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미세입자 계측 장치 및 방법 및 그 제작 방법

  • 기술번호 : KST2014058477
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 미세입자 계측 장치 및 그 제작방법에 관한 것으로, 특히, 측정 시료인 미세입자 하나만 통과할 수 있는 크기의 미세유체관을 구비하고 미세유체관 가운데에 센싱 전극을 배치하고 센싱전극을 사이에두고 미세 입자 유입되는 측과 배출되는 측에 기준전극을 배치하여 미세유체관을 통과하는 미세입자를 독립적으로 계측하여 병렬 측정이 가능한 미세입자 계측 방법 및 장치 및 그 제조방법에 관한 것이다
Int. CL G01N 15/14 (2006.01.01) G01N 15/12 (2006.01.01) G01N 27/02 (2006.01.01) G01N 33/483 (2006.01.01)
CPC G01N 15/1459(2013.01) G01N 15/1459(2013.01) G01N 15/1459(2013.01) G01N 15/1459(2013.01) G01N 15/1459(2013.01)
출원번호/일자 1020120053576 (2012.05.21)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1344040-0000 (2013.12.16)
공개번호/일자 10-2012-0129836 (2012.11.28) 문서열기
공고번호/일자 (20131224) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020110047335   |   2011.05.19
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.05.21)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권성훈 대한민국 서울 관악구
2 김준회 대한민국 서울 마포구
3 천홍구 대한민국 서울 송파구
4 김은근 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남정길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 인화빌딩 *층 (삼성동)(특허법인(유한)아이시스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.05.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0403249-54
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.03.25 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.05.08 수리 (Accepted) 9-1-2013-0034128-71
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.06.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0442678-67
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.08.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0771684-12
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.08.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-0771674-66
8 등록결정서
Decision to grant
2013.12.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0862919-16
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판;측정하고자 하는 미세입자가 통과할 수 있는 단면적의 미세유체관이 하나 이상 형성된 미세유체관 레이어;각각의 상기 미세유체관을 가로지르도록 상기 기판 상에 형성되는 센싱전극; 및각각의 상기 센싱 전극을 사이에 두고 상기 미세유체가 유입되는 측과 상기 미세유체가 배출되는 측의 상기 미세유체관을 가로지르도록 상기 기판 상에 형성되고 기준전압이 인가되는 기준전극을 포함하고,상기 센싱전극 출력신호를 분석하여 통과한 미세입자의 크기, 개수 또는 농도를 산출하는 미세입자 계측장치
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서,상기 미세유체관 레이어는 소프트리소그라피 또는 식각공정으로 형성되는 미세입자 계측장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 미세유체관은 측정하고자하는 미세입자가 통과할 수 있는 단면적으로 형성되는 미세입자 계측장치
5 5
제 1 항에 있어서,하나 이상의 상기 미세유체관은 병렬로 연결되는 미세입자 계측장치
6 6
제 5 항에 있어서, 하나 이상의 상기 미세유체관의 일측은 상기 미세유체가 유입되는 유입공에 각각 독립적으로 연결되고 상기 미세유체관의 타측은 상기 미세유체가 배출되는 배출공에 각각 독립적으로 연결되는 미세입자 계측장치
7 7
제 5 항에 있어서,하나 이상의 상기 미세유체관의 일측은 상기 미세유체가 유입되는 유입공에 연결되고 상기 미세유체관의 타측은 상기 미세유체가 배출되는 배출공에 연결되고,하나 이상의 상기 미세유체관은 하나의 상기 유입공을 공유하거나 하나 이상의 상기 미세유체관은 하나의 상기 배출공을 공유하는 미세입자 계측장치
8 8
측정하고자 하는 미세유체가 통과할 수 있는 단면적의 미세유체관이 하나 이상 형성된 미세유체관 레이어를 형성하는 단계;기판을 준비하고 상기 기판 상에 전극층을 증착한 후 패터닝하여 센싱전극과 기준전극을 형성하는 단계; 및상기 센싱전극과 상기 기준전극이 형성된 상기 기판에 상기 미세유체관 레이어를 접합하는 단계를 포함하고,상기 센싱전극은 각각의 상기 미세유체관을 가로지르도록 상기 기판 상에 형성되고, 상기 기준전극은 각각의 상기 센싱전극을 사이에 두고 상기 미세유체가 유입되는 측과 상기 미세유체가 배출되는 측의 상기 미세유체관을 가로지르도록 상기 기판 상에 형성되고 기준전압이 인가되고,상기 접합 단계에서 상기 센싱전극이 상기 미세유체관 가운데를 가로지르도록 배치하여 접합되는 미세입자 계측장치 제작방법
9 9
제 8 항에 있어서,상기 미세유체관 레이어를 형성하는 단계는 상기 미세유체관 형상의 볼록부가 하나 이상 형성된 몰드에 경화성 수지를 증착 또는 도포한 후 경화시키는 소프트리소그라피 방법을 사용하는 미세입자 계측장치 제작방법
10 10
제 8 항에 있어서,상기 미세유체관 레이어를 형성하는 단계는 레이어를 식각하여 하나 이상의 상기 미세유체관을 형성하는 식각 공정을 사용하는 미세입자 계측장치 제작방법
11 11
제 8 항에 있어서,상기 전극층은 Pt, Ti, Cu, Ag/AgCl, 폴리머 전극 중 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 미세입자 계측장치 제작방법
12 12
제 1 항의 상기 미세입자 계측장치의 상기 센싱전극 출력 신호의 피크 전위 변화량 크기의 분포를 산출하여, 미세 입자의 통과 여부, 통과 속도, 통과 시점, 미세입자의 크기 및 농도를 산출하는 미세입자 계측방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.