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후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법

  • 기술번호 : KST2020008743
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법이 개시된다. 일 실시예에 따르면, 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법은, 제1 블록-상기 제1 블록은 제1 방향으로 연장 형성되어 교대로 적층된 희생층과 절연층을 포함함-에 하부 스트링을 형성하는 단계; 상기 하부 스트링이 형성된 제1 블록의 상부 영역에 스트링 간 절연막을 생성하는 단계; 상기 스트링 간 절연막의 적어도 일부분을 식각하여, 상기 적어도 일부분이 식각된 공간에 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계; 상기 적어도 하나의 희생막이 형성된 스트링 간 절연막의 상부 영역에 제2 블록-상기 제2 블록은 상기 제1 방향으로 연장 형성되어 교대로 적층된 희생층과 절연층을 포함함-을 생성하는 단계; 상기 제2 블록에 상부 스트링을 형성하는 단계; 상기 제1 블록에 포함되는 희생층, 상기 적어도 하나의 희생막 및 상기 제2 블록에 포함되는 희생층을 식각하는 단계; 및 상기 적어도 하나의 희생막이 식각된 공간에 적어도 하나의 중간 배선층으로 사용될 전극층과, 상기 제1 블록에 포함되는 희생층이 식각된 공간 및 상기 제2 블록에 포함되는 희생층이 식각된 공간에 워드라인으로 사용될 전극층을 형성하는 단계를 포함한다.
Int. CL H01L 27/11551 (2017.01.01) H01L 27/11521 (2017.01.01) H01L 27/11578 (2017.01.01) H01L 27/11568 (2017.01.01) H01L 29/423 (2006.01.01) H01L 29/66 (2006.01.01) H01L 29/788 (2006.01.01) H01L 21/311 (2006.01.01)
CPC H01L 27/11551(2013.01) H01L 27/11551(2013.01) H01L 27/11551(2013.01) H01L 27/11551(2013.01) H01L 27/11551(2013.01) H01L 27/11551(2013.01) H01L 27/11551(2013.01) H01L 27/11551(2013.01)
출원번호/일자 1020180154126 (2018.12.04)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0067349 (2020.06.12) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.12.04)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송윤흡 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자 주식회사 경기도 수원시 영통구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.12.04 수리 (Accepted) 1-1-2018-1211508-23
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.03.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.04.12 수리 (Accepted) 9-1-2019-0018037-67
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.11.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0865000-16
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2020.01.29 수리 (Accepted) 1-1-2020-0093568-41
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.02.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0109495-26
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.02.03 수리 (Accepted) 1-1-2020-0109494-81
10 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2020.07.03 수리 (Accepted) 1-1-2020-0695289-61
11 등록결정서
Decision to grant
2020.07.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0498908-51
12 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2020.07.23 수리 (Accepted) 1-1-2020-0772712-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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제1 블록-상기 제1 블록은 제1 방향으로 연장 형성되어 교대로 적층된 희생층과 절연층을 포함함-에 하부 스트링을 형성하는 단계; 상기 하부 스트링이 형성된 제1 블록의 상부 영역에 스트링 간 절연막을 생성하는 단계; 상기 스트링 간 절연막의 적어도 일부분을 식각하여, 상기 적어도 일부분이 식각된 공간에 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계; 상기 적어도 하나의 희생막이 형성된 스트링 간 절연막의 상부 영역에 제2 블록-상기 제2 블록은 상기 제1 방향으로 연장 형성되어 교대로 적층된 희생층과 절연층을 포함함-을 생성하는 단계; 상기 제2 블록에 상부 스트링을 형성하는 단계; 상기 제1 블록에 포함되는 희생층, 상기 적어도 하나의 희생막 및 상기 제2 블록에 포함되는 희생층을 식각하는 단계; 및 상기 적어도 하나의 희생막이 식각된 공간에 적어도 하나의 중간 배선층으로 사용될 전극층과, 상기 제1 블록에 포함되는 희생층이 식각된 공간 및 상기 제2 블록에 포함되는 희생층이 식각된 공간에 워드라인으로 사용될 전극층을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계는,상기 적어도 하나의 희생막이 식각된 공간에 형성될 상기 적어도 하나의 중간 배선층이 상기 상부 스트링의 채널층의 적어도 일부분 및 상기 하부 스트링의 채널층의 적어도 일부분과 맞닿도록 상기 적어도 일부분을 식각하는 단계를 