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드라이 필름 레지스트를 이용하는 중합효소 연쇄반응 칩 및 중합효소 연쇄반응 칩 본딩방법

  • 기술번호 : KST2015161495
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 드라이 필름 레지스트를 이용하는 중합효소 연쇄반응 칩 및 중합효소 연쇄반응 칩 본딩방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 중합효소 연쇄반응 칩은 복수의 기판 사이에 개제되어서 복수의 기판을 본딩시키고 적어도 일부분이 드라이 필름 레지스트(DFR) 소재로 형성되는 접합부를 포함한다. 중합효소 연쇄반응(PCR), 드라이 필름 레지스트(DFR)
Int. CL C12Q 1/68 (2006.01) C12M 1/36 (2006.01)
CPC C12Q 1/686(2013.01) C12Q 1/686(2013.01)
출원번호/일자 1020090046944 (2009.05.28)
출원인 경북대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0128517 (2010.12.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.05.28)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경북대학교 산학협력단 대한민국 대구광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이종현 대한민국 대구광역시 남구
2 은덕수 대한민국 대구광역시 수성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박진석 대한민국 서울 서초구 청계산로 ***(신원동) 내곡드림시티* *층 ***호(리앤윤특허법률사무소)
2 유경열 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 ***호실(역삼동, 청원빌딩)(특허법인 신지)
3 천성훈 대한민국 서울특별시 서초구 마방로*길 **-**, *층(양재동, 서흥빌딩)(청신국제특허법률사무소)
4 특허법인 신지 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 ***호실(역삼동, 청원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.05.28 수리 (Accepted) 1-1-2009-0322741-91
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.12.02 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.01.17 수리 (Accepted) 9-1-2011-0003632-86
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.04.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0186252-13
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2011.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0560430-17
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.03.26 수리 (Accepted) 4-1-2018-5051994-32
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.23 수리 (Accepted) 4-1-2020-5136893-04
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 기판; 및 상기 복수의 기판 사이에 개제되어서 상기 복수의 기판을 본딩시키고, 적어도 일부분이 드라이 필름 레지스트(DFR) 소재로 형성되는 접합부를 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 복수의 기판은, 중합효소 연쇄반응을 수행하는 챔버가 형성되는 상부 기판; 및 가열기 및 센서가 형성되는 하부 기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 상부기판의 상기 챔버는, 유리 웨이퍼에 DFR 층을 형성하고 상기 챔버가 형성될 자리에 사진석판 공정을 수행한 후 상기 챔버가 형성될 자리를 마이크로 블라스터(micro blaster)를 이용해 식각함에 따라 형성되는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 DFR 층은, 상기 챔버가 형성될 자리의 마이크로 블라스터 식각 시에 상기 챔버 형성 자리를 벗어난 자리가 식각되는 것을 차단하는 보호막인 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
5 5
제 2 항에 있어서, 상기 하부 기판의 상기 가열기 및 상기 센서는, 유리 웨이퍼에 DFR 층을 형성하고 상기 가열기 및 상기 센서가 형성될 자리에 사진석판 공정을 수행한 후 상기 가열기 및 상기 센서가 형성될 자리를 마이크로 블라스터를 이용해 식각함에 따라 형성되는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 DFR 층은, 상기 가열기 및 상기 센서가 형성될 자리의 마이크로 블라스터 식각 시에 상기 가열기 및 상기 센서 형성 자리를 벗어난 자리가 식각되는 것을 차단하는 보호막인 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 복수의 기판은, 센서가 형성되는 상부기판; 가열기가 형성되는 하부기판; 및 중합효소 연쇄반응을 수행하는 복수의 챔버가 형성되는 중간층을 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 챔버 칩
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 접합부는, 상기 상부기판, 상기 중간층 및 상기 하부기판을 상기 DFR을 이용한 폴리머 본딩을 통해 본딩시키는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 챔버 칩
9 9
제 7 항에 있어서, 상기 접합부는, 상기 중간층 및 상기 하부기판을 상기 DFR을 이용한 폴리머 본딩을 통해 본딩시키는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 챔버 칩
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 복수의 기판은, 중합효소 연쇄반응을 수행하는 챔버 및 상기 중합효소 연쇄반응을 위한 반응물질이 흐를 수 있는 제1 유체채널이 형성되는 상부기판; 나노유체를 통해 상기 챔버의 열을 차단하거나 발산시키는 제2 유체채널이 형성되는 하부기판; 및 가열기 및 센서가 형성되는 중간층을 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 제1 유체채널 및 상기 제2 유체채널은, 상기 제1 유체채널 및 상기 제2 유체채널을 형성하기 위한 마이크로 블라스터 식각 시에 DFR 층을 보호막으로 이용하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
12 12
제 1 항에 있어서, 상기 복수의 기판은, 가열기 및 센서가 형성되고, 중합효소 연쇄반응을 위한 반응물질이 흐를 수 있는 제1 유체채널이 형성되는 상부기판; 상기 가열기 및 상기 센서를 수용하고 상기 중합효소 연쇄반응을 수행하는 챔버가 형성되는 중간층; 및 상기 나노유체를 통해 상기 챔버의 열을 차단하거나 발산시키는 제2 유체채널이 형성되는 하부기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
13 13
제 12 항에 있어서, 상기 제1 유체채널 및 상기 제2 유체채널은, 상기 제1 유체채널 및 상기 제2 유체채널을 형성하기 위한 마이크로 블라스터 식각 시에 DFR 층을 보호막으로 이용하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩
14 14
제1 기판에 중합효소 연쇄반응을 수행하는 챔버를 형성하는 단계; 상기 제1 기판에 반응시료가 출입되는 입출구를 형성하는 단계; 제2 기판에 가열기 및 센서를 형성하는 단계; 및 드라이 필름 레지스트(DFR)를 이용하여 상기 기판들 사이를 본딩시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩 본딩 방법
15 15
제 14 항에 있어서, 상기 챔버를 형성하는 단계는, 상기 제1 기판의 제1 면에 제1 DFR 층을 2중으로 형성하는 단계; 상기 제1 면에 상기 챔버가 형성될 자리가 노출된 챔버용 패턴을 형성하는 단계; 상기 챔버가 형성될 자리를 마이크로 블라스터를 이용해 식각하는 단계; 및 상기 제1 DFR 층을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩 본딩 방법
16 16
제 14 항에 있어서, 상기 입출구를 형성하는 단계는, 상기 제1 기판의 제2 면에 제2 DFR 층을 형성하는 단계; 상기 제2 면에 입출구가 형성될 자리가 노출된 입출구용 패턴을 형성하는 단계; 상기 입출구가 형성될 자리를 마이크로 블라스터를 이용해 식각하는 단계; 및 상기 제2 DFR 층을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩 본딩 방법
17 17
제 14 항에 있어서, 상기 가열기 및 센서를 형성하는 단계는, 상기 제2 기판의 제1 면에 백금 및 티타늄을 증착하는 단계; 상기 제 1면에 제3 DFR 층을 형성하는 단계; 가열기 및 센서가 형성될 자리가 노출된 가열기 및 센서용 패턴을 형성하는 단계; 상기 가열기 및 센서가 형성될 자리를 마이크로 블라스터를 이용해 식각하는 단계; 상기 제3 DFR 층을 제거하고 상기 백금 및 티타늄을 식각하는 단계; 및 산화층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 중합효소 연쇄반응 칩 본딩 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.