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기설정된 크기로 스팟(Spot) 단위의 광을 조사하는 광학부;상기 조사된 된 광을 홀로그래픽 시료의 측정 위치에 실상 형태로 결상시키는 제1 렌즈부;상기 홀로그래픽 시료에 조사된 광에 따라 국소 면적의 광파만을 복원하여 이미징하는 제2 렌즈부; 및상기 제2 렌즈부를 통해 이미징되는 상의 스펙트럼을 측정하는 스펙트럼 측정기를 포함하고,상기 홀로그래픽 시료에는 관심 픽셀에만 광원이 조사되어 상기 관심 픽셀에서만 광파가 복원되고, 픽셀의 파장 선택 특성에 의해 투과하는 파장이 선택되는 것을 특징으로 하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 장치
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제1항에 있어서, 상기 광학부는,다파장의 광을 조사하는 광원;상기 광원을 통해 조사된 광의 광량을 집속시키는 포커싱 렌즈; 및 기설정된 크기의 개구부를 포함하고, 상기 포커싱 렌즈를 통해 집속된 광이 상기 개구부를 통과하면서 스팟 단위의 광원이 조사되는 핀홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 장치
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제1항에 있어서, 상기 제1 렌즈부는 삼중 렌즈이고, 상기 제2 렌즈부는 이미지 렌즈인 것을 특징으로 하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 장치
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제1항에 있어서, 상기 광학부와 제1 렌즈부 사이의 거리(d1), 상기 제1 렌즈부와 홀로그래픽 시료 사이의 거리(d2)가 동일해지도록 상기 광학부와 홀로그래픽 시료 사이에 상기 제1 렌즈부를 배치하는 것을 특징으로 하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 장치
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광원, 다수의 렌즈 및 스펙트럼 측정기를 이용하여 홀로그래픽 시료의 스펙트럼을 측정하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 방법에 있어서,상기 광원이 기설정된 크기로 스팟(Spot) 단위의 광을 조사하는 단계;제1 렌즈부를 이용하여 상기 조사된 된 광을 홀로그래픽 시료의 측정 위치에 실상 형태로 결상시키는 단계;제2 렌즈부를 이용하여 상기 홀로그래픽 시료에 조사된 광에 따라 국소 면적의 광파만을 복원하여 이미징하는 단계; 및상기 스펙트럼 측정기를 이용하여 상기 이미징되는 상의 스펙트럼을 측정하는 스펙트럼 측정하는 단계를 포함하고,상기 홀로그래픽 시료의 측정 위치에 실상 형태로 결상시키는 단계는 상기 홀로그래픽 시료의 관심 픽셀에만 광원이 조사되어 상기 관심 픽셀에서만 광파가 복원되고, 상기 복원된 광파는 픽셀의 파장 선택 특성에 의해 투과하는 파장이 선택되는 것을 특징으로 하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 방법
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제5항에 있어서, 상기 광원이 기설정된 크기로 스팟(Spot) 단위의 광을 조사하는 단계는,상기 광원이 다파장의 광을 조사하면, 포커싱 렌즈를 통해 상기 조사된 광의 광량을 집속시키는 단계; 및 기설정된 크기의 개구부를 포함하는 핀홀을 이용하여 상기 포커싱 렌즈를 통해 집속된 광이 상기 개구부를 통과하면서 스팟 단위의 광원이 조사되도록 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 방법
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제5항에 있어서, 상기 제1 렌즈부는 삼중 렌즈이고, 상기 제2 렌즈부는 이미지 렌즈인 것을 특징으로 하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 방법
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제5항에 있어서, 상기 광원과 제1 렌즈부 사이의 거리(d1), 상기 제1 렌즈부와 홀로그래픽 시료 사이의 거리(d2)가 동일해지도록 상기 광원과 홀로그래픽 시료 사이에 상기 제1 렌즈부를 배치하는 것을 특징으로 하는 풀컬러 홀로그램의 스펙트럼 측정 방법
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