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형광수명 측정 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2014009913
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 형광수명 측정 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 형광수명 측정 장치는, 형광 분자를 포함하는 시료에 조사할 여기광을 발생시키는 여기광 발생부, 상기 여기광을 상기 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 수집부, 상기 수집된 형광 광자를 증폭시켜 제1 전기 신호로 변환하는 광 감지부 및 상기 변환된 제1 전기 신호의 평균값과, 상기 여기광이 상기 시료를 통하지 않고 상기 광 감지부에서 변환된 제2 전기 신호의 평균값의 차이를 이용하여 형광수명을 계산하는 형광수명 신호처리부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이러한 본 발명에 의하면, 형광수명을 보다 빠른 시간에 단순한 계산에 의하여 정확성과 정밀성을 가지고 측정할 수 있다. 형광수명, 형광수명 이미징 현미경(FLIM), 시간-상관 단일 광자 계수기(TCSPC)
Int. CL G01N 21/25 (2006.01) G01N 21/64 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070104132 (2007.10.16)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자 10-0885927-0000 (2009.02.20)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20090226) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.10.16)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김덕영 대한민국 광주 북구
2 문석배 대한민국 광주 북구
3 이동수 대한민국 광주 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인우인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 중평빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (주) 인텍플러스 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2007.10.16 수리 (Accepted) 1-1-2007-0740228-04
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.06.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.07.15 수리 (Accepted) 9-1-2008-0043688-65
4 등록결정서
Decision to grant		 2009.02.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0069732-13
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.09.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5187089-85
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
형광 분자를 포함하는 시료에 조사할 여기광을 발생시키는 여기광 발생부;상기 여기광을 상기 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 수집부;상기 수집된 형광 광자를 증폭시켜 제1 전기 신호로 변환하는 광 감지부; 및상기 변환된 제1 전기 신호의 평균 시간과, 상기 여기광이 상기 시료를 통하지 않고 상기 광 감지부에서 변환된 제2 전기 신호의 평균 시간의 차이를 이용하여 형광수명을 계산하는 형광수명 신호처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 제2 전기 신호의 평균 시간은 상기 형광 수명의 계산 이전에 상기 광 감지부와 상기 형광수명 신호처리부를 통하여 미리 구해지는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
3 3
제2항에 있어서, 상기 여기광 발생부는,펄스 형태의 여기광을 생성하는 여기 광원; 및상기 생성된 여기광을 집광하여 상기 시료에 조사하기 위한 대물렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
4 4
제2항에 있어서, 상기 형광 광자 수집부는,상기 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광광자 수집렌즈; 및상기 여기광이 상기 광 감지부에 수광되는 것을 막기 위한 여기광 제거 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 제2 전기 신호는 상기 시료 및 상기 여기광 제거 필터가 제거된 상태에서 발생된 여기광이 상기 광 감지부에서 변환된 결과 생성되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
6 6
제5항에 있어서, 상기 형광수명 신호처리부는,상기 광 감지부에서 변환된 상기 제1 전기 신호 및 상기 제2 전기 신호를 측정하는 신호 측정부; 및상기 제1 전기 신호의 평균 시간과 상기 제2 전기 신호의 평균 시간을 계산하고, 그 차이를 형광수명으로 결정하는 형광수명 계산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
7 7
제1항에 있어서,커플러 및 여기광 반사기를 더 포함하고,상기 여기광은 상기 커플러를 통하여 상기 시료와 상기 여기광 반사기로 분기되며, 상기 제2 전기 신호는 상기 여기광 반사기로 분기된 여기광이 상기 여기광 반사기에서 반사되어 상기 광 감지부에서 변환된 결과 생성되는 전기 신호인 것을 특징으로 하는 형광 수명 측정 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 시료로 분기된 여기광을 지연시키기 위한 광섬유 지연부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
9 9
제7항에 있어서, 상기 여기광 발생부는,펄스 형태의 여기광을 생성하는 여기 광원;상기 생성된 여기광을 특정 대역에서 통과시키는 대역 필터; 및상기 여기광을 집광하여 상기 시료에 조사하기 위한 대물렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정장치
10 10
제7항에 있어서, 상기 형광 광자 수집부는,상기 시료로부터 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광광자 수집렌즈; 및상기 여기광 반사기에서 반사된 여기광 및 상기 수집된 형광 광자를 특정 대역에서 통과시키는 대역 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
11 11
제10항에 있어서,상기 광 감지부는 상기 대역 필터를 통과한, 상기 여기광 반사기에서 반사된 여기광 및 상기 수집된 형광 광자를 증폭시켜 각각 상기 제1 전기 신호 및 상기 제2 전기 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
12 12
제11항에 있어서, 상기 형광수명 신호처리부는,상기 광 감지부에서 변환된 상기 제1 전기 신호 및 상기 제2 전기 신호를 측정하는 신호 측정부; 및상기 제1 전기 신호의 평균 시간과 상기 제2 전기 신호의 평균 시간을 계산하고, 그 차이를 형광수명으로 결정하는 형광수명 계산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
13 13
제1항에 있어서,상기 제1 전기 신호를 A(t)라 할 때, 상기 제1 전기 신호의 평균 시간 E1(t)는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
14 14
제1항에 있어서,상기 제2 전기 신호를 B(t)라 할 때, 상기 제2 전기 신호의 평균 시간 E2(t)는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
15 15
(a) 형광 분자를 포함하는 시료에 조사할 여기광을 발생시키는 단계;(b) 상기 여기광을 상기 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 단계;(c) 광 감지부를 이용하여 상기 수집된 형광 광자를 증폭시켜 제1 전기신호로 변환하는 단계; 및(d) 상기 변환된 제1 전기 신호의 평균 시간과, 상기 여기광이 상기 시료를 통하지 않고 상기 광 감지부에서 변환된 제2 전기 신호의 평균 시간의 차이를 이용하여 형광수명을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 방법
16 16
제15항에 있어서,상기 제2 전기 신호의 평균 시간을 미리 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광 수명 측정 방법
17 17
제15항에 있어서,상기 여기광을 커플러를 이용하여 상기 시료와 여기광 반사기로 분기시키는 단계; 및상기 여기광 반사기로 분기된 여기광이 상기 여기광 반사기에서 반사된 결과를 상기 광 감지부에서 상기 제2 전기 신호로 변환하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 방법
18 18
제17항에 있어서,상기 (b) 단계는, 상기 시료로 분기된 여기광을 지연시켜 상기 시료에 조사하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 방법
19 19
제15항에 있어서,상기 제1 전기 신호를 A(t)라 할 때, 상기 제1 전기 신호의 평균 시간 E1(t)는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 방법
20 20
제15항에 있어서,상기 제2 전기 신호를 B(t)라 할 때, 상기 제2 전기 신호의 평균 시간 E2(t)는 다음 수학식을 이용하여 계산되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 방법
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2 JP2009098149 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 JP4767300 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 US2009095911 US 미국 DOCDBFAMILY
5 US8314405 US 미국 DOCDBFAMILY
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