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여기광을 발생시키는 여기광 발생부;상기 여기광을 상기 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 수집부;상기 수집된 형광 광자를 증폭시켜 제1 전기 신호로 변환하는 광 감지부; 및제1 기준 신호에 기초하여 계산된 상기 제1 전기 신호의 평균 시간과, 제2 기준 신호에 기초하여 계산된 상기 여기 광원이 상기 시료를 통하지 않고 상기 광 감지부에서 변환된 상기 제2 전기 신호의 평균 시간과의 차이를 이용하여 형광 수명을 계산하는 형광수명 추출부를 포함하며,상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호 각각은, 상기 제1 전기 신호 및 상기 제2 전기 신호와 연관된 여기광과 동기화된 펄스 신호인 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 형광수명 추출부는, 상기 제1 기준 신호와 상기 제1 전기 신호를 동시에 수집하고, 상기 제2 기준 신호와 상기 제2 전기 신호를 동시에 수집하는 신호 수집부를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호 각각은, 상기 제1 전기 신호 및 상기 제2 전기 신호와 연관된 트리거 신호로부터 생성되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
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제 2 항에 있어서,상기 신호 수집부는, 상기 제1 전기 신호 및 상기 제2 전기 신호를 수집하는 제1 채널과, 상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호를 수집하는 제1 채널과는 다른 제2 채널을 구비하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
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제 5 항에 있어서,상기 신호 수집부는, 상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호를 저역통과 필터링시키는 저역통과 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 형광수명 측정 장치
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시료에 조사할 여기광을 발생시키는 단계;상기 여기광을 상기 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 단계;상기 수집된 형광 광자를 증폭시켜 제1 전기 신호로 변환하는 단계;상기 제1 전기 신호와 연관된 트리거 신호로부터 제1 기준 신호를 생성하며, 제2 전기 신호와 연관된 트리거 신호로부터 제2 기준 신호를 생성하는 단계; 및상기 제1 기준 신호에 기초하여 계산된 상기 제1 전기 신호의 평균 시간과, 상기 제2 기준 신호에 기초하여 계산된 상기 여기 광원이 상기 시료를 통하지 않고 상기 광 감지부에서 변환된 상기 제2 전기 신호와의 평균 시간의 차이를 이용하여 형광 수명을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 방법
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제 7 항에 있어서,상기 제1 전기 신호와 동시에 상기 제1 기준 신호를 수집하는 단계 및 상기 제2 전기 신호와 동시에 상기 제2 기준 신호를 수집하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 방법
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제 7 항에 있어서,상기 제1 기준 신호 및 상기 제2 기준 신호를 생성하는 단계는, 각기 연관된 트리거 신호를 저역통과 필터링시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 형광수명 측정 방법
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여기광을 발생시키는 여기광 발생부;상기 여기광을 상기 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 형광 광자 수집부;상기 수집된 형광 광자를 증폭시켜 제1 전기 신호로 변환하는 광 감지부; 및상기 제1 전기 신호의 평균 시간과, 상기 여기 광원의 일부가 지연되어 상기 광 감지부에서 변환된 제2 전기 신호의 평균 시간과의 차이를 이용하여 형광 수명을 계산하는 형광수명 추출부를 포함하며,상기 여기 광원의 일부는, 제1 전기 신호들 간의 간격 내에서 획득되도록 지연되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
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제 11 항에 있어서,상기 여기 광원의 일부는 단일 모드 광섬유에 수집되고, 상기 형광 광자는 다중 모드 광섬유에 수집되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 장치
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시료에 조사할 여기광을 발생시키는 단계;상기 여기광을 상기 시료에 조사하여 생성되는 형광 광자를 수집하는 단계;상기 수집된 형광 광자를 증폭시켜 광 감지부에서 제1 전기 신호로 변환하는 단계; 및상기 제1 전기 신호의 평균 시간과, 상기 여기 광원의 일부가 지연되어 상기 광 감지부에서 변환된 제2 전기 신호의 평균 시간과의 차이를 이용하여 형광 수명을 계산하는 단계를 포함하며,상기 여기 광원의 일부는, 제1 전기 신호들 간의 간격 내에서 획득되도록 지연되는 것을 특징으로 하는 형광수명 측정 방법
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제 14 항에 있어서,상기 시료가 제거된 상태에서 상기 제1 전기 신호의 평균 시간과 상기 제2 전기 신호의 평균시간과의 차이를 계산하여 그 결과를 상기 여기광에 반영시키는 단계를 더 포함하는 형광수명 측정 방법
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