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실리콘 나노와이어를 이용한 애벌런치 포토다이오드 및 그를 이용한 실리콘 나노와이어 광증배관(AVALANCHE PHOTODIODE USING SILICON NANOWIRE AND SILICON NANOWIRE PHOTOMULTIPLIER USING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2017011062
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 실리콘(Si)으로 형성되는 제1 실리콘 나노와이어, 상기 제1 실리콘 나노와이어의 일면에, 제1 도펀트가 도핑되어 형성되는 제1 도전성 영역, 및 상기 제1 실리콘 나노와이어의 일면에, 상기 제1 도전성 영역으로부터 길이방향으로 연속하도록, 상기 제1 도펀트와 상이한 도전형을 갖는 제2 도펀트가 도핑되어 형성되는 제2 도전성 영역을 포함하며, 상기 제1 실리콘 나노와이어는 양단에 인가되는 역전압의 크기가 기설정된 항복전압 이상인 경우, 외부로부터의 광 입사에 의한 내부전류의 애벌런치 증배가 발생하는 발생하는 실리콘 나노와이어를 이용한 애벌런치 포토다이오드를 제공한다.
Int. CL H01L 31/107 (2016.02.13) H01L 31/02 (2016.02.13) H01L 31/0392 (2016.02.13) H01L 31/18 (2016.02.13)
CPC H01L 31/107(2013.01) H01L 31/107(2013.01) H01L 31/107(2013.01) H01L 31/107(2013.01) H01L 31/107(2013.01)
출원번호/일자 1020150188463 (2015.12.29)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0078187 (2017.07.07) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.12.29)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정석원 대한민국 경기도 오산
2 최연식 대한민국 서울특별시 서초구
3 조영창 대한민국 경기도 용인시 수지구
4 손재기 대한민국 경기도 용인시 수지구
5 전기만 대한민국 경기도 성남시 분당구
6 성우경 대한민국 경기도 성남시 분당구
7 이국녕 대한민국 서울특별시 성북구
8 이민호 대한민국 서울특별시 영등포구
9 홍혁기 대한민국 경기도 의정부시 신곡로 **

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 청운특허법인 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로 ***, *층 (서초동, 장생빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2015-1282214-44
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2015-1291636-19
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.06.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.08.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0150211-61
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0729905-84
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.12.08 수리 (Accepted) 1-1-2017-1225328-49
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.12.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1225329-95
8 등록결정서
Decision to grant
2017.12.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0908576-54
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
실리콘 재질의 기판;제1 실리콘 나노와이어로 형성되며, 외부 광 입사에 의해 애벌런치 증배가 발생하도록 제1 도전성 영역 및 제2 도전성 영역이 상기 실리콘 나노와이어 상에 길이방향으로 연속되어 형성되는 적어도 하나 이상의 애벌런치 포토다이오드;상기 애벌런치 포토다이오드와 전기적으로 직렬로 연결되며, 제2 실리콘 나노와이어로 형성되고, P형 또는 N형 도펀트 중 하나가 도핑된 적어도 하나 이상의 퀀칭저항;상기 애벌런치 포토다이오드 및 퀀칭저항을 보호 및 절연하는 투명한 재질의 제1 유전체;상기 제1 유전체 상에 형성되며, 상기 애벌런치 포토다이오드 및 퀀칭저항을 전기적으로 연결하는 전극; 및상기 애벌런치 포토다이오드 또는 퀀칭저항과 전극 사이에 형성되어, 전기적 접촉성을 향상시키는 실리사이드층을 포함하는, 실리콘 나노와이어 광증배관
2 2
청구항 1에 있어서,상기 제1 실리콘 나노와이어 및 제2 실리콘 나노와이어는 상기 기판의 일부를 이용하여 형성되며, 상기 기판에 형성되는 모래시계 형상의 실리콘 나노와이어 구조물에 의하여 지지되는, 실리콘 나노와이어 광증배관
3 3
청구항 1에 있어서,상기 퀀칭저항 상부에 형성된 제1 유전체층 상에 형성되며, 외부에서 입사하는 광을 차단하도록 불투명한 재질로 형성되는 차광막을 더 포함하는, 실리콘 나노와이어 광증배관
4 4
청구항 1에 있어서,상기 제2 실리콘 나노와이어는상기 제1 실리콘 나노와이어의 길이방향으로 일정간격 이격되어 형성되며, 상기 P형 또는 N형 도펀트가 저농도로 도핑되어 저항으로 동작하는 저항영역과 상기 P형 또는 N형 도펀트가 고농도로 도핑되어 상기 실리사이드층과 전극이 형성되는 전극영역을 갖는, 실리콘 나노와이어 광증배관
