1 |
1
제1 단자;상기 제1 단자와 대향 배치된 제2 단자;상기 제1 단자 및 상기 제2 단자 사이를 연결하는 와이어부;상기 와이어부와 일정거리 이격 배치되어, 상기 와이어부를 역학적으로 공진시키는 제3 단자; 및,상기 와이어부 상에 형성되며, 네거티브 저항 성분을 제공하는 포텐셜 배리어부;를 포함하는 공진 구조체
|
2 |
2
제1항에 있어서,상기 포텐셜 배리어부는,상기 와이어부 상에서 서로 이격되어 배치되는 복수 개의 포텐셜 배리어를 포함하는 것을 특징으로 하는 공진 구조체
|
3 |
3
제1항에 있어서,상기 와이어부는,원형 또는 다각형 단면을 이루는 나노 와이어인 것을 특징으로 하는 공진 구조체
|
4 |
4
제1항에 있어서,상기 와이어부는 Si로 이루어지며,상기 포텐셜 배리어부는 SiGe로 이루어지는 복수의 포텐셜 배리어(potential barrier) 및 상기 복수의 포텐셜 배리어 사이에 위치하는 웰(well) 영역을 포함하는 것을 특징으로 하는 공진 구조체
|
5 |
5
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 와이어부 주변에 자기장을 생성하는 자계 생성부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 공진 구조체
|
6 |
6
제5항에 있어서,상기 와이어부 상의 일 영역에 형성되며, 상기 자기장에 반응하여 상기 와이어부를 변위시키는 자성체;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 공진 구조체
|
7 |
7
드레인 부;상기 드레인부와 대향 배치된 소스 부;상기 드레인부 및 상기 소스부 사이를 연결하는 와이어부;상기 와이어부와 일정 거리 이격 배치되며, 상기 와이어부를 역학적으로 공진시켜 상기 드레인부 및 상기 소스부 사이에서 공진 터널링을 발생시키는 게이트부; 및,상기 공진 터널링 발생 시에 네거티브 저항 성분을 제공하여, 상기 드레인부 및 상기 소스부 사이에 흐르는 전류의 크기를 증대시키는 포텐셜 배리어부;를 포함하는 공진 터널링 트랜지스터
|
8 |
8
제7항에 있어서,상기 와이어부는 Si로 이루어지며,상기 포텐셜 배리어부는 SiGe로 이루어지는 복수의 포텐셜 배리어 및 상기 복수의 포텐셜 배리어 사이에 위치하는 웰 영역을 포함하는 것을 특징으로 하는 공진 터널링 트랜지스터
|
9 |
9
제7항 또는 제8항에 있어서,상기 와이어부 주변에 자기장을 생성하는 자계 생성부; 및,상기 와이어부 상의 일 영역에 형성되며, 상기 자기장에 반응하여 상기 와이어부를 변위시키는 자성체;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 공진 터널링 트랜지스터
|
10 |
10
순차적으로 적층된 복수 개의 반도체 층의 일 표면을 도핑하여, 복수 개의 포텐셜 배리어를 형성하는 단계;상기 일 표면 상의 타 영역을 도핑하여, 상기 복수 개의 포텐셜 배리어가 형성된 영역을 사이에 두고 서로 대향 배치되는 제1단자 및 제2단자를 형성하는 단계;상기 복수의 단자가 형성되지 않은 영역을 패터닝하여, 상기 복수 개의 포텐셜 배리어를 포함하는 와이어부를 상기 제1단자 및 상기 제2단자 사이에 형성하는 단계; 및,상기 와이어부 하측의 반도체층을 식각하여, 상기 와이어부가 역학적으로 공진가능한 공간을 확보하는 단계; 및,상기 와이어부와 일정 거리에 이격된 제3 단자를 형성하는 단계; 를 포함하는 공진 구조체 제조 방법
|
11 |
11
삭제
|
12 |
12
제10항에 있어서,상기 와이어부의 일 측에 자계 생성부를 배치하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 공진 구조체 제조 방법
|
13 |
13
제12항에 있어서,상기 와이어부의 일 영역에 자성체를 코팅하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 공진 구조체 제조 방법
|