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전계효과 트랜지스터의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015077851
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 질화물 반도체 전계효과 트랜지스터(Field Effect Transistor)의 제조 방법에 관한 것으로, 기판 상에 상이한 밴드갭을 갖는 제 1 반도체층 및 제 2 반도체층을 형성한 후 상기 제 2 반도체층을 메사 구조로 패터닝하는 단계와, 소스 및 드레인이 형성될 부분의 상기 제 2 반도체층이 노출되도록 제 1 레지스트 패턴을 형성하는 단계와, 전체 상부면에 금속을 증착한 후 리프트 오프 공정을 실시하여 금속으로 이루어진 소스 및 드레인을 형성하는 단계와, 상기 소스 및 드레인과 상기 제 2 반도체층의 오믹 콘택을 위하여 열처리하는 단계와, 상기 소스 및 드레인을 포함하는 전체 상부면에 절연막을 형성한 후 게이트가 형성될 부분의 상기 절연막이 노출되도록 제 2 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와, 게이트가 형성될 부분의 상기 제 2 반도체층이 노출되도록 상기 절연막을 제거하는 단계와, 저온 진공 증착을 위해 상기 기판의 온도를 감소시킨 상태에서 전체 상부면에 금속을 증착하고 리프트-오프 공정 및 상기 절연막 제거 공정을 실시하여 금속으로 이루어진 게이트를 형성하는 단계를 포함한다. 질화물 반도체, 오믹 콘택, 쇼트키 콘택, 저온 진공 증착, 액체 질소
Int. CL H01L 29/778 (2006.01) H01L 29/78 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020030097272 (2003.12.26)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0517822-0000 (2005.09.22)
공개번호/일자 10-2005-0066068 (2005.06.30) 문서열기
공고번호/일자 (20050930) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.12.26)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박미란 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2003-0497063-84
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.08.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.09.15 수리 (Accepted) 9-1-2005-0058900-98
4 등록결정서
Decision to grant
2005.09.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0462793-02
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
기판 상에 상이한 밴드갭을 갖는 제 1 반도체층 및 제 2 반도체층을 형성한 후 상기 제 2 반도체층을 메사 구조로 패터닝하는 단계와, 소스 및 드레인이 형성될 부분의 상기 제 2 반도체층이 노출되도록 제 1 레지스트 패턴을 형성하는 단계와, 전체 상부면에 금속을 증착한 후 리프트 오프 공정을 실시하여 금속으로 이루어진 소스 및 드레인을 형성하는 단계와, 상기 소스 및 드레인과 상기 제 2 반도체층의 오믹 콘택을 위하여 열처리하는 단계와, 상기 소스 및 드레인을 포함하는 전체 상부면에 절연막을 형성한 후 게이트가 형성될 부분의 상기 절연막이 노출되도록 제 2 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와, 상기 노출된 부분의 상기 절연막을 식각하여 상기 게이트가 형성될 부분의 상기 제 2 반도체층을 노출시키는 단계와, 저온 진공 증착을 위해 상기 기판의 온도를 감소시킨 상태에서 전체 상부면에 금속을 증착하고 리프트-오프 공정 및 절연막 제거 공정을 실시하여 금속으로 이루어진 게이트를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전계효과 트랜지스터의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 게이트 형성을 위한 금속은 전자빔 또는 열진공 증착기로 증착하는 것을 특징으로 하는 전계효과 트랜지스터의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 오믹 콘택을 위한 열처리는 300 내지 900℃의 온도 범위 에서 실시하는 것을 특징으로 하는 전계효과 트랜지스터의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 저온 증착법을 이용하기 위하여 상기 절연막을 SiNx , SiO2 또는 Al2O3 으로 형성하는 것을 특징으로 하는 전계효과 트랜지스터의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 기판의 온도를 감소시키기 위해 액체 질소를 사용하는 것을 특징으로 하는 전계효과 트랜지스터의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 기판의 온도가 77K 내지 100K 까지 감소된 상태에서 상기 금속을 증착하는 것을 특징으로 하는 전계효과 트랜지스터의 제조 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 저온 진공 증착은 상기 기판을 진공 증착기의 챔버 내부로 로드하여 기판홀더에 장착하는 단계와, 상기 챔버 내부로 액체 질소를 흘려주며 상기 기판의 온도를 감소시키는 단계와, 진공 상태에서 상기 기판 상에 금속을 증착하는 단계와, 상기 기판홀더에 직류전력을 인가하여 상기 기판의 온도를 상온으로 만드는 단계와, 상기 기판을 상기 챔버 외부로 언로드하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전계효과 트랜지스터의 제조 방법
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제 7 항에 있어서, 상기 챔버에 저온 증착을 위하여 저온장치가 구비된 것을 특징으로 하는 전계효과 트랜지스터의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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