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3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법 및 그 센서와 센서 어레이

  • 기술번호 : KST2019002061
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법 및 그 센서와 센서 어레이 에 관한 것으로서, 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법은 실리콘 기판 위에 절연층을 형성하는 단계, 상기 절연층 위에 실리콘층을 형성하고, 상기 실리콘 층을 식각하여 3차원 구조 실리콘 핀을 형성하는 단계, 상기 실리콘 핀의 일단에 소스 영역과 소스 전극을 형성하고, 다른 일단에 드레인 영역과 드레인 전극을 형성하되, 중앙부는 게이트 영역으로 형성하는 단계, 상기 게이트 3면을 게이트 절연층으로 둘러싸는 단계, 상기 게이트 절연층의 일부를 둘러싸는 감지 게이트 층을 형성하는 단계 및, 상기 감지 게이트 층을 제외한 상부가 밀봉되는 단계를 포함한다.
Int. CL H01L 29/66 (2006.01.01) H01L 29/78 (2006.01.01) H01L 29/423 (2006.01.01)
CPC H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01)
출원번호/일자 1020170113361 (2017.09.05)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-1958928-0000 (2019.03.11)
공개번호/일자 10-2019-0026439 (2019.03.13) 문서열기
공고번호/일자 (20190315) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.09.05)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전영인 대한민국 서울특별시 성북구
2 변영태 대한민국 서울특별시 성북구
3 김용태 대한민국 서울특별시 성북구
4 전영민 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 티앤아이 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, A동 ****호(문정동, 엠스테이트)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.09.05 수리 (Accepted) 1-1-2017-0861885-75
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.10.24 수리 (Accepted) 1-1-2017-1050681-92
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.01.25 수리 (Accepted) 9-1-2018-0003630-47
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.10.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0712535-31
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.12.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-1269785-45
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.12.18 수리 (Accepted) 1-1-2018-1269784-00
8 등록결정서
Decision to grant
2019.03.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0167782-07
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번호 청구항
1 1
실리콘 기판 위에 절연층을 형성하는 단계;상기 절연층 위에 실리콘층을 형성하고, 상기 실리콘 층을 식각하여 3차원 구조 실리콘 핀을 형성하는 단계;상기 실리콘 핀의 일단에 소스 영역과 소스 전극을 형성하고, 다른 일단에 드레인 영역과 드레인 전극을 형성하되, 중앙부는 게이트 영역으로 형성하는 단계;상기 게이트 영역의 3면을 게이트 절연층으로 둘러싸는 단계;상기 게이트 절연층의 드레인 또는 소스 쪽 일부를 둘러싸는 감지 게이트층을 형성하는 단계 및;상기 감지 게이트층을 제외한 상부가 밀봉되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법
2 2
제1항에 있어서,상기 3차원 구조 실리콘 핀은 높이가 20 나노미터에서 1 마이크로미터, 폭이 10 나노미터에서 500 나노미터인 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 소스 영역에는 P형의 불순물을 주입하고, 상기 드레인 영역에는 N형의 불순물을 주입하되, 상기 게이트 영역은 불순물을 주입하지 않는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 감지 게이트층은, 상기 드레인 또는 상기 소스 쪽에 접한 게이트 절연층의 일부분을 제거하여 형성하는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 감지 게이트층은, 상기 게이트 절연층 위의 일부에 감지 게이트 전극으로 형성하는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 감지 게이트층은, 물질을 감지할 수 있는 실리콘 산화막, Si3N4, Al2O3, Pr2O3, InN, RuO2, RuN, Ta2O5, SnO2, V2O5, TiO2, WO3, ZnO, Fe2O3, CuO, Cr2O3, 항체, 효소, 핵산(DNA), 나노물질, valinomicine, fluorescein, alizarian complexone, OCP(Organic Conducting Polymer) 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법
7 7
제1항에 있어서, 상기 감지 게이트층의 길이는 10 나노미터에서 500 나노미터인 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서의 제조방법
8 8
에스오아이 기판에 형성된 3차원 구조 실리콘 핀에 소스-게이트-드레인을 갖는 트랜지스터;상기 게이트의 3면을 둘러싼 게이트 절연층 및;상기 게이트 절연층의 일부를 둘러싸며, 상기 드레인 또는 상기 소스 쪽에 접한 상기 게이트 절연층의 일부분을 제거하여 형성된 감지 게이트층을 구비하되, 상기 감지 게이트층을 통해 물질을 감지할 경우 상기 소스와 상기 드레인 사이에 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서
9 9
에스오아이 기판에 형성된 3차원 구조 실리콘 핀에 소스-게이트-드레인을 갖는 트랜지스터;상기 게이트의 3면을 둘러싼 게이트 절연층 및;상기 게이트 절연층의 일부를 둘러싸며, 상기 드레인 또는 상기 소스 쪽에 접한 상기 게이트 절연층 위의 일부에 형성된 감지 게이트 전극을 구비하되,상기 감지 게이트 전극을 통해 물질을 감지할 경우 상기 소스와 상기 드레인 사이에 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서
10 10
제8항에 있어서, 상기 트랜지스터에 전압을 인가하지 않은 경우 상기 소스와 상기 드레인 사이에 전류가 흐르지 않는 오프 상태를 유지하고, 상기 감지 게이트층을 통해 물질을 감지할 경우, 상기 물질에 의해 상기 감지 게이트층을 통한 전계가 형성되는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서
11 11
제8항에 있어서, 상기 감지 게이트층은, 물질을 감지할 수 있는 실리콘 산화막, Si3N4, Al2O3, Pr2O3, InN, RuO2, RuN, Ta2O5, SnO2, V2O5, TiO2, WO3, ZnO, Fe2O3, CuO, Cr2O3, 항체, 효소, 핵산(DNA), 나노물질, valinomicine, fluorescein, alizarian complexone, OCP(Organic Conducting Polymer) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서
12 12
제9항에 있어서, 상기 트랜지스터에 전압을 인가하지 않은 경우 상기 소스와 상기 드레인 사이에 전류가 흐르지 않는 오프 상태를 유지하고, 상기 감지 게이트 전극을 통해 물질을 감지할 경우, 상기 물질에 의해 상기 감지 게이트 전극을 통한 전계가 형성되는 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서
13 13
제9항에 있어서, 상기 감지 게이트 전극은, 물질을 감지할 수 있는 실리콘 산화막, Si3N4, Al2O3, Pr2O3, InN, RuO2, RuN, Ta2O5, SnO2, V2O5, TiO2, WO3, ZnO, Fe2O3, CuO, Cr2O3, 항체, 효소, 핵산(DNA), 나노물질, valinomicine, fluorescein, alizarian complexone, OCP(Organic Conducting Polymer) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 3차원구조 트랜지스터 센서
14 14
제8항 또는 제9항에 의한 3차원구조 트랜지스터 센서가 어레이 형태로 배열된 3차원구조 트랜지스터 센서 어레이
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