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RFID 미들웨어의 테스트를 위한 시뮬레이션 네트워크 시스템 및 가상 태그 인식 정보 생성 방법

  • 기술번호 : KST2017003915
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 RFID 미들웨어를 테스트할 때 필요한 태그 인식 정보를 생성하기 위해 RFID 응용 환경을 가상화하여 실제 RFID 응용 환경과 매우 유사한 태그 인식 정보를 생성하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템에 관한 것으로, RFID 응용환경의 가상화를 위해 구성되는 RFID 리더를 의미하는 노드;상기 RFID 리더 안테나 영역 밖에 있으면서 태그가 인식되지 않는 영역을 의미하는 노드;상기 노드들 사이를 연결하는 에지;를 포함하고, 상기 노드들 간에 연결된 에지를 따라 가상 태그가 노드들을 방문할 때, 노드에 위치하고 있는 가상 태그들에 대해 가상 태그 인식 정보를 생성하고, 상기 가상 태그 인식 정보를 RFID 리더 에뮬레이션 또는 시뮬레이션을 통해 RFID 미들웨어로 전송하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G06K 17/00 (2006.01)
CPC H04B 17/29(2013.01) H04B 17/29(2013.01) H04B 17/29(2013.01) H04B 17/29(2013.01) H04B 17/29(2013.01)
출원번호/일자 1020110060267 (2011.06.21)
출원인 부산대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1214650-0000 (2012.12.14)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20121224) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.06.21)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 부산대학교 산학협력단 대한민국 부산광역시 금정구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍봉희 대한민국 부산광역시 연제구
2 권준호 대한민국 경기도 안양시 동안구
3 류우석 대한민국 부산광역시 금정구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정기택 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로**길 **, *층 (반포동, 새로나빌딩)(스카이특허법률사무소)
2 오위환 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로**길 **, *층 (반포동, 새로나빌딩)(스카이특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 부산대학교 산학협력단 부산광역시 금정구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.06.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0472014-04
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2012.07.27 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2012.08.22 수리 (Accepted) 9-1-2012-0066695-96
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.08.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0495102-88
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.09.10 수리 (Accepted) 1-1-2012-0730671-90
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.09.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0730672-35
7 등록결정서
Decision to grant		 2012.11.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0683214-03
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.01.02 수리 (Accepted) 4-1-2014-0000027-56
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.01.13 수리 (Accepted) 4-1-2016-5004891-78
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2017-5004005-98
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2017-5004797-18
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
RFID 응용환경의 가상화를 위해 구성되는 RFID 리더를 의미하는 노드;상기 RFID 리더 안테나 영역 밖에 있으면서 태그가 인식되지 않는 영역을 의미하는 노드;상기 노드들 사이를 연결하는 에지;를 포함하고,상기 노드들 간에 연결된 에지를 따라 가상 태그가 노드들을 방문하도록 RFID 응용환경을 구성하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 가상 태그가 에지를 따라 노드들을 방문할 때,각각의 노드에 대해 가상 태그가 머무르는 시간을 규정하고, 상기 노드에 가상 태그가 상기 규정된 시간 동안 머물렀을 때 노드에 연결된 다른 노드로 상기 가상 태그를 이동시키는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 가상 태그가 에지를 따라 노드들을 방문할 때,각각의 노드에 대해 그룹 개수를 규정하고, 상기 노드에 가상 태그들의 수가 상기 규정된 