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위치 기반 서비스 제공 방법, 전자 장치, 서버 및 저장 매체(METHOD FOR PROVIDING LOCATION BASED SERVICE, ELECTRONIC APPARATUS, SERVER AND STORAGE MEDIUM)

  • 기술번호 : KST2016008105
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 다양한 실시예에 따르면, 전자 장치에 의한 위치 기반 서비스의 제공 방법은, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및 상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함할 수 있다.
Int. CL H04W 64/00 (2009.01.01) H04W 4/029 (2018.01.01) H04W 88/02 (2009.01.01) G01S 5/16 (2006.01.01) H04W 4/02 (2018.01.01) H04W 4/33 (2018.01.01)
CPC H04W 64/00(2013.01) H04W 64/00(2013.01) H04W 64/00(2013.01) H04W 64/00(2013.01) H04W 64/00(2013.01) H04W 64/00(2013.01)
출원번호/일자 1020140125319 (2014.09.19)
출원인 삼성전자주식회사, 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0034138 (2016.03.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.09.19)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안현기 대한민국 서울특별시 성동구
2 공승현 대한민국 대전광역시 유성구
3 김성은 대한민국 경기도 수원시 영통구
4 김빈히 대한민국 대전광역시 유성구
5 김응선 대한민국 경기도 수원시 영통구
6 설상환 대한민국 대전광역시 유성구
7 홍현수 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이건주 대한민국 서울 종로구 명륜동*가 ***-* 미화빌딩 이건주특허법률사무소
2 김정훈 대한민국 서울 종로구 명륜동*가 ***-* 미화빌딩 (이건주특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.09.19 수리 (Accepted) 1-1-2014-0892785-19
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
6 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2019.09.19 수리 (Accepted) 1-1-2019-0957826-34
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.02.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.04.10 수리 (Accepted) 9-1-2020-0015402-28
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
11 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.07.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0506573-93
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.09.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-1015770-85
13 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.09.24 수리 (Accepted) 1-1-2020-1015769-38
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전자 장치에 의한 위치 기반 서비스의 제공 방법에 있어서,상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작;상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함하는 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보, 상기 전자 장치의 이동 속도에 대한 정보 및 상기 전자 장치의 변위에 대한 정보 중 적어도 하나를 포함하는 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보를 포함하고,상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴은, 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하는 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하는 동작;상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하는 동작; 및상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들의 비교 값들을 산출하는 동작;상기 산출된 비교 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 비교 값을 결정하는 동작; 및상기 결정된 비교 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하는 동작; 및상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
7 7
제1항에 있어서, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정하는 동작; 및상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
8 8
제1항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들의 각각에 대응하여 합산하는 동작; 및합산된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
9 9
제1항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하는 동작;상기 복수의 방향들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 및합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
10 10
제1항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은,상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하는 방법
11 11
제1항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은,상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 및합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
12 12
제1항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은,상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하는 동작;상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작; 및합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
13 13
제1항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작;합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정하는 동작; 및상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
14 14
제1항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작은, 상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하는 동작;상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하는 동작;합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정하는 동작;상기 복수의 방향들 중 적어도 하나에 따른 상기 자기장 차분 분포 맵 내 제2의 후보 패턴이 상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴과 일치할 확률 값을 산출하는 동작;상기 제2의 후보 패턴에 대하여 산출된 상기 확률 값이 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는지의 여부를 결정하는 동작; 및상기 확률 값이 상기 미리 설정된 임계 범위 내에 속하면, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하는 동작을 포함하는 방법
15 15
제1항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵을 서버로부터 수신하는 동작을 더 포함하는 방법
16 16
전자 장치의 위치 결정 방법을 실행하기 위한 프로그램을 기록한 기계로 읽을 수 있는 저장 매체에 있어서, 상기 방법은,상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하는 동작;상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하는 동작; 상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하는 동작; 및상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하는 동작을 포함하는 방법