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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제1항에 있어서,상기 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계는, 상기 스트링 간 절연막 중 상기 적어도 하나의 희생막이 형성된 부분을 제외한 나머지 적어도 일부분을 식각하는 단계; 및 상기 나머지 적어도 일부분이 식각된 공간에 적어도 하나의 채널 연결부-상기 적어도 하나의 채널 연결부는 상기 상부 스트링의 채널층과 상기 하부 스트링의 채널층을 연결시킴-를 형성하는 단계를 더 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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제2항에 있어서,상기 나머지 적어도 일부분을 식각하는 단계는, 상기 나머지 적어도 일부분이 식각된 공간에 형성될 상기 적어도 하나의 채널 연결부가 상기 상부 스트링의 채널층의 적어도 일부분 및 상기 하부 스트링의 채널층의 적어도 일부분과 맞닿도록 상기 나머지 적어도 일부분을 식각하는 단계를 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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제1항에 있어서,상기 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계는, 상기 스트링 간 절연막 중 상기 적어도 하나의 희생막이 형성된 부분을 제외한 나머지 적어도 일부분을 식각하는 단계를 더 포함하고, 상기 제2 블록에 상부 스트링을 형성하는 단계는, 상기 나머지 적어도 일부분이 식각된 공간에 연결 스트링을 형성하는 단계를 더 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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삭제
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제1항에 있어서,상기 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계는, 상기 스트링 간 절연막의 적어도 일부분을 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향으로 식각하는 단계; 및 상기 적어도 일부분이 상기 제2 방향으로 식각된 공간에 상기 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계를 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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제1항에 있어서,상기 적어도 하나의 중간 배선층은, 상기 하부 스트링 및 상기 상부 스트링에 대한 소스 전극 또는 드레인 전극 중 어느 하나로 선택적으로 사용 가능한, 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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제1 방향으로 연장 형성되어 교대로 적층된 희생층과 절연층에 상기 제1 방향과 수직되는 방향으로 형성된 스트링을 각기 포함하는 두 개의 블록들을 준비하는 단계; 상기 두 개의 블록들 중 제1 블록의 상부 영역에 스트링 간 절연막을 생성하는 단계; 상기 스트링 간 절연막의 적어도 일부분을 식각하여, 상기 적어도 일부분이 식각된 공간에 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계; 상기 적어도 하나의 희생막이 형성된 스트링 간 절연막의 상부 영역에 상기 두 개의 블록들 중 상기 제1 블록을 제외한 제2 블록을 적층하는 단계; 상기 제1 블록에 포함되는 희생층, 상기 적어도 하나의 희생막 및 상기 제2 블록에 포함되는 희생층을 식각하는 단계; 및 상기 적어도 하나의 희생막이 식각된 공간에 적어도 하나의 중간 배선층으로 사용될 전극층과, 상기 제1 블록에 포함되는 희생층이 식각된 공간 및 상기 제2 블록에 포함되는 희생층이 식각된 공간에 워드라인으로 사용될 전극층을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계는,상기 적어도 하나의 희생막이 식각된 공간에 형성될 상기 적어도 하나의 중간 배선층이 상기 제1 블록에 포함되는 스트링의 채널층의 적어도 일부분 및 상기 제2 블록에 포함되는 스트링의 채널층의 적어도 일부분과 맞닿도록 상기 적어도 일부분을 식각하는 단계를 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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제8항에 있어서,상기 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계는, 상기 스트링 간 절연막 중 상기 적어도 하나의 희생막이 형성된 부분을 제외한 나머지 적어도 일부분을 식각하는 단계; 및 상기 나머지 적어도 일부분이 식각된 공간에 적어도 하나의 채널 연결부-상기 적어도 하나의 채널 연결부는 상기 제1 블록에 포함되는 스트링의 채널층과 상기 제2 블록에 포함되는 스트링의 채널층을 연결시킴-를 형성하는 단계를 더 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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제9항에 있어서,상기 나머지 적어도 일부분을 식각하는 단계는, 상기 나머지 적어도 일부분이 식각된 공간에 형성될 상기 적어도 하나의 채널 연결부가 상기 제1 블록에 포함되는 스트링의 채널층의 적어도 일부분 및 상기 제2 블록에 포함되는 스트링의 채널층의 적어도 일부분과 맞닿도록 상기 나머지 적어도 일부분을 식각하는 단계를 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
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제8항에 있어서,상기 적어도 하나의 희생막을 형성하는 단계는, 상기 스트링 간 절연막 중 상기 적어도 하나의 희생막이 형성된 부분을 제외한 나머지 적어도 일부분을 식각하는 단계; 및 상기 나머지 적어도 일부분이 식각된 공간에 연결 스트링을 형성하는 단계를 더 포함하는 후단 공정을 이용한 3차원 플래시 메모리 제조 방법
12 12
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