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입력 받은 제품 라인 소스코드를 제품 라인의 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 단계; 입력 받은 제품 라인 시험 항목을 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 생성하는 단계; 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드를 추출하는 단계; 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블에서 상기 변경된 소스코드를 검색하여, 제품 라인을 구성하는 변경된 스페이스의 집합을 추출하는 단계; 및 상기 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 활용하여 상기 변경된 스페이스의 집합으로부터 변경 무관 시험 항목들을 제거하고, 재시험할 시험 항목을 선택하는 단계를 포함하고, 상기 스페이스의 집합은, 제품 군의 제품들의 소스코드를 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 나누어진 코드 세그먼트들의 집합이며, 상기 입력 받은 제품 라인 시험 항목을 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 생성하는 단계는, 제품 라인을 구성하는 모든 제품의 제품 라인 구성 시험 항목을 추출하여 중복 없이 수집하는 단계; 추출한 각각의 상기 제품 라인 시험 항목이 어느 제품에 포함된 것인지 검색하는 단계; 및 검색 후, 포함된 제품 집합으로 구성되는 시험 수트에 분배하여 상기 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 생성하는 단계를 포함하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 방법
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제1항에 있어서, 제품 라인을 구성하는 모든 상기 제품 라인 소스코드와 상기 제품 라인 시험 항목들을 일괄적으로 분석하여, 한 번의 수행으로 제품 라인 전체를 위한 회귀 시험 항목을 선택하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 방법
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제1항에 있어서,상기 입력 받은 제품 라인 소스코드를 제품 라인의 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 단계는, 제품 라인을 구성하는 모든 제품의 구성인 메소드와 필드 항목을 추출하여 중복 없이 수집하는 단계; 추출한 각각의 상기 메소드와 필드가 어느 제품에 포함된 것인지 검색하는 단계; 및 검색 후, 포함된 제품 집합으로 구성되는 스페이스로 분배하여 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 단계를 포함하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 방법
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제3항에 있어서,상기 제품 라인을 구성하는 모든 제품의 구성인 메소드와 필드 항목을 추출하여 중복 없이 수집하는 단계는, 추출하는 항목들을 서로 구별될 수 있도록 유일한 식별자를 사용하여, 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 방법
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제1항에 있어서,상기 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드를 추출하는 단계는, 소스코드 비교 분석 도구를 이용하여 상기 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드인 변경된 메소드 또는 필드의 집합을 추출하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 방법
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입력 받은 제품 라인 소스코드를 제품 라인의 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 단계; 입력 받은 제품 라인 시험 항목을 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 생성하는 단계; 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드를 추출하는 단계; 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블에서 상기 변경된 소스코드를 검색하여, 제품 라인을 구성하는 변경된 스페이스의 집합을 추출하는 단계; 및 상기 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 활용하여 상기 변경된 스페이스의 집합으로부터 변경 무관 시험 항목들을 제거하고, 재시험할 시험 항목을 선택하는 단계를 포함하고, 상기 스페이스의 집합은, 제품 군의 제품들의 소스코드를 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 나누어진 코드 세그먼트들의 집합이며, 상기 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드를 추출하는 단계는, 소스코드 비교 분석 도구를 이용하여 상기 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드인 변경된 메소드 또는 필드의 집합을 추출하고, 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블에서 상기 변경된 소스코드를 검색하여, 제품 라인을 구성하는 변경된 스페이스의 집합을 추출하는 단계는, 추출된 상기 변경된 메소드 또는 필드가 포함된 스페이스를 식별하는 단계; 및 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블에서 상기 변경된 메소드 또는 필드를 검색하여, 제품 라인을 구성하는 각각의 메소드 또는 필드를 포함하는 스페이스의 집합을 추출하는 단계를 포함하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 방법
