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유기분자 소자의 제작 방법

  • 기술번호 : KST2015088423
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 도전성 유기박막 소자의 제작 방법에 관한 것으로, 희생층을 이용하여 하부전극 상부에 에어브리지형의 상부전극을 형성한 후 희생층을 제거하여 상부전극과 하부전극이 교차하는 부분에 수 나노 메터 두께의 나노 갭을 형성한다. 나노 갭의 상부전극과 하부전극 사이에 도전성 유기분자를 균일하게 흡착시키되, 도전성 유기분자가 흡착되는 동안 상부전극과 하부전극을 통해 흐르는 전류를 관찰하여 도전성 유기분자의 흡착 정도를 확인한다. 따라서 제작 공정의 재현성이 향상되어 표준화된 공정의 채택으로 대량 생산이 용이해진다. 도전성 유기분자, 희생층, 나노 갭, 흡착, 에어브리지형, 상부전극
Int. CL H01L 29/786 (2011.01) B82Y 10/00 (2011.01)
CPC
출원번호/일자 1020030062416 (2003.09.06)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0549227-0000 (2006.01.26)
공개번호/일자 10-2005-0025386 (2005.03.14) 문서열기
공고번호/일자 (20060203) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.09.06)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김성진 대한민국 대전광역시유성구
2 이효영 대한민국 대전광역시유성구
3 정문석 대한민국 전라북도전주시완산구
4 정태형 대한민국 대전광역시유성구
5 김도현 대한민국 대전광역시유성구
6 이은주 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.09.06 수리 (Accepted) 1-1-2003-0334753-46
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2005.05.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.06.16 수리 (Accepted) 9-1-2005-0036016-36
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0421773-94
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.10.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0594561-87
6 의견서
Written Opinion
2005.10.20 수리 (Accepted) 1-1-2005-0594565-69
7 등록결정서
Decision to grant
2006.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0047091-25
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
a) 기판 상에 하부전극을 형성하는 단계와,b) 상기 하부전극을 포함하는 상기 기판 상에 소정 크기의 희생층 패턴을 형성하는 단계와,c) 상기 희생층 패턴을 포함하는 상기 기판 상에 상부전극을 형성하는 단계와,d) 상기 희생층을 제거한 후, 전자빔 식각 기술로 폴리머 패턴을 형성하고 전체 상부면에 금속을 증착한 후 리프트오프 공정으로 상기 폴리머 패턴 상의 금속을 제거하며, 이어 상기 폴리머 패턴을 제거함으로써 상기 하부전극과 상부전극 사이에 나노 갭이 형성되도록 하는 단계와,e) 상기 나노 갭의 상부전극과 하부전극 사이에 도전성 유기분자를 흡착시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 기판은 저항성 절연물로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 기판 상에 절연막이 형성된 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
4 4
삭제
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 희생층 패턴은 상기 하부전극과 상기 상부전극이 교차되는 부분에 형성되는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 희생층 패턴은 상기 기판과 선택적 에칭 특성을 갖는 유기물, 산화막 또는 금속으로 형성하며, 나노 메터의 두께로 형성하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 희생층 패턴은 서로 다른 에칭 선택비를 갖는 다층 구조의 상기 유기물, 산화막 또는 금속으로 형성하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 나노 갭은 수직 거리 및 수평 거리가 비대칭적으로 형성하며, 상기 수평 거리가 상기 수직 거리보다 크게 형성하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 도전성 유기분자는 도전성 유기분자가 용해된 용액에 상기 기판이 담긴 상태에서 흡착되도록 하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 기판의 하부전극과 상부전극 사이에 전계를 인가하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
11 11
제 9 항에 있어서, 상기 용액을 교반시키거나 상기 용액에 열을 가하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
12 12
제 1 항에 있어서, 상기 도전성 유기분자 흡착 과정에서 상기 하부전극과 상부전극을 통해 흐르는 전류를 감지하여 흡착 여부 및 정도를 관찰하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
13 13
제 1 항에 있어서, 상기 단계 e)로부터 절연막으로 외부를 패시베이션하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
14 13
제 1 항에 있어서, 상기 단계 e)로부터 절연막으로 외부를 패시베이션하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기분자 소자의 제작 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US07510663 US 미국 FAMILY
2 US20050051768 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2005051768 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US7510663 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.