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디스플레이 패널의 특성 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015052465
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요약 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 특성 측정 장치는 디스플레이 패널의 구동 전압/전류에 따른 발광량을 정확하게 측정할 수 있으므로 소비전력 및 정밀한 수명 분석이 가능하다. 또한, 디스플레이 패널의 밝기를 특성 측정에 적합한 밝기로 적절하게 유지할 수 있으므로, 화소의 발광상태까지도 확인할 수 있어 발광 셀의 결함을 정확하게 검출할 수 있다. 게다가, 디스플레이 패널의 특성 측정시에 발생하는 과전압/과전류 및 정전기로부터 디스플레이 패널이 손상되는 것을 방지할 수 있다.
Int. CL G01J 1/42 (2006.01) G09G 3/20 (2006.01)
CPC G09G 3/22(2013.01) G09G 3/22(2013.01)
출원번호/일자 1020080054773 (2008.06.11)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0928700-0000 (2009.11.19)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20091127) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.06.11)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정승묵 대한민국 경기 수원시 영통구
2 이정익 대한민국 경기 성남시 분당구
3 황치선 대한민국 대전 유성구
4 추혜용 대한민국 대전 유성구
5 양용석 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 정신 경기도 부천시 오정구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.06.11 수리 (Accepted) 1-1-2008-0417362-50
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.05.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.06.18 수리 (Accepted) 9-1-2009-0037822-36
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0274977-34
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.08.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0513039-82
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.08.21 수리 (Accepted) 1-1-2009-0513018-23
8 등록결정서
Decision to grant
2009.11.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0472688-33
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
디스플레이 패널의 특성 측정시 측정 조건을 일정하게 유지하는 챔버와, 디스플레이 패널의 양단에 각각 연결되며 다수의 스위치 또는 릴레이로 구성되는 제1, 2 스위칭부와, 정전압/정전류 범위 내에서 특성 측정에 필요한 전압/전류 레벨을 결정하는 정전압/정전류 유지부와, 상기 결정된 전압/전류 레벨에 따라 바이어스 전압/전류를 생성하여 상기 제1 스위칭부를 통해 디스플레이 패널에 인가하는 바이어스 공급부와, 상기 제2 스위칭부에 연결되어 디스플레이 패널의 구동 전압/전류를 측정하는 바이어스 측정부와, 하나 이상의 카메라와 포토 다이오드를 이용하여 디스플레이 패널의 발광특성을 측정하는 광계측부와, 상기 광계측부에 과전류가 흐르는 것을 검출하는 과전류 검출부와, 디스플레이 패널의 특성 측정을 위한 제어신호를 상기 챔버, 상기 제1, 2 스위칭부, 상기 정전압/정전류 유지부, 상기 바이어스 측정부 및 상기 광계측부로 출력하는 제어부를 포함하되, 상기 제어부는, 상기 광계측부를 통해 측정된 디스플레이 패널의 발광량이 소정 임계치 이상인 경우, 상기 정전압/정전류 유지부를 통해 측정에 필요한 전압/전류 레벨을 조절하며, 상기 과전류 검출부를 통해 상기 광계측부에 과전류가 흐르는 것이 검출된 경우, 상기 제1 스위칭부를 통해 디스플레이 패널의 발광 셀에 바이어스 전압/전류를 선택적으로 인가하고, 과전류 검출시 상기 광계측부를 통해 측정된 디스플레이 패널의 발광특성이 측정 결과에 포함되지 않도록 하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 특성 측정 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 바이어스 측정부를 통해 측정된 디스플레이 패널의 구동 전압/전류가 소정 임계치 이상인 경우, 상기 제1 스위칭부는 상기 제어부로부터의 제어신호에 따라 디스플레이 패널의 발광 셀에 바이어스 전압/전류를 선택적으로 인가하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 특성 측정 장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 챔버 내에 디스플레이 패널이 배치될 때, 상기 제1, 2 스위칭부는 상기 제어부로부터의 제어신호에 따라 오프되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 특성 측정 장치
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삭제
5 5
삭제
6 6
제 1항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 바이어스 측정부를 통해 측정된 디스플레이 패널의 구동 전압/전류값과 상기 광계측부를 통해 측정된 디스플레이 패널의 발광특성을 파라미터로 이용하여 디스플레이 패널의 특성을 분석하는 데이터 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 특성 측정 장치
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제 6항에 있어서, 상기 데이터 처리부는, 상기 디스플레이 패널의 구동 전압/전류값에 따른 발광량을 이용하여 디스플레이 패널의 수명 특성을 분석하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 특성 측정 장치
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제 6항에 있어서, 상기 데이터 처리부는, 상기 광계측부를 통해 측정된 디스플레이 패널의 소정 발광 셀의 휘도가 제1 휘도 임계치보다 낮은 경우 오프 결함으로 판단하고, 제2 휘도 임계치보다 높은 경우 하이 결함으로 판단하며, 상기 오프 결함 또는 상기 하이 결함이 가로 혹은 세로로 소정 개수 이상인 경우 라인 결함으로 판단하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 특성 측정 장치
9 9
삭제
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