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정규 저밀도 패리티 검사부호의 비트 반전 복호 알고리즘의 밀도 진화 방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2020016907
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 정규 저밀도 패리티 검사부호의 비트 반전 복호 알고리즘의 밀도 진화 방법 및 그 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 비트 반전 복호 알고리즘의 밀도 진화 방법은 저밀도 패리티 검사부호의 비트 반전 복호 알고리즘의 밀도 진화 방법에 있어서, 변수노드의 비트 값과 반전 함수값을 묶은 상태변수의 확률 분포를 계산하는 단계; 및 상기 상태변수의 확률 분포를 이용하여 각 반복에서의 비트 오류율을 예측하는 단계를 포함하며, 상기 비트 오류율을 예측하는 단계는 상기 상태변수의 확률 분포를 이용하여 상기 비트 반전 복호 알고리즘에서 주고 받는 메시지인 비트 값의 확률 분포를 예측하는 단계; 및 상기 예측된 비트 값의 확률 분포에 기초하여 상기 각 반복에서의 비트 오류율을 예측하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL H03M 13/11 (2006.01.01) H03M 13/37 (2006.01.01)
CPC H03M 13/1111(2013.01) H03M 13/3715(2013.01)
출원번호/일자 1020200039632 (2020.04.01)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-2186741-0000 (2020.11.30)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20201204) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.04.01)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 하정석 대전광역시 유성구
2 김명인 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.04.01 수리 (Accepted) 1-1-2020-0339688-14
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
3 [우선심사신청]심사청구서·우선심사신청서
2020.05.27 수리 (Accepted) 1-1-2020-0534423-18
4 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2020.05.28 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2020.06.04 수리 (Accepted) 9-1-2020-0022484-15
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
7 등록결정서
Decision to grant
2020.08.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0595192-65
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
저밀도 패리티 검사부호의 비트 반전 복호 알고리즘의 밀도 진화 방법에 있어서,변수노드의 비트 값과 반전 함수값을 묶은 상태변수의 확률 분포를 계산하는 단계; 및상기 상태변수의 확률 분포를 이용하여 각 반복에서의 비트 오류율을 예측하는 단계를 포함하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 비트 오류율을 예측하는 단계는상기 상태변수의 확률 분포를 이용하여 상기 비트 반전 복호 알고리즘에서 주고 받는 메시지인 비트 값의 확률 분포를 예측하는 단계; 및상기 예측된 비트 값의 확률 분포에 기초하여 상기 각 반복에서의 비트 오류율을 예측하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 상태변수의 확률 분포를 계산하는 단계는마코브 체인(Markov chain)을 이용하여 상기 상태변수의 확률 분포를 계산하는 것을 특징으로 하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 방법
4 4
제1항에 있어서,상기 상태변수의 확률 분포를 계산하는 단계는초기 상태변수의 확률 분포와 상기 상태변수의 전이 확률을 이용하여 상기 상태변수의 확률 분포를 계산하는 것을 특징으로 하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 상태변수의 전이 확률은상기 비트 반전 복호 알고리즘에서 주고 받는 메시지인 비트 값이 다음 반복에서 뒤집힐 확률, 변수노드의 비트 값이 다음 반복에서 뒤집히지 않은 경우 상기 변수노드와 연결된 검사노드 중 하나의 상태가 바뀔 확률과 상기 변수노드의 비트 값이 다음 반복에서 뒤집히는 경우 상기 변수노드와 연결된 검사노드 중 하나의 상태가 바뀌지 않을 확률에 기초하여 계산되는 것을 특징으로 하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 방법
6 6
저밀도 패리티 검사부호의 비트 반전 복호 알고리즘의 밀도 진화 장치에 있어서,변수노드의 비트 값과 반전 함수값을 묶은 상태변수의 확률 분포를 계산하는 계산부; 및상기 상태변수의 확률 분포를 이용하여 각 반복에서의 비트 오류율을 예측하는 예측부를 포함하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 장치
7 7
제6항에 있어서,상기 예측부는상기 상태변수의 확률 분포를 이용하여 상기 비트 반전 복호 알고리즘에서 주고 받는 메시지인 비트 값의 확률 분포를 예측하고, 상기 예측된 비트 값의 확률 분포에 기초하여 상기 각 반복에서의 비트 오류율을 예측하는 것을 특징으로 하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 장치
8 8
제6항에 있어서,상기 계산부는마코브 체인(Markov chain)을 이용하여 상기 상태변수의 확률 분포를 계산하는 것을 특징으로 하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 장치
9 9
제6항에 있어서,상기 계산부는초기 상태변수의 확률 분포와 상기 상태변수의 전이 확률을 이용하여 상기 상태변수의 확률 분포를 계산하는 것을 특징으로 하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 장치
10 10
제9항에 있어서,상기 상태변수의 전이 확률은상기 비트 반전 복호 알고리즘에서 주고 받는 메시지인 비트 값이 다음 반복에서 뒤집힐 확률, 변수노드의 비트 값이 다음 반복에서 뒤집히지 않은 경우 상기 변수노드와 연결된 검사노드 중 하나의 상태가 바뀔 확률과 상기 변수노드의 비트 값이 다음 반복에서 뒤집히는 경우 상기 변수노드와 연결된 검사노드 중 하나의 상태가 바뀌지 않을 확률에 기초하여 계산되는 것을 특징으로 하는 비트 반전 알고리즘의 밀도 진화 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부 한국과학기술원 이공분야기초연구사업 차세대 반도체 메모리 저장장치를 위한 기계학습 기반의 적응형 신호처리 및 오류정정 기술(2019)