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인듐산화물층, 인듐 산화물층을 채널층으로 포함하는 박막트랜지스터, 및 박막트랜지스터의 제조방법

  • 기술번호 : KST2020008755
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 인듐산화물층, 이를 채널층으로 포함하는 박막트랜지스터, 및 박막트랜지스터의 제조방법을 제공한다. 상기 박막트랜지스터는 박막트랜지스터를 제공한다. 상기 박막트랜지스터는 게이트 전극을 구비한다. 상기 게이트 전극에 중첩하여, 비정질 매트릭스와 상기 비정질 매트릭스 내에 분산된 다수의 결정립들을 구비하는 인듐 산화물 채널층이 배치된다. 상기 게이트 전극과 상기 채널층 사이에 게이트 절연막이 배치된다. 상기 채널층의 양측 단부들에 소오스 및 드레인 전극들이 각각 전기적으로 접속한다.
Int. CL C23C 16/40 (2006.01.01) C23C 16/455 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020190160456 (2019.12.05)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0072408 (2020.06.22) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020180158891   |   2018.12.11
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.12.05)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 성명모 서울특별시 서초구
2 김홍범 서울 광진구
3 윤홍로 강원도 원주시 행구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.12.05 수리 (Accepted) 1-1-2019-1257320-48
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.08.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
게이트 전극;상기 게이트 전극에 중첩하여 배치되고, 비정질 매트릭스와 상기 비정질 매트릭스 내에 분산된 다수의 결정립들을 구비하는 인듐 산화물 채널층;상기 게이트 전극과 상기 채널층 사이에 배치된 게이트 절연막; 및상기 채널층의 양측 단부들에 각각 전기적으로 접속하는 소오스 및 드레인 전극들을 포함하는 박막트랜지스터
2 2
청구항 1에 있어서,상기 다수의 결정립들은 서로 다른 방향으로 결정화된 것들인 박막트랜지스터
3 3
청구항 1에 있어서,상기 결정립들은 수 nm의 직경을 갖는 박막트랜지스터
4 4
청구항 1에 있어서,상기 인듐 산화물 채널층은 수 내지 수십 nm의 두께를 갖는 박막트랜지스터
5 5
청구항 4에 있어서,상기 인듐 산화물 채널층은 3 내지 10nm의 두께를 갖는 박막트랜지스터
6 6
청구항 5에 있어서,상기 인듐 산화물 채널층은 6 내지 8 nm의 두께를 갖는 박막트랜지스터
7 7
청구항 1에 있어서,상기 인듐 산화물 채널층은 In2O3층인 박막트랜지스터
8 8
게이트 전극, 게이트 절연막, 채널층, 및 소오스 및 드레인 전극들을 구비하는 박막트랜지스터 제조방법에 있어서, 상기 채널층은 인듐 산화물 채널층이고, 상기 인듐 산화물 채널층은, 챔버 내에 상기 채널층이 형성될 기판을 투입하고 상기 챔버의 유출구를 닫은 상태에서 인듐 전구체를 공급하여 상기 챔버 내 반응압력을 증가시켜 상기 인듐 전구체를 상기 기판 표면 상에 흡착시키는 인듐 전구체 가압 도징 단계; 인듐 전구체 가압 도징 단계 후, 상기 챔버를 퍼지하는 인듐 전구체 퍼지 단계; 상기 인듐 전구체 퍼지 단계 후, 산화제를 상기 챔버 내로 공급하여 상기 기판 상에 흡착된 인듐 전구체를 산화시켜 인듐 산화물을 형성하는 산화제 공급 단계; 및 상기 산화제 공급 단계 후, 상기 챔버를 퍼지하는 산화제 퍼지 단계를 포함하는 단위 사이클을 다수회 진행하여 형성하는,박막트랜지스터 제조방법
9 9
청구항 8에 있어서,상기 인듐 산화물 채널층은 비정질 매트릭스와 상기 비정질 매트릭스 내에 분산된 다수의 결정립들을 구비하는, 박막트랜지스터 제조방법
10 10
청구항 8에 있어서,상기 인듐 산화물 채널층은 In2O3층인, 박막트랜지스터 제조방법
11 11
청구항 8에 있어서,상기 인듐 전구체 가압 도징 단계와 상기 인듐 전구체 퍼지 단계는 인듐 전구체 서브 사이클을 구성하고,상기 산화제 공급 단계 전에, 상기 인듐 전구체 서브 사이클을 다수회 수행하는 박막트랜지스터 제조방법
12 12
청구항 8에 있어서, 상기 산화제 공급단계는 상기 챔버의 유출구를 닫은 상태에서 상기 산화제를 공급하여 상기 챔버 내 반응압력을 증가시킨 상태에서 진행하는 산화제 가압 도징 단계로 진행하는 박막트랜지스터 제조방법
13 13
청구항 12에 있어서, 상기 산화제 가압 도징 단계와 상기 산화제 퍼지 단계는 산화제 서브 사이클을 구성하고,상기 단위 사이클은 상기 산화제 서브 사이클을 연속하여 다수회 수행하는 것을 포함하는 박막트랜지스터 제조방법
14 14
청구항 8에 있어서,상기 챔버의 온도는 80 내지 150 ℃의 범위 내에 있는 박막트랜지스터 제조방법
15 15
청구항 8에 있어서,상기 인듐 전구체는 인듐과 [((C1-C5)알킬)n실릴]m아미노기(n은 1, 2, 또는 3이고 m은 1 또는 2)인 리간드를 구비하는 인듐-유기화합물인 박막트랜지스터 제조방법
16 16
청구항 15에 있어서,상기 리간드는 [((C1-C5)알킬)n실릴]m아미노기(n은 3이고 m은 2)인 박막트랜지스터 제조방법
17 17
청구항 16에 있어서,상기 인듐 전구체는 InCA-1 ([1,1,1-trimethyl-N-(trimethylsilyl)silanaminato]indium)인 박막트랜지스터 제조방법
18 18
비정질 매트릭스와 상기 비정질 매트릭스 내에 분산된 다수의 결정립들을 구비하는 인듐 산화물층
19 19
청구항 18에 있어서,상기 다수의 결정립들은 서로 다른 방향으로 결정화된 것들인 인듐 산화물층
20 20
청구항 18에 있어서,상기 결정립들은 수 nm의 직경을 갖는 인듐 산화물층
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 과학기술정보통신부(2017Y) (재)한국연구재단 원천기술개발사업 / 창의소재디스커버리사업 / 창의소재디스커버리사업 멀티레벨 금속 단원자층 아키텍처 소재 제조 및 특성 평가