그룹 개수와 동일 할 때 상기 가상 태그들을 상기 노드에 연결된 다른 노드로 상기 가상 태그를 이동시키는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 가상 태그가 에지를 따라 노드들을 방문할 때,각각의 노드에 대해 분할 주기를 규정하고, 상기 노드에서 다른 노드로 이동할 가상 태그가 복수 개인 경우 상기 규정된 분할 주기에 따라 상기 가상 태그들을 순차적으로 이동시키는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 가상 태그가 에지를 따라 노드들을 방문할 때,상기 노드에 연결된 다음 노드의 수가 복수 개인 경우, 상기 가상 태그가 이동할 상기 다음 노드를 결정하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 다음 노드를 결정할 때,복수 개의 다음 노드들을 하나씩 돌아가면서 선택하는 순차 순환식(Round-robin) 이동 규칙과,태그 식별자 값을 판별하여 판별된 태그 식별자 값에 따라 다음 노드를 선택하는 이동 규칙과,다음 노드들 각각에 확률 변수(Probability Variable)을 부여한 다음 확률에 따라 다음 노드를 선택하는 확률 이동 규칙을 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
7 7
RFID 응용환경의 가상화를 위해 구성되는 RFID 리더를 의미하는 노드;상기 RFID 리더 안테나 영역 밖에 있으면서 태그가 인식되지 않는 영역을 의미하는 노드;상기 노드들 사이를 연결하는 에지;를 포함하고,상기 노드들 간에 연결된 에지를 따라 가상 태그가 노드들을 방문할 때, 상기 노드에 위치하고 있는 가상 태그들에 대해 가상 태그 인식 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 노드에 위치하고 있는 가상 태그들에 대해 가상 태그 인식 정보를 생성할 때,상기 노드에 리드 사이클 값을 부여하고 매 리드 사이클마다 상기 리드 사이클 내에 존재했던 가상 태그들에 대해 확률 함수를 통해 가상 태그 인식 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 가상 태그 인식 정보를 생성할 때, 실제 RFID 리더에서 발생하는 읽기 실패 문제를 표현하기 위해 추가적으로 상기 노드에 노이즈 값을 부여하여, 태그 인식 정보 생성 확률을 낮추는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
10 10
제 7 항에 있어서, 상기 노드에 위치하고 있는 가상 태그들에 대해 가상 태그 인식 정보를 생성할 때,상기 노드에 리드 사이클, 인식 실패율의 RFID 리더의 물리적 특성을 수치화한 값을 부여하고, 상기 수치들에 기반하여 가상 태그 인식 정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
11 11
RFID 응용환경의 가상화를 위해 구성되는 RFID 리더를 의미하는 노드;상기 RFID 리더 안테나 영역 밖에 있으면서 태그가 인식되지 않는 영역을 의미하는 노드;상기 노드들 사이를 연결하는 에지;를 포함하고,상기 노드 간에 연결된 에지를 따라 가상 태그가 노드들을 방문할 때, 노드에 위치하고 있는 가상 태그들에 대해 가상 태그 인식 정보를 생성하고,상기 가상 태그 인식 정보를 RFID 리더 에뮬레이션 또는 시뮬레이션을 통해 RFID 미들웨어로 전송하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
12 12
삭제
13 13
RFID 미들웨어의 테스트를 위한 시뮬레이션 시스템에 있어서,실제 RFID 응용 환경의 가상화를 위해 RFID 리더를 의미하는 노드 및 상기 RFID 리더 안테나 영역 밖에 있으면서 태그가 인식되지 않는 영역을 의미하는 노드가 구성되고, 노드 간에 연결된 에지를 따라 가상 태그가 노드를 방문하도록 하는 가상 그래프 모델을 관리하는 태그 흐름 그래프 관리 모듈;상기 태그 흐름 그래프 내에 위치하는 가상 태그들의 위치 및 시간 정보를 관리하는 가상 태그 위치 정보 관리 모듈;상기 태그 위치 정보를 태그 이동 규칙에 따라 태그 위치를 갱신하는 태그 위치 이동 모듈;태그 이벤트 생성 규칙에 따라 태그 인식 정보를 생성하는 태그 이벤트 생성 모듈; 및 상기 태그 이벤트 생성 모듈에서 생성된 태그 인식 정보를 RFID 미들웨어로 전송하는 리더 에뮬레이션 모듈;을 포함하고,상기 태그 위치 이동 모듈에서의 태그 이동 규칙은 노드에서의 시간 경과에 따른 이동 규칙, 노드에 포함된 태그의 개수에 따른 이동 규칙, 여러 태그가 동시 이동시의 분할 규칙, 이동시에 이동할 대상 노드의 선정 규칙을 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
14 14
RFID 미들웨어의 테스트를 위한 시뮬레이션 시스템에 있어서,실제 RFID 응용 환경의 가상화를 위해 RFID 리더를 의미하는 노드 및 상기 RFID 리더 안테나 영역 밖에 있으면서 태그가 인식되지 않는 영역을 의미하는 노드가 구성되고, 노드 간에 연결된 에지를 따라 가상 태그가 노드를 방문하도록 하는 가상 그래프 모델을 관리하는 태그 흐름 그래프 관리 모듈;상기 태그 흐름 그래프 내에 위치하는 가상 태그들의 위치 및 시간 정보를 관리하는 가상 태그 위치 정보 관리 모듈;상기 태그 위치 정보를 태그 이동 규칙에 따라 태그 위치를 갱신하는 태그 위치 이동 모듈;태그 이벤트 생성 규칙에 따라 태그 인식 정보를 생성하는 태그 이벤트 생성 모듈; 및 상기 태그 이벤트 생성 모듈에서 생성된 태그 인식 정보를 RFID 미들웨어로 전송하는 리더 에뮬레이션 모듈;을 포함하고, 상기 태그 이벤트 생성 모듈에서는 태그가 노드에 머물러 있는 동안 실제 RFID 리더와 유사하게 리드 사이클, 인식 실패율의 RFID 리더의 물리적 특성을 수치화한 값을 부여하고 이에 따라 태그 이벤트를 생성하는 것을 특징으로 하는 RFID 미들웨어의 테스트를 위한 가상 태그 인식 정보 생성 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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