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시료를 통과한 형광 신호 및 기준 신호를 각각 필터링시키는 필터링부;상기 필터링된 형광 신호의 제1 중심점과 상기 필터링된 기준 신호의 제2 중심점을 측정하는 중심점 측정부; 및상기 제1 중심점과 상기 제2 중심점을 비교하여 얻은 시간차를 이용하여 형광 수명을 계산하는 형광 수명 계산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 형광 수명 계산부는 상기 시간차를 구하는 것으로,상기 제1 중심점에 의한 신호와 상기 제2 중심점에 의한 신호가 서로 다른 지점으로 입력되면 두 신호 간 시간차를 계산하는 시간차 계산부; 및상기 시간차를 전압 세기로 출력하는 전압 세기 출력부를 구비하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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제 2 항에 있어서,상기 형광 수명 계산부는 상기 형광 수명을 계산하는 것으로,아날로그 신호 형태의 상기 전압 세기를 디지털 신호로 변환시키는 변환부;상기 변환된 디지털 신호를 데이터로 저장하는 저장부;상기 저장된 데이터를 이미징시키는 이미징부; 및상기 이미징 때에 상기 제1 중심점과 상기 제2 중심점 간 차이값에 미리 정해진 교정 인자(calibration factor)를 적용하여 상기 형광 수명을 계산하는 계산부를 구비하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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제 3 항에 있어서,상기 형광 수명 계산부는 상기 형광 수명을 계산하는 것으로,상기 데이터가 저장된 데이터 저장 주소를 스캐닝 미러 구동 회로와 동기화시키는 동기화부를 더욱 구비하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 중심점 측정부는,상기 필터링된 형광 신호를 미분하여 제1 미분값을 구하고, 상기 필터링된 기준 신호를 미분하여 제2 미분값을 구하는 미분부; 및상기 제1 미분값과 상기 제2 미분값에서 각각 영점 교차를 구별하여 상기 제1 중심점과 상기 제2 중심점을 측정하는 영점 교차 구별부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 형광 신호를 획득하는 것으로서, 광원에 의한 여기광을 상기 시료에 조사하여 상기 형광 신호를 야기시키는 형광 신호 야기부, 및 상기 야기된 형광 신호를 검출하는 형광 신호 검출부를 포함하는 제1 신호 획득부; 및상기 기준 신호를 획득하는 것으로서, 상기 시료를 통과하지 않은 여기광으로부터 상기 기준 신호를 검출하는 기준 신호 검출부를 포함하는 제2 신호 획득부를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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제 6 항에 있어서,상기 제2 신호 획득부는,상기 형광 신호가 획득될 때까지 걸리는 시간을 고려하여 상기 시료를 통과하지 않은 여기광이 상기 기준 신호로 검출되는 데에 걸리는 시간을 지연시키거나, 상기 형광 신호가 필터링될 때까지 걸리는 시간을 고려하여 상기 검출된 기준 신호가 필터링될 때까지 걸리는 시간을 지연시키는 시간 지연부를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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제 6 항에 있어서,광원에 의한 여기광을 상기 제1 신호 획득부와 상기 제2 신호 획득부로 각각 분배시키는 광 분배부를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 필터링부는 상기 형광 신호와 상기 기준 신호의 필터링에 가우시안 저역 통과 필터를 이용하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 시스템
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(a) 시료를 통과한 형광 신호 및 기준 신호를 각각 필터링시키는 단계;(b) 상기 필터링된 형광 신호의 제1 중심점과 상기 필터링된 기준 신호의 제2 중심점을 측정하는 단계; 및(c) 상기 제1 중심점과 상기 제2 중심점을 비교하여 얻은 시간차를 이용하여 형광 수명을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 방법
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제 10 항에 있어서,상기 (c) 단계는,(ca) 상기 제1 중심점에 의한 신호와 상기 제2 중심점에 의한 신호가 서로 다른 지점으로 입력되면 두 신호 간 시간차를 계산하는 단계;(cb) 상기 시간차를 전압 세기로 출력하는 단계;(cc) 아날로그 신호 형태의 상기 전압 세기를 디지털 신호로 변환시키는 단계;(cd) 상기 변환된 디지털 신호를 데이터로 저장하는 단계;(ce) 상기 저장된 데이터를 이미징시키는 단계; 및(cf) 상기 이미징 때에 상기 제1 중심점과 상기 제2 중심점 간 차이값에 미리 정해진 교정 인자(calibration factor)를 적용하여 상기 형광 수명을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 방법
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제 11 항에 있어서,상기 (cd) 단계와 상기 (ce) 단계의 중간 단계로서,상기 데이터가 저장된 데이터 저장 주소를 스캐닝 미러 구동 회로와 동기화시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 방법
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제 10 항에 있어서,상기 (b) 단계는,(ba) 상기 필터링된 형광 신호를 미분하여 제1 미분값을 구하고, 상기 필터링된 기준 신호를 미분하여 제2 미분값을 구하는 단계; 및(bb) 상기 제1 미분값과 상기 제2 미분값에서 각각 영점 교차를 구별하여 상기 제1 중심점과 상기 제2 중심점을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 방법
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14
제 10 항에 있어서,상기 (a) 단계의 이전 단계로서,광원에 의한 여기광을 상기 시료에 조사하여 상기 형광 신호를 야기시키는 단계; 및상기 야기된 형광 신호를 검출하는 단계를 포함하거나,(a'') 상기 시료를 통과하지 않은 여기광으로부터 상기 기준 신호를 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 방법
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제 14 항에 있어서,상기 (a'') 단계의 이전 단계로서,상기 형광 신호가 획득될 때까지 걸리는 시간을 고려하여 상기 시료를 통과하지 않은 여기광이 상기 기준 신호로 검출되는 데에 걸리는 시간을 지연시키는 단계를 포함하거나,상기 (a'') 단계와 상기 (a) 단계의 중간 단계로서,상기 형광 신호가 필터링될 때까지 걸리는 시간을 고려하여 상기 검출된 기준 신호가 필터링될 때까지 걸리는 시간을 지연시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 계산 방법
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