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비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 및 그 제조방법(STACKING-TYPE Ⅲ-Ⅴ SEMICONDUCTOR DEVICE USING AMORPHOUS INSULATOR MANUFACTURING METHOD THEREOF)

  • 기술번호 : KST2018002460
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 실시예들은 기판 상에 제1 3-5족 화합물 반도체층을 형성하는 단계, 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층 상에 제1 금속 배선을 형성하는 단계 및 상기 제1 금속 배선 및 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층을 덮도록 제1 비정질 절연층을 형성하는 단계를 포함하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법 및 이를 이용해 제조된 3-5족 반도체 소자에 관한 것이다.
Int. CL H01L 21/8238 (2016.09.27) H01L 29/205 (2016.09.27) H01L 29/778 (2016.09.27) H01L 27/092 (2016.09.27) H01L 21/8252 (2016.09.27) H01L 21/324 (2016.09.27) H01L 29/78 (2016.09.27)
CPC H01L 21/8238(2013.01) H01L 21/8238(2013.01) H01L 21/8238(2013.01) H01L 21/8238(2013.01) H01L 21/8238(2013.01) H01L 21/8238(2013.01) H01L 21/8238(2013.01)
출원번호/일자 1020160109471 (2016.08.26)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0023700 (2018.03.07) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.08.26)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 주현수 대한민국 서울특별시 성북구
2 송진동 대한민국 서울특별시 성북구
3 이교섭 대한민국 서울특별시 성북구
4 장준연 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.08.26 수리 (Accepted) 1-1-2016-0834609-23
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.07.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.09.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0137040-00
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.09.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0648060-86
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.11.10 수리 (Accepted) 1-1-2017-1116547-18
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.11.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1116548-53
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.03.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0206782-11
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.05.16 수리 (Accepted) 1-1-2018-0483247-34
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.05.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0483246-99
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0663583-84
11 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2018.10.30 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2018-1071932-28
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2018-1071931-83
13 등록결정서
Decision to Grant Registration
2018.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0808014-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 제1 3-5족 화합물 반도체층을 형성하는 단계;상기 제1 3-5족 화합물 반도체층 상에 제1 금속 배선을 형성하는 단계; 및상기 제1 금속 배선 및 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층을 모두 덮도록 제1 비정질 절연층을 형성하는 단계; 상기 제1 비정질 절연층 상에 접착층을 직접적으로 형성하는 단계;상기 접착층 상에 버퍼층을 형성하는 단계; 및상기 버퍼층 상에 제2 3-5족 화합물 반도체층을 형성하는 단계를 포함하고,상기 접착층은 3-5족 화합물을 포함하고,상기 버퍼층은 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층보다 밴드갭이 더 큰 물질을 포함하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 기판 상에 제1 3-5족 화합물 반도체층을 형성하는 단계는,상기 기판 상에 제1 접착층을 형성하는 단계; 상기 접착층 상에 제1 버퍼층을 형성하는 단계; 및상기 제1 버퍼층 상에 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법
4 4
제3항에 있어서,상기 기판 상에 제1 3-5족 화합물 반도체층을 형성하는 단계는,상기 제1 3-5족 화합물 반도체층을 패터닝하여 하나 이상의 반도체 소자를 구성하는 단계를 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법
5 5
제3항에 있어서,상기 제1 3-5족 화합물 반도체층 및 상기 제2 3-5족 화합물 반도체층은 메모리 소자, 비메모리 소자 또는 이들의 조합을 구성하는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법
6 6
제1항에 있어서,상기 제2 3-5족 화합물 반도체층 상에 제2 금속 배선을 형성하는 단계; 및상기 제2 금속 배선 및 상기 제2 3-5족 화합물 반도체층을 덮도록 제2 비정질 절연층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법
7 7
제6항에 있어서,상기 제1 또는 제2 비정질 절연층은 유리를 포함하는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법
8 8
제3항에 있어서,상기 제1 접착층은 3-5족 화합물인 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법
9 9
제1항에 있어서,3-5족 화합물 반도체층이 적층되도록, 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층을 형성하는 단계 내지 제1 비정질 절연층을 형성하는 단계를 소정 횟수 반복하는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자 제조방법
10 10
기판 상에 형성된 제1 3-5족 화합물 반도체층;상기 제1 3-5족 화합물 반도체층 상에 형성된 제1 금속배선; 상기 제1 금속배선 및 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층을 모두 덮도록 형성된 제1 비정질 절연층;상기 제1 비정질 절연층 상에 직접적으로 형성된 접착층;상기 접착층 상에 형성된 버퍼층; 및상기 버퍼층 상에 형성된 제2 3-5족 화합물 반도체층을 포함하며,상기 접착층은 3-5족 화합물을 포함하고,상기 버퍼층은 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층보다 밴드갭이 더 큰 물질을 포함하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자
11 11
삭제
12 12
제10항에 있어서,제1 접착층 및 제1 버퍼층을 더 포함하되, 상기 접착층 및 상기 버퍼층은 순차적으로 상기 기판과 상기 제1 3-5족 화합물 반도체층 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자
13 13
제12항에 있어서,상기 제1 3-5족 화합물 반도체층 및 상기 제2 3-5족 화합물 반도체층은 메모리 소자, 비메모리 소자 또는 이들의 조합을 구성하는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자
14 14
제10항에 있어서,상기 제2 3-5족 화합물 반도체층 상에 형성된 제2 금속배선; 및상기 제2 금속배선 및 상기 제2 3-5족 화합물 반도체층을 덮도록 형성된 제2 비정질 절연층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자
15 15
제14항에 있어서,상기 제1 또는 제2 비정질 절연층은 유리를 포함하는 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자
16 16
제12항에 있어서,상기 제1 접착층은 3-5족 화합물인 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자
17 17
제10항에 있어서,상기 제1 3-5족 화합물 반도체층, 상기 제1 금속배선 및 상기 제1 비정질 절연층이 반복적으로 적층되고, 각 적층 단위마다 3-5족 화합물 반도체층의 구조는 상이하거나 동일한 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자
18 18
제10항에 있어서,상기 제1 3-5족 화합물 반도체층은,하나 이상의 반도체 소자로 구성된 것을 특징으로 하는 비정질 절연층을 이용한 적층형 3-5족 반도체 소자
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.