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편평한 표면을 갖는 전도성 기재;상기 전도성 기재의 상부에 구비된 반응 챔버; 및상기 반응 챔버 내에 전도성 기재의 표면으로부터 차례로 이온을 함유하지 않는 물층, 지질 이중층 및 이온 함유 용액층;을 포함하는,신호 증폭용 분자 검출부
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제1항에 있어서,상기 전도성 기재는 이의 상부에 절연체 박막층을 추가로 포함하는 것인, 분자 검출부
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제1항에 있어서,상기 지질 이중층은 이온 비투과성인 것인, 장치
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소스(source; S), 드레인(drain; D) 및 상부 게이트(top gate; TG) 전극을 구비한 전계효과트랜지스터; 및상기 전계효과트랜지스터의 상부 게이트 전극에 전기적으로 연결된 확장 게이트(extended gate; EG)로서 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항의 분자 검출부를 포함하는,이온 용액 상에서 분자 검출용 장치
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제4항에 있어서,상기 분자 검출부는 교체 가능한 것인, 장치
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제4항에 있어서,검출 대상 분자는 DNA, RNA, 뉴클레오티드, 뉴클레오시드, 단백질, 펩티드, 아미노산, 탄수화물, 효소, 항원, 항체, 수용체, 바이러스, 기질, 리간드, 멤브레인, 세포 또는 이들의 조합인 것인, 장치
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제4항에 있어서,상기 지질 이중층 표면에 직접 또는 간접적으로 결합된, 검출 대상 분자와 특이적으로 상호작용하는 작용기, 항원, 항체, 리간드, 수용체, 효소, 기질, 압타머 또는 상보적인 서열의 유전자를 추가로 포함하는 것인, 장치
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제4항의 분자 검출용 장치의 분자 검출부에 이온성 용액에 분산된 상태의 분석 대상 물질을 접촉시키고 전기적 신호를 측정하는 제1단계; 및상기 분석 대상 물질 접촉 전후의 측정된 전기적 신호의 변화를 확인하는 제2단계;를 포함하는 분자 상호작용을 검출하는 방법으로서,상기 분자 검출부의 지질 이중층 표면에 직접 또는 간접적으로 결합된, 검출 대상 분자와 특이적으로 상호작용하는 작용기, 항원, 항체, 리간드, 수용체, 효소, 기질, 압타머 또는 상보적인 서열의 유전자를 추가로 포함하는 것인, 방법
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제8항에 있어서,분석 대상 물질 접촉 후 측정된 전기적 신호가 접촉 전 측정된 신호에 비해 증가하였을 경우 분자간 상호작용이 발생한 것으로 판단하는 것인, 방법
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제8항에 있어서,정성 또는 정량 분석 가능한 것인, 방법
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제8항에 있어서,100 pM 이상의 검출 한계를 갖는 것인, 방법
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