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천공 기술을 활용하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호 생성 방법과 이를 이용하는 부호화 및 복호화 방법 및 저장 장치.

  • 기술번호 : KST2014047122
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 이진 대칭 채널에서 천공 기술에 의한 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호 설계 방법 및 이를 이용하는 부호화 및 복호화 방법을 공개한다. 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호 설계 방법 및 이를 이용하는 부호화 및 복호화 방법은 목표로 하는 부호화율보다 상대적으로 낮은 부호화율을 가진 리드 솔로몬 기반 저밀도 패리티 검사 부호를 설계하여 비트 노드의 최대차수를 높인 후에, 비정규 마스킹을 통해서 성능을 개선시키고, 천공 기술을 활용하여 해당 부호가 목표로 하는 부호화율을 달성하게 하여, 워드 오류율이 개선되며, 검사 노드의 차수를 감소시킬 수 있다.
Int. CL H03M 13/11 (2006.01)
CPC H03M 13/116(2013.01) H03M 13/116(2013.01) H03M 13/116(2013.01) H03M 13/116(2013.01) H03M 13/116(2013.01)
출원번호/일자 1020100122477 (2010.12.03)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1125100-0000 (2012.03.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20120321) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.03)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 하정석 대한민국 대전광역시 유성구
2 문재균 미국 대전광역시 유성구
3 김웅환 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김강욱 대한민국 전북 전주시 덕진구 틀못*길**, 은빛빌딩 ***호(장동)(특허법인다해(전라도분사무소))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.12.03 수리 (Accepted) 1-1-2010-0797327-22
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.08.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.09.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0073106-56
4 등록결정서
Decision to grant		 2012.02.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0121503-67
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호 생성 방법에 있어서,목표 부호화율보다 낮은 부화화율을 갖는 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하는 단계;상기 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 비트노드의 최대 차수를 제한하는 조건으로 채널에 대응하는 차수 분포를 산출하는 단계;상기 산출된 차수 분포에 대응하는 마스킹 행렬을 생성하는 단계;상기 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 상기 마스킹 행렬과 마스킹 연산하여 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하는 단계; 및상기 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호에 대해 천공기법을 적용하여 목표 부호화율을 갖는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하는 단계를 구비하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호 생성 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 차수 분포를 산출하는 단계는상기 채널의 용량에 대한 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 동작을 엑싯 차트로 분석하여 상기 차수 분포를 산출하는 것을 특징으로 하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호 생성 방법
3 3
제 2항에 있어서, 상기 채널은이진 대칭 채널인 것을 특징으로 하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호 생성 방법
4 4
제 2항에 있어서, 상기 마스킹 행렬은비정규 차수 분포를 갖는 비정규 마스킹 행렬인 것을 특징으로 하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호 생성 방법
5 5
제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 따른 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 생성 방법을 수행하기 위한 프로그램 명령어가 기록된, 컴퓨터가 판독가능한 기록매체
6 6
리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 및 복호화 방법에 있어서,목표 부호화율보다 낮은 부화화율을 갖는 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하는 단계;상기 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 비트노드의 최대 차수를 제한하는 조건으로 채널에 대응하는 차수 분포를 산출하는 단계;상기 산출된 차수 분포에 대응하는 마스킹 행렬을 생성하는 단계;상기 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 상기 마스킹 행렬과 마스킹 연산하여 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하는 단계;상기 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호에 대해 천공기법을 적용하여 목표 부호화율을 갖는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하는 단계; 및상기 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호에 천공 기법을 적용하여 부호화 및 복호화 동작을 수행하는 단계를 구비하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 및 복호화 방법
7 7
제 6항에 있어서, 상기 차수 분포를 산출하는 단계는상기 채널의 용량에 대한 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 동작을 엑싯 차트로 분석하여 상기 차수 분포를 산출하는 것을 특징으로 하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 및 복호화 방법
8 8
제 7항에 있어서, 상기 채널은이진 대칭 채널인 것을 특징으로 하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 및 복호화 방법
9 9
제 7항에 있어서, 상기 마스킹 행렬은비정규 차수 분포를 갖는 비정규 마스킹 행렬인 것을 특징으로 하는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 및 복호화 방법
10 10
제 6항 내지 제 9항 중 어느 한 항에 따른 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 방법을 수행하기 위한 프로그램 명령어가 기록된, 컴퓨터가 판독가능한 기록매체
11 11
제 6항 내지 제 9항 중 어느 한 항에 따른 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 부호화 및 복호화 방법에 따라 입력 데이터를 부호화하여 저장하고, 복호화하여 출력 데이터를 출력하는 저장 장치
12 12
복수개의 메모리 셀을 구비하여 데이터를 저장하는 메모리부;입력 데이터에 대해 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하고, 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호에 천공 기법을 적용하여 목표로하는 부호화율을 갖는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하여 상기 메모리부로 출력하는 부호화부; 및상기 메모리부에서 인가되는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호에 천공 기법을 적용하여 디코딩하여 출력 데이터를 출력하는 복호화부를 구비하고,상기 부호화부 및 복호화부는 각각목표 부호화율보다 낮은 부화화율을 갖는 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하고, 상기 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 비트노드의 최대 차수를 제한하는 조건으로 채널에 대응하는 차수 분포를 산출하고, 상기 산출된 차수 분포에 대응하는 마스킹 행렬을 생성하고, 상기 임시 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 상기 마스킹 행렬과 마스킹 연산하여 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하고, 상기 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호에 대해 천공기법을 적용하여 목표 부호화율을 갖는 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호를 생성하며, 상기 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호에 천공 기법을 적용하여 부호화 또는 복호화 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 저장 장치
13 13
제 12항에 있어서, 상기 차수 분포를 산출하는 단계는상기 채널의 용량에 대한 리드 솔로몬 기반 준순환 저밀도 패리티 검사 부호의 동작을 엑싯 차트로 분석하여 상기 차수 분포를 산출하는 것을 특징으로 하는 저장 장치
14 14
제 13항에 있어서, 상기 마스킹 행렬은비정규 차수 분포를 갖는 비정규 마스킹 행렬인 것을 특징으로 하는 저장 장치
15 15
제 12항에 있어서, 상기 부호화부 및 복호화부는상기 저장 장치 외부의 메모리 컨트롤러에 구비되는 것을 특징으로 하는 저장 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한양대학교 산업원천기술개발사업 대용량 MLC SSD 핵심기술 개발