행 경로를 조절하는 광 경로 조절부;상기 광 경로 조절부에서 상기 광이 상기 대상체에 조사되는 지점이 매번 이동할 때마다 상기 광의 광로 길이(optical path length)가 일정하게 증가하도록 하는 광로 길이 조절 부재; 및상기 광로 길이 조절 부재를 통과한 광을 출력하는 광 출력부를 포함하는 광 간섭 단층 촬영 장치
13 13
삭제
14 14
제12항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 상기 광 경로 조절부에서 진행 경로가 조절된 광을 통과시키며, 광이 통과하는 지점에 따라 광로 길이에 차이가 발생하도록 하는 것을 특징으로 하는 광 간섭 단층 촬영 장치
15 15
제14항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 동일한 굴절률을 가지는 재질로 형성되며, 두께가 일정하지 않은 광 간섭 단층 촬영 장치
16 16
제15항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 상기 광의 진행 방향과 평행하게 절단된 단면이 웨지 형상인 광 간섭 단층 촬영 장치
17 17
제15항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 어느 일면 또는 양면의 단면이 메니스커스 형상인 광 간섭 단층 촬영 장치
18 18
제14항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 서로 다른 굴절률을 가지는 둘 이상의 재질로 형성되는 광 간섭 단층 촬영 장치
19 19
제14항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 표면에 돌기가 형성되어 있는 광 간섭 단층 촬영 장치
20 20
제12항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 상기 광 경로 조절부에서 진행 경로가 조절된 광의 일부를 차단하여 광의 직경이 감소하도록 함으로써 차단 전에 비하여 상대적으로 광로 길이 조절 효과가 발생하도록 하는 것을 특징으로 하는 광 간섭 단층 촬영 장치
21 21
제20항에 있어서,상기 광로 길이 조절 부재는 상기 광 경로 조절부에서 조절된 광의 진행 경로에 따라 광의 직경이 달라지도록 하는 것을 특징으로 하는 광 간섭 단층 촬영 장치
22 22
제12항에 있어서,상기 광 경로 조절부는 고정된 축을 중심으로 일정 반경만큼 회전 이동하는 미러인 광 간섭 단층 촬영 장치
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN103251387 CN 중국 FAMILY
2 EP02612593 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 JP25142700 JP 일본 FAMILY
4 US10048055 US 미국 FAMILY
5 US20130176572 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN103251387 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 JP2013142700 JP 일본 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.