17 17
전자 장치에 있어서,상기 전자 장치의 이동에 대한 정보를 검출하도록 구성된 제1 센서;상기 전자 장치의 이동에 따라 변화하는 상기 전자 장치 주변의 자기장 세기 값들을 측정하도록 구성된 제2 센서;자기장 차분 분포 맵을 저장하도록 구성된 메모리;상기 전자 장치의 이동에 따른 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하고, 상기 결정된 위치에 근거한 서비스를 제공하도록 구성된 프로세서를 포함하는 전자 장치
18 18
제17항에 있어서, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보, 상기 전자 장치의 이동 속도에 대한 정보 및 상기 전자 장치의 변위에 대한 정보 중 적어도 하나를 포함하는 전자 장치
19 19
제17항에 있어서, 상기 전자 장치의 이동에 대한 정보는, 상기 전자 장치의 이동 방향에 대한 정보를 포함하고,상기 주변 자기장의 측정된 세기 값들의 변화 패턴은, 상기 전자 장치의 이동 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 상기 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하는 전자 장치
20 20
제17항에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하고,상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하고,상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
21 21
제17항에 있어서, 상기 프로세서는,상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들의 비교 값들을 산출하고,상기 산출된 비교 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 비교 값을 결정하고,상기 결정된 비교 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
22 22
제17항에 있어서, 상기 프로세서는,상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하고,상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
23 23
제17항에 있어서, 상기 프로세서는,상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 산출된 확률 값들 중에서 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는 확률 값을 결정하고,상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
24 24
제17항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는,상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고,합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
25 25
제17항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는,상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하고,상기 복수의 방향들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고,합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
26 26
제17항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 방향성 자기장 차분 분포 맵은,상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하는 전자 장치
27 27
제17항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 자기장 차분 분포 맵은,상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는,상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고,합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
28 28
제17항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 각각 대응하는 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들을 포함하고, 각 자기장 차분 분포 맵은,상기 복수의 방향들 중 해당 방향에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는,상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 산출된 확률 값들 중 상기 전자 장치의 이동 방향에 대응하는 확률 값에 제1 가중치를 적용하고, 상기 산출된 확률 값들의 나머지 확률 값에 상기 제1 가중치보다 낮은 적어도 하나의 제2 가중치를 적용하고,상기 복수의 방향성 자기장 차분 분포 맵들에 대한 상기 제1 및 제2 가중치들이 적용된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고,합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
29 29
제17항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는,상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고,합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정하고,상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
30 30
제17항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는,상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 미리 설정된 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고,합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 추정하고,상기 복수의 방향들 중 적어도 하나에 따른 상기 자기장 차분 분포 맵 내 제2의 후보 패턴이 상기 전자 장치에 미리 저장된 자기장 세기 값들과 상기 미리 저장된 자기장 세기 값들에 후속하는 상기 측정된 자기장 세기 값들의 제2의 변화 패턴과 일치할 확률 값을 산출하고,상기 제2의 후보 패턴에 대하여 산출된 상기 확률 값이 미리 설정된 임계 범위 내에 속하는지의 여부를 결정하고,상기 확률 값이 상기 미리 설정된 임계 범위 내에 속하면, 상기 추정된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 전자 장치
31 31
제17항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵을 서버로부터 수신하도록 구성된 통신 인터페이스를 더 포함하는 전자 장치
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서버에 있어서,통신 인터페이스;자기장 차분 분포 맵을 저장하도록 구성된 메모리;상기 통신 인터페이스를 통해 측정된 자기장 세기 값들 또는 상기 측정된 세기 값들의 변화 패턴을 상기 전자 장치로부터 수신하고, 상기 측정된 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵의 비교에 근거하여, 상기 전자 장치의 위치를 결정하고, 상기 통신 인터페이스를 통해 상기 결정된 위치에 대한 정보를 상기 전자 장치로 전송하도록 구성된 프로세서를 포함하는 서버
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제32항에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 측정된 자기장 세기 값들의 변화 패턴과 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들을 비교하고,상기 비교의 결과에 근거하여, 상기 후보 패턴들 중 상기 변화 패턴과의 차이가 가장 작은 후보 패턴을 결정하고,상기 결정된 후보 패턴과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 서버
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제32항에 있어서, 상기 프로세서는,상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 산출된 확률 값들 중에서 가장 높은 확률 값을 결정하고,상기 결정된 확률 값과 연관된 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 서버
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제32항에 있어서, 상기 자기장 차분 분포 맵은,복수의 방향들에 따라 일정한 거리 간격마다 산출되는 자기장 세기 값들의 변화량들을 포함하고, 상기 프로세서는,상기 복수의 방향들의 각각에 따라 상기 자기장 차분 분포 맵 내 후보 패턴들이 상기 변화 패턴과 일치할 확률 값들을 산출하고,상기 복수의 방향들에 대한 상기 산출된 확률 값들을 복수의 후보 위치들에 대응하여 합산하고,합산 값들 중에서 가장 높은 합산 값에 대응하는 후보 위치를 상기 전자 장치의 위치로 결정하도록 구성된 서버
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