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모재 기판 상면에 희생층을 형성하는 단계;상기 형성한 희생층 상면에 반도체 소자를 형성하는 단계;상기 형성한 반도체 소자 상면에 제1 접착층을 형성하는 단계;상기 제1 접착층 상면에 지지 기판을 형성하는 단계;상기 모재 기판으로 레이저를 조사하여 레이저 리프트 오프 공정을 통해 상기 모재 기판과 상기 희생층의 계면을 분리하는 단계; 및상기 모재 기판을 제거하여 상기 모재 기판 위에 형성된 반도체 소자를 상기 지지 기판으로 전사하는 단계;플렉서블 기판 상면에 제2 접착층을 형성하는 단계;상기 지지 기판으로 전사된 상기 반도체 소자의 하면을 상기 제2 접착층에 접착시키는 단계; 및상기 지지 기판을 제거하여 상기 반도체 소자를 플렉서블 기판으로 전사하는 단계를 포함하며,상기 희생층은 Ga-O-N 계열이며, 상기 희생층을 형성시 반응성 H2 가스를 유입시켜 GaON:H 조합의 희생층을 형성하며,상기 제1 접착층은 상기 제2 접착층의 접착력보다 작은 접착력을 가지도록 상기 지지 기판에 패터닝 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 플렉서블 반도체 소자의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 모재 기판은사파이어 기판 또는 쿼츠 기판 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 플렉서블 반도체 소자의 제조 방법
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제 2 항에 있어서, 상기 반도체 소자는활성 채널로 InGaZnO, InZnO, 금속도핑된 InZnO, ZnSnO, 금속도핑된 ZnSnO, ZnO, SnO, InO, AlSnZnO, TiO, 5족 전이 금속도핑된 TiO을 사용하는 산화물 TFT 반도체 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 플렉서블 반도체 소자의 제조 방법
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제 3 항에 있어서, 상기 지지 기판은 폴리에틸렌나프탈레이트(PEN), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리카보네이트(PC), 폴리에틸렌술폰(PES), 투명형 폴리이미드(PI), 폴리아릴레이트(PAR), 폴리싸이클릭올레핀(PCO), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 가교형 에폭시(crosslinking type epoxy), 가교형 우레탄 필름(crosslinking type urethane) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 플렉서블 반도체 소자의 제조 방법
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제 4 항에 있어서, 상기 희생층은Ga2O3 타겟을 질소 분위기에서 상기 사파이어 기판 또는 상기 쿼츠 기판 상면에 스퍼터링 공정으로 형성하는 것을 특징으로 하는 플렉서블 반도체 소자의 제조 방법
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제 3 항에 있어서, 상기 플렉서블 기판은폴리에틸렌나프탈레이트(PEN), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리카보네이트(PC), 폴리에틸렌술폰(PES), 투명형 폴리이미드(PI), 폴리아릴레이트(PAR), 폴리싸이클릭올레핀(PCO), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 가교형 에폭시(crosslinking type epoxy), 가교형 우레탄 필름(crosslinking type urethane) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 플렉서블 반도체 소자의 제조 방법
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