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제7항에 있어서,상기 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 활용하여 상기 변경된 스페이스의 집합으로부터 변경 무관 시험 항목들을 제거하고, 재시험할 시험 항목을 선택하는 단계는, 상기 변경된 스페이스의 집합에 대해 각 스페이스를 포함하는 제품 집합의 모든 부분 집합을 멱 집합 연산을 통해 획득하여, 각 부분 집합은 변경되지 않은 제품을 원소로 갖지 않도록 하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 방법
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입력 받은 제품 라인 소스코드를 제품 라인의 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 제품 라인 코드 파티션 테이블 생성부; 입력 받은 제품 라인 시험 항목을 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 생성하는 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블 생성부; 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드를 추출하는 변경된 소스코드 추출부; 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블에서 상기 변경된 소스코드를 검색하여, 제품 라인을 구성하는 변경된 스페이스의 집합을 추출하는 변경된 스페이스 집합 추출부; 및 상기 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 활용하여 상기 변경된 스페이스의 집합으로부터 변경 무관 시험 항목들을 제거하고, 재시험할 시험 항목을 선택하는 회귀 시험 항목 선택부를 포함하고, 상기 스페이스의 집합은, 제품 군의 제품들의 소스코드를 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 나누어진 코드 세그먼트들의 집합이며, 상기 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블 생성부는, 제품 라인을 구성하는 모든 제품의 제품 라인 구성 시험 항목을 추출하여 중복 없이 수집하고, 추출한 각각의 상기 제품 라인 시험 항목이 어느 제품에 포함된 것인지 검색하여, 포함된 제품 집합으로 구성되는 시험 수트에 분배하여 상기 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 생성하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 시스템
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제9항에 있어서, 제품 라인을 구성하는 모든 상기 제품 라인 소스코드와 상기 제품 라인 시험 항목들을 일괄적으로 분석하여, 한 번의 수행으로 제품 라인 전체를 위한 회귀 시험 항목을 선택하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 시스템
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제9항에 있어서,상기 제품 라인 코드 파티션 테이블 생성부는, 제품 라인을 구성하는 모든 제품의 구성인 메소드와 필드 항목을 추출하여 중복 없이 수집하고, 추출한 각각의 상기 메소드와 필드가 어느 제품에 포함된 것인지 검색하여, 포함된 제품 집합으로 구성되는 스페이스로 분배하여 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 시스템
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제11항에 있어서,상기 제품 라인 코드 파티션 테이블 생성부는, 추출하는 항목들을 서로 구별될 수 있도록 유일한 식별자를 사용하여, 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 시스템
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제9항에 있어서,상기 변경된 소스코드 추출부는, 소스코드 비교 분석 도구를 이용하여 상기 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드인 변경된 메소드 또는 필드의 집합을 추출하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 시스템
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입력 받은 제품 라인 소스코드를 제품 라인의 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 코드 파티션 테이블을 생성하는 제품 라인 코드 파티션 테이블 생성부; 입력 받은 제품 라인 시험 항목을 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 생성하는 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블 생성부; 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드를 추출하는 변경된 소스코드 추출부; 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블에서 상기 변경된 소스코드를 검색하여, 제품 라인을 구성하는 변경된 스페이스의 집합을 추출하는 변경된 스페이스 집합 추출부; 및 상기 제품 라인 시험 항목 파티션 테이블을 활용하여 상기 변경된 스페이스의 집합으로부터 변경 무관 시험 항목들을 제거하고, 재시험할 시험 항목을 선택하는 회귀 시험 항목 선택부를 포함하고, 상기 스페이스의 집합은, 제품 군의 제품들의 소스코드를 공통성 및 가변성을 기반으로 분할하여 나누어진 코드 세그먼트들의 집합이며, 상기 변경된 스페이스 집합 추출부는, 소스코드 비교 분석 도구를 이용하여 상기 기설정된 상기 제품 라인 소스코드와 변경된 제품 라인 소스코드로부터 변경된 소스코드인 변경된 메소드 또는 필드의 집합을 추출하고, 추출된 상기 변경된 메소드 또는 필드가 포함된 스페이스를 식별하고, 상기 제품 라인 코드 파티션 테이블에서 상기 변경된 메소드 또는 필드를 검색하여, 제품 라인을 구성하는 각각의 메소드 또는 필드를 포함하는 스페이스의 집합을 추출하는 것을 특징으로 하는 제품 라인을 위한 코드 기반의 자동화된 회귀 시험 항목 선택 시스템
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