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에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2015084881
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법 및 장치에 관한 것으로서, 이방성 확산 장치에서, 노이즈가 포함된 영상에서 에지의 방향을 결정하기 위한 방향성 패턴 마스크 처리를 수행하고, 상기 방향성 패턴 마스크 처리를 통해 얻은 값들의 회선 처리를 적용하여 에지의 강도를 계산하고, 계산된 에지의 강도값이 임계값 이상이면, 상기 영상의 에지를 보존하고, 임계값 미만이면, 상기 노이즈 제거를 강화함으로써, 영상의 특징을 나타내는 에지를 보존하면서 노이즈를 효과적으로 제거(은닉)할 수 있으므로 고품질의 영상을 획득할 수 있다. 노이즈, 에지, 이방성 확산, 십자형 커널, 4가지의 방향성 패턴 마스크, 회선, 강도, 에지 정지 함수.
Int. CL H04N 5/21 (2006.01) H04N 5/208 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020080109081 (2008.11.04)
출원인 한국전자통신연구원, 전남대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0050005 (2010.05.13) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.11.04)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 전남대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 장준영 대한민국 대전광역시 유성구
2 조한진 대한민국 대전광역시 서구
3 배영환 대한민국 대전광역시 유성구
4 김원종 대한민국 대전광역시 서구
5 이미영 대한민국 대전광역시 대덕구
6 김주엽 대한민국 대전광역시 서구
7 이귀상 대한민국 광주광역시 북구
8 전인산 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인씨엔에스 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, 대림아크로텔 *층(도곡동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.11.04 수리 (Accepted) 1-1-2008-0765476-74
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.06.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.07.16 수리 (Accepted) 9-1-2009-0043091-53
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.02.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0070036-92
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.04.19 수리 (Accepted) 1-1-2010-0248977-57
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.04.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0248976-12
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.08.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0352225-51
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2010.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0488763-03
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.07.23 수리 (Accepted) 4-1-2012-5157698-67
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000058-61
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2015-5076218-57
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.07.07 수리 (Accepted) 4-1-2016-5093177-51
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.03.30 수리 (Accepted) 4-1-2018-5056463-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
