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기판 상에 적어도 하나의 가스감지영역을 포함하는 가스센서로서, 상기 가스감지영역은 아미노 화합물 및 탄소나노튜브를 포함하되,상기 가스감지영역이 상기 기판상에 형성된 APTES을 포함하는 층(이하, "APTES층"이라 함), 상기 APTES층 상에 형성된 탄소나노튜브층 및 상기 탄소나노튜브층 상에 형성된 en-APTAS을 포함하는 층(이하, "en-APTAS층"이라 함)을 포함하는 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서
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제1항에 있어서,상기 기판은 실리콘 기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서
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제1항에 있어서,상기 기판은 실리콘 산화막이 표면에 형성된 실리콘 기판을 포함하는 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서
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제1항에 있어서,상기 아미노 화합물은 아미노 실란을 포함하는 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서
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제4항에 있어서,상기 아미노 실란은 3-아미노프로필트리에톡시실란(3-Aminopropyltriethoxysilane, APTES), N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란(N-(2-Aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane, en-APTAS), 3-메르캅토프로필트리메톡시실란(3-Mercaptopropyltrimethoxysilane) 및 (N,N-디메틸아미노프로필)트리메톡시실란((N,N-Dimethylaminopropyl)trimethoxysilane)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 둘 이상인 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서
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제1항에 있어서,상기 가스감지영역은 복수개의 층으로 구성되고,상기 복수개의 층은 상기 탄소나노튜브로 이루어진 층(이하, "탄소나노튜브층"이라 함)과, 상기 탄소나노튜브층의 상하층 중 적어도 하나의 층에 위치하는 아미노 실란을 포함하는 층(이하, "아미노실란층"이라 함)을 포함하는 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서
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제 1 항에 있어서, 상기 탄소나노튜브는 단일벽 탄소나노튜브(SWCNT, single-walled carbon nanotube)을 포함하는 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서
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기판 상에 탄소나노튜브를 흡착시키는 단계를 포함하는 가스센서의 제조방법으로서,상기 탄소나노튜브를 흡착하기 전후 단계 중 적어도 하나의 단계에 아미노 화합물을 흡착시키는 단계를 더 포함하며,상기 기판 상에 APTES을 흡착시키는 단계,상기 APTES가 흡착된 기판 상에 탄소나노튜브를 흡착시키는 단계,상기 탄소나노튜브가 흡착된 기판 상에 en-APTAS를 흡착시키는 단계를 포함하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서의 제조방법
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제9항에 있어서,상기 기판은 O2 플라즈마 전처리 단계를 거친 기판인 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서의 제조방법
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제9항에 있어서,상기 아미노 화합물은 아미노 실란을 포함하는 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서의 제조방법
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제11항에 있어서,상기 아미노 실란은 3-아미노프로필트리에톡시실란(3-Aminopropyltriethoxysilane, APTES), N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란(N-(2-Aminoethyl)-3-aminopropyltrimethoxysilane, en-APTAS), 3-메르캅토프로필트리메톡시실란(3-Mercaptopropyltrimethoxysilane) 및 (N,N-디메틸아미노프로필)트리메톡시실란((N,N-Dimethylaminopropyl)trimethoxysilane)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 둘 이상인 것을 특징으로 하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서의 제조방법
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제9항에 있어서,상기 탄소나노튜브 및 아미노 화합물을 흡착시키는 단계가 완료된 기판을 열처리하는 단계를 더 포함하는 일산화질소를 선택적으로 감지하는 가스센서의 제조방법
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제14항에 있어서,상기 열처리는 50 ~ 100℃에서 30분 ~ 2시간 동안 수행되는 것을 특징으로 하는 가스센서의 제조방법
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