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상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법

  • 기술번호 : KST2014062565
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법에 관한 것이다. 더 자세하게는 산화아연 박막에 주입된 코발트 클러스터에 수백 MeV의 고에너지를 가진 중(重)이온을 소정의 이온선량으로 조사하여 단시간 내에 상기 코발트 클러스터를 분해시킨 다음 산화아연의 격자 내에 고용시킴으로써 우수한 강자성 특성을 나타내는 코발트가 주입된 산화아연 박막을 상온에서 제작하는 방법에 관한 것이다.본 발명에서는 산화아연 박막을 플라즈마 보조 분자선 증착법(plasma assisted molecular beam epitaxy, PA-MBE)으로 단결정 기판 위에 증착하는 단계와; 상기 증착된 산화아연 박막에 코발트 이온을 소정 이온선량으로 주입하는 단계와; 상기 코발트가 주입된 산화아연 박막에 상온에서 고에너지를 가진 중이온을 소정 이온선량으로 조사하는 단계를 포함하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법이 제시된다.코발트 주입 산화아연 반도체, 은 이온 조사, 자화이력, 항전계, 강자성, DMS(diluted magnetic semiconductor)
Int. CL H01L 21/265 (2006.01) H01L 21/20 (2006.01)
CPC H01L 21/265(2013.01) H01L 21/265(2013.01) H01L 21/265(2013.01) H01L 21/265(2013.01)
출원번호/일자 1020060044936 (2006.05.19)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0714974-0000 (2007.04.27)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070504) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.05.19)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최원국 대한민국 서울시 양천구
2 최지원 대한민국 서울시 성동구
3 박흥천 대한민국 경남 합천군
4 송종한 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이종일 대한민국 서울특별시 영등포구 당산로**길 **(당산동*가) 진양빌딩 *층(대일국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.05.19 수리 (Accepted) 1-1-2006-0348973-60
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.12.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.01.12 수리 (Accepted) 9-1-2007-0000328-68
4 등록결정서
Decision to grant
2007.02.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0085822-19
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
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번호 청구항
1 1
강자성을 띤 산화아연 박막을 제작하는 방법에 있어서,진공 챔버에서 단결정 기판에 산화아연을 증착시켜 상기 단결정 기판 위에 소정 두께로 산화아연 박막을 형성하는 1단계;상기 단결정 기판 위에 형성된 산화아연 박막에 이온 주입기를 사용하여 전이금속 이온을 소정의 이온선량으로 주입하는 2단계;상기 전이금속 이온이 주입된 산화아연 박막에 이온 가속기를 사용하여 상온에서 중이온을 소정의 이온선량으로 조사하는 3단계를 포함하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 1에 있어서,상기 단결정 기판은 (0001) 형태의 기판인 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 1에 있어서,상기 1 단계에서 형성된 산화아연 박막은 x-ray 오메가 록킹법에 의해 측정된 ZnO (0002) 회절 피크의 반폭치 값이 86 내지 92 arcsec 인 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 1에 있어서,상기 1단계에서 형성된 산화아연 박막은 전자농도가 인 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 1에 있어서,상기 1단계에서 형성된 산화아연 박막은 전기이동도가 103 내지 105 ㎠/Vs 인 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 1에 있어서,상기 2단계에서 주입되는 전이금속 이온은 코발트 이온인 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 6에 있어서,상기 코발트 이온은 80 keV의 에너지로 주입되는 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 6에 있어서,상기 코발트 이온의 주입 이온선량은 내지 ions/㎠ 의 범위에서 선택되는 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 1에 있어서,상기 2단계에서 단결정 기판의 온도를 300 ℃로 유지하는 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 1에 있어서,상기 3단계에서 이온 가속기의 가속 전압은 상기 조사되는 중이온의 평균 주입 깊이가 상기 형성된 산화아연 박막의 두께보다 크게 하는 범위에서 선택되는 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 1에 있어서,상기 3단계에서 조사되는 중이온은 은 이온인 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 11에 있어서,상기 은 이온은 200 MeV 의 에너지로 조사되는 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 11에 있어서,상기 은 이온은 15가의 이온인 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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청구항 11에 있어서,상기 은 이온의 조사 이온선량은 ions/㎠ 인 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
15 15
청구항 1에 있어서,상기 3단계에서 조사되는 중이온은 수백 MeV의 에너지를 가진 것을 특징으로 하는 상온에서의 강자성 산화아연 반도체 박막 제작 방법
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