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프렉션 바운드 측정에 기반한 피검출체의 농도 확인 방법

  • 기술번호 : KST2021004310
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 프렉션 바운드 측정에 기반한 피검출체의 농도 확인 방법이 제시된다. 일 실시예에 따른 프렉션 바운드(fraction bound) 측정에 기반한 피검출체의 농도 확인 방법은, 광 디바이스의 표면에 리간드(ligand)를 고정시키는 단계; 검출하고자 하는 피검출체가 광 디바이스의 표면에 고정된 리간드와 반응할 때, 광 신호 기반의 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 단계; 및 기준 신호와 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 이용하여 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 단계를 포함하여 이루어질 수 있다.
Int. CL G01N 21/552 (2014.01.01) G01N 21/65 (2006.01.01) G01N 33/53 (2006.01.01)
CPC G01N 21/553(2013.01) G01N 21/658(2013.01) G01N 33/53(2013.01)
출원번호/일자 1020190125916 (2019.10.11)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0043126 (2021.04.21) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.10.11)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이한석 대전광역시 유성구
2 김예슬 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.10.11 수리 (Accepted) 1-1-2019-1036268-99
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.07.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.09.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0158832-73
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.10.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0732740-12
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2020-1390272-00
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.12.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-1390273-45
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번호 청구항
1 1
프렉션 바운드(fraction bound) 측정에 기반한 피검출체의 농도 확인 방법에 있어서, 광 디바이스의 표면에 리간드(ligand)를 고정시키는 단계; 검출하고자 하는 피검출체가 상기 광 디바이스의 표면에 고정된 리간드와 반응할 때, 광 신호 기반의 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 단계; 및 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 이용하여 상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 단계를 포함하는, 피검출체의 농도 확인 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 광 신호 기반의 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 단계는, 리간드 전체의 개수 대비 상기 피검출체와 결합한 리간드의 개수를 의미하는 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 광 신호 기반의 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 단계는, 상기 리간드가 상기 광 디바이스의 표면에 고정되어 있는 환경에서 Langmuir 모델을 통해 분석하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
4 4
제1항에 있어서,상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 단계는, 상기 피검출체가 상기 광 디바이스의 표면에 고정된 리간드와 반응할 때, 반응의 각 단계에 따라 정의된 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 이용하여 상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 단계는, 반응의 초기 단계, 중기 단계 및 포화 단계에 따라 정의된 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 이용하여 상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 단계는, 상기 중기 단계의 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율은 상기 초기 단계와 상기 포화 단계의 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율의 중간 값을 갖는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
7 7
제1항에 있어서,상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 단계는, 상기 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 통해 상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인함에 따라 어느 반응 시점에서든지 한 번의 신호 측정만으로 기준 신호와의 비교를 통해 상기 피검출체의 상대적인 농도를 확인 가능한 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
8 8
제1항에 있어서,상기 광 신호 기반의 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 단계는, 상기 기준 신호의 프렉션 바운드를 측정하는 단계; 및 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 단계를 포함하는, 피검출체의 농도 확인 방법
9 9
제1항에 있어서,상기 광 신호 기반의 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 단계는, 실험에 영향을 줄 수 있는 외부 요소들이 상쇄되어 정확한 측정이 가능하도록 상기 기준 신호의 프렉션 바운드와 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 동시에 측정하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
10 10
제1항에 있어서,상기 광 신호 기반의 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 단계는, 실험에 영향을 줄 수 있는 외부 요소들이 상쇄되어 정확한 측정이 가능하도록 동일 조건에서 복수의 샘플의 신호가 동시에 측정 가능한 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
11 11
제1항에 있어서,상기 프렉션 바운드 측정에서 상기 광 디바이스로 사용되는 광학 활성 공진기를 제조하는 단계를 더 포함하고, 상기 광학 활성 공진기를 제조하는 단계는, 복수개의 실리콘 질화물(silicon nitride) 디스크 플레이트의 내부에 실리콘 나노클러스터(silicon nanocluster)를 형성하는 단계; 및 복수개의 상기 실리콘 질화물 디스크 플레이트가 서로 소정간격 이격되게 배치되어 나노 슬롯을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 실리콘 나노클러스터의 흡수 단면을 통해 상부의 펌프 빔 조사만으로 광발광(Photoluminescence, PL)을 방출하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
12 12
제11항에 있어서,상기 프렉션 바운드 측정을 위해 상기 광학 활성 공진기의 상부에서 단일 LED의 펌프 빔을 조사하는 단계를 더 포함하고, 상기 실리콘 나노클러스터의 흡수 단면을 통해 단일 LED의 상부의 펌프 빔 조사만으로 광발광(PL)을 방출하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 방법
13 13
프렉션 바운드(fraction bound) 측정에 기반한 피검출체의 농도 확인 장치에 있어서, 광 디바이스의 표면에 리간드(ligand)를 고정시키는 셋업부; 검출하고자 하는 피검출체가 상기 광 디바이스의 표면에 고정된 리간드와 반응할 때, 광 신호 기반의 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 프렉션 바운드 측정부; 및 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 이용하여 상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 농도 확인부를 포함하는, 피검출체의 농도 확인 장치
14 14
제13항에 있어서,상기 프렉션 바운드 측정부는, 리간드 전체의 개수 대비 상기 피검출체와 결합한 리간드의 개수를 의미하는 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 측정하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 장치
15 15
제13항에 있어서,상기 프렉션 바운드 측정부는, 상기 리간드가 상기 광 디바이스의 표면에 고정되어 있는 환경에서 Langmuir 모델을 통해 분석하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 장치
16 16
제13항에 있어서,상기 농도 확인부는, 상기 피검출체가 상기 광 디바이스의 표면에 고정된 리간드와 반응할 때, 반응의 각 단계에 따라 정의된 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 이용하여 상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 장치
17 17
제16항에 있어서,상기 농도 확인부는, 반응의 초기 단계, 중기 단계 및 포화 단계에 따라 정의된 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 이용하여 상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인하고, 상기 중기 단계의 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율은 상기 초기 단계와 상기 포화 단계의 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율의 중간 값을 갖는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 장치
18 18
제13항에 있어서,상기 농도 확인부는, 상기 기준 신호와 상기 피검출체의 프렉션 바운드의 측정값의 비율을 통해 상기 피검출체의 농도의 상대 값을 확인함에 따라 어느 반응 시점에서든지 한 번의 신호 측정만으로 기준 신호와의 비교를 통해 상기 피검출체의 상대적인 농도를 확인 가능한 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 장치
19 19
제13항에 있어서,상기 프렉션 바운드 측정부는, 실험에 영향을 줄 수 있는 외부 요소들이 상쇄되어 정확한 측정이 가능하도록 상기 기준 신호의 프렉션 바운드와 상기 피검출체의 프렉션 바운드를 동시에 측정하는 것을 특징으로 하는, 피검출체의 농도 확인 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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