이방성 확산 장치에 의한 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법에 있어서, 노이즈가 포함된 영상에서 에지의 방향을 결정하기 위한 방향성 패턴 마스크 처리를 수행하는 단계; 상기 방향성 패턴 마스크 처리를 통해 얻은 값들의 회선 처리를 적용하여 에지의 강도를 계산하는 단계; 및 계산된 에지의 강도값에 따라 상기 영상의 에지를 보존하면서 상기 영상에서 노이즈를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 에지의 방향을 결정하기 위한 방향성 패턴 마스크 처리를 수행하는 단계는, 상기 영상의 현재 픽셀에서 가로 방향 마스크를 적용하여 가로선 에지 검출을 위한 가로선 값들을 산출하는 단계; 상기 영상의 현재 픽셀에서 세로 방향 마스크를 적용하여 세로선 에지 검출을 위한 세로선 값들을 산출하는 단계; 상기 영상의 현재 픽셀에서 좌측상향에서 우측하향을 향하는 대각선 방향 마스크를 적용하여 대각선 에지 검출을 위한 제1 대각선 값들을 산출하는 단계; 및 상기 영상의 현재 픽셀에서 우측상향에서 좌측하향을 향하는 대각선 방향 마스크를 적용하여 대각선 에지 검출을 위한 제2 대각선 값들을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 에지의 강도를 계산하는 단계는, 가로선(HM), 세로선(VM), 우측상향에서 좌측하향을 향하는 대각선(DML) 및 좌측상향에서 우측하향을 향하는 대각선(DMR) 방향 마스크에 대한 각각의 방향성 패턴 마스크 처리를 통해 얻은 각 값들(HM_1, HM_2, VM_1, VM_2, DML_1, DML_2, DMR_1, DMR_2)을 각각 회선(Convolution) 처리하여 하기 수학식 4와 같이, 각각의 에지의 강도(MoH, MoV, MoD_L, MoD_R)를 계산함을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 계산된 에지의 강도값에 따라 상기 영상의 에지를 보존하면서 상기 영상에서 노이즈를 제거하는 단계는, 상기 계산된 에지의 강도값과 미리 설정된 임계값을 비교하는 단계; 상기 강도값이 상기 임계값 이상이면 상기 영상의 현재 픽셀을 에지로 결정하고, 결정된 에지를 보존하는 단계; 및 상기 강도값이 상기 임계값 미만이면 상기 영상의 현재 픽셀을 에지가 아닌 영역으로 결정하고, 상기 영상의 노이즈 제거를 강화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법
5 5
제4항에 있어서, 상기 결정된 에지를 보존하는 단계는, 해당 방향으로 에지 정지함수를 적용하여 상기 결정된 에지를 보존함을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법
6 6
제4항에 있어서, 상기 영상의 노이즈 제거를 강화하는 단계는, 십자형 커널을 확장하여 대각선 방향의 픽셀 정보까지 포함한 이방성 확산을 적용하여 상기 영상의 노이즈 제거를 강화함을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 방법
7 7
노이즈가 포함된 영상에서 에지의 방향을 결정하기 위한 방향성 패턴 마스크 처리를 수행하는 마스크 처리부; 상기 방향성 패턴 마스크 처리를 통해 얻은 값들의 회선 처리를 적용하여 에지의 강도를 계산하는 강도 계산부; 상기 계산된 에지의 강도값과 미리 설정된 임계값을 비교하는 비교부; 상기 강도값이 상기 임계값 이상이면 상기 영상의 현재 픽셀을 에지로 결정하고, 결정된 에지를 보존하는 에지 보존부; 및 상기 강도값이 상기 임계값 미만이면 상기 영상의 현재 픽셀을 에지가 아닌 영역으로 결정하고, 상기 영상의 노이즈 제거를 강화하는 노이즈 제거부를 포함하는 것을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 장치
8 8
제7항에 있어서, 상기 마스크 처리부는, 상기 영상의 현재 픽셀에서, 가로 방향 마스크를 적용하여 가로선 에지 검출을 위한 가로선 값들을 산출하고, 세로 방향 마스크를 적용하여 세로선 에지 검출을 위한 세로선 값들을 산출하고, 좌측상향에서 우측하향을 향하는 대각선 방향 마스크를 적용하여 대각선 에지 검출을 위한 제1 대각선 값들을 산출하고, 우측상향에서 좌측하향을 향하는 대각선 방향 마스크를 적용하여 대각선 에지 검출을 위한 제2 대각선 값들을 산출함을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 장치
9 9
제7항에 있어서, 상기 강도 계산부는, 가로선(HM), 세로선(VM), 우측상향에서 좌측하향을 향하는 대각선(DML) 및 좌측상향에서 우측하향을 향하는 대각선(DMR) 방향 마스크에 대한 각각의 방향성 패턴 마스크 처리를 통해 얻은 각 값들(HM_1, HM_2, VM_1, VM_2, DML_1, DML_2, DMR_1, DMR_2)을 각각 회선(Convolution) 처리하여 하기 수학식 4와 같이, 각각의 에지의 강도(MoH, MoV, MoD_L, MoD_R)를 계산함을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 장치
10 10
제7항에 있어서, 상기 에지 보전부는 해당 방향으로 에지 정지함수를 적용하여 상기 결정된 에지를 보존함을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 장치
11 11
제7항에 있어서, 상기 노이즈 제거부는, 십자형 커널을 확장하여 대각선 방향의 픽셀 정보까지 포함한 이방성 확산을 적용하여 상기 영상의 노이즈 제거를 강화함을 특징으로 하는 에지의 방향성에 기반한 이방성 확산 장치
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20100111438 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2010111438 US 미국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부, 정보통신연구진흥원 한국전자통신연구원 IT성장동력기술개발 컨버전스 SoC기반 Smart Eye