5 5
청구항 4에 있어서,상기 전극은 제1 전극, 제2 전극, 제3 전극을 포함하며,상기 제1 전극은 상기 적어도 하나 이상의 애벌런치 포토다이오드의 일단을 병렬로 연결하고,상기 제2 전극은 상기 적어도 하나 이상의 애벌런치 포토다이오드의 타단과 상기 적어도 하나 이상의 퀀칭저항의 일단을 각각 직렬로 연결하며,상기 제3 전극은 상기 적어도 하나 이상의 퀀칭저항의 타단을 병렬로 연결하는, 실리콘 나노와이어 광증배관
6 6
청구항 1에 있어서,상기 실리사이드층은상기 애벌런치 포토다이오드의 양단에 고농도로 도핑된 영역 상에 형성되며, 열처리를 통해 금속과 실리콘의 결합으로 형성되는 것인, 실리콘 나노와이어 광증배관
7 7
청구항 1에 있어서,상기 제2 실리콘 나노와이어는상기 제1 실리콘 나노와이어의 길이방향으로 연속하여 일체로 형성되며, 상기 P형 또는 N형 도펀트가 저농도로 도핑되어 저항으로 동작하는 저항영역과 상기 P형 또는 N형 도펀트가 고농도로 도핑되어 상기 실리사이드층과 전극이 형성되는 전극영역을 갖는, 실리콘 나노와이어 광증배관
8 8
청구항 7에 있어서,상기 전극은상기 적어도 하나 이상의 애벌런치 포토다이오드와 일체로 형성된 상기 적어도 하나 이상의 애벌런치 포토다이오드를 병렬로 연결하는, 실리콘 나노와이어 광증배관
9 9
청구항 2에 있어서, 상기 제1 실리콘 나노와이어 와 상기 제2 실리콘 나노와이어는 일정한 범위의 내각(θ)을 갖는 실리콘 나노와이어 구조물의 상부영역에 형성되며, 상기 실리콘 나노와이어의 선폭(a)은 하기의 [수학식 1]에 따라 결정되는, 실리콘 나노와이어 광증배관
10 10
삭제
11 11
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12 12
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13 13
(A) 실리콘 재질의 기판을 식각하여 적어도 하나 이상의 칼럼구조물을 형성하고, 상기 칼럼구조물을 식각하여 제1 실리콘 나노와이어 구조물을 형성하는 단계;(B) 상기 제1 실리콘 나노와이어 구조물의 표면에 산화막을 형성시켜, 상기 제1 실리콘 나노와이어 구조물의 상단영역에 상기 기판과 절연되는 제1 실리콘 나노와이어를 형성하는 단계;(C) 상기 제1 실리콘 나노와이어에 상호 상이한 도펀트를 도핑하여, 상기 제1 실리콘 나노와이어의 길이방향으로 연속하는 제1 도전성 영역 및 제2 도전성 영역을 형성하는 단계;(D) 상기 제1 실리콘 나노와이어의 P+형 반도체 영역 및 N+형 반도체 영역 상에 금속을 증착하고 열처리를 하여 실리사이드층을 형성하는 단계; 및(E) 상기 기판과 절연되며 상기 실리사이드층에 연결되는 전극을 형성하는 단계를 포함하는, 실리콘 나노와이어 애벌런치 포토다이오드의 제조방법
14 14
청구항 13에 있어서,상기 단계(A)는(A1) 기판에 실리콘 산화막과 실리콘 질화막을 순차적으로 적층하고, 기판을 일정 깊이로 건식 식각하여 상기 적어도 하나 이상의 칼럼구조물을 형성하는 단계; 및(A2) 상기 칼럼구조물의 측면을 습식 식각하여, 제1 실리콘 나노와이어 구조물을 형성하는 단계;를 포함하는 실리콘 나노와이어 애벌런치 포토다이오드의 제조방법
15 15
청구항 13에 있어서,상기 단계(C)는(C1) 상기 제1 실리콘 나노와이어의 일측 영역에 제1 도펀트를 도핑하여 제1 영역을 형성하는 단계;(C2) 상기 제1 영역의 일측 영역에 상기 제1 도펀트와 도전형이 상이한 제2 도펀트를 도핑하여 제2 영역을 형성하는 단계;(C3) 상기 제2 영역의 일측 영역에 제2 도펀트를 도핑하여 N+형 반도체 영역을 형성하는 단계;(C4) 상기 제1 실리콘 나노와이어의 타측 영역의 일정영역에 제1 도펀트를 도핑하여 P+형 반도체 영역을 형성함으로써, 실리콘 나노와이어를 이용한 애벌런치 포토다이오드 어레이를 형성하는 단계;를 포함하는 실리콘 나노와이어 애벌런치 포토다이오드의 제조방법
16 16
삭제
17 17
청구항 13에 있어서,상기 단계(D)는(D1) 애벌런치 포토다이오드 어레이에 산화막을 형성하고 패터닝 및 식각하여 P+형 반도체 영역 및 N+형 반도체 영역 상의 산화막을 제거하는 단계;(D2) 상기 애벌런치 포토다이오드 어레이에 금속층을 증착하고 제1 온도로 가열하여 P+형 반도체 영역 및 N+형 반도체 영역 상에 제1 실리사이드층을 형성하는 단계; 및(D3) 상기 금속층을 제거하고 제2 온도로 가열하여 제1 실리사이드층을 제2 실리사이드층으로 형성하는 단계를 포함하는 실리콘 나노와이어 애벌런치 포토다이오드의 제조방법
18 18
청구항 17에 있어서,상기 단계(E)는(E1) 상기 애벌런치 포토다이오드 어레이에 제1 유전체를 증착하고 패터닝 및 식각하여 제2 실리사이드층이 드러나도록 콘택트홀을 형성하는 단계;(E2) 상기 애벌런치 포토다이오드 어레이에 금속을 증착하고 패터닝하여 제2 실리사이드층에 연결되는 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 실리콘 나노와이어 애벌런치 포토다이오드의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
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1 US09960299 US 미국 FAMILY
2 US20170186895 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2017186895 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9960299 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.