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2차원 반도체의 도핑 방법(MEHOD OF DOPING FOR TWO DIMENSIONAL SEMICONDUCTOR)

  • 기술번호 : KST2017007682
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 2차원 반도체의 도핑 방법에 관한 것으로서, 본 발명의 일 실시예에 따른 발명은 2차원 반도체의 도핑 방법은, 기판 상에 감광 입자가 포함된 절연층을 형성하는 단계; 열처리 공정을 통해, 절연층에 포함된 감광 입자를 절연층의 표면으로 이동시키는 단계; 절연층 상에, 2차원 반도체층을 형성하는 단계; 및 절연층에 포함된 감광 입자의 흡수 파장에 대응하는 빛을 노광시켜, 2차원 반도체층에 포함된 2차원 반도체 물질을 도핑시키는 단계를 포함한다.
Int. CL H01L 29/06 (2015.12.13) H01L 21/768 (2015.12.13) H01L 21/31 (2015.12.13) H01L 21/324 (2015.12.13) H01L 21/56 (2015.12.13)
CPC H01L 29/06(2013.01) H01L 29/06(2013.01) H01L 29/06(2013.01)
출원번호/일자 1020150151713 (2015.10.30)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0050316 (2017.05.11) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.10.30)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박진홍 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 박형열 대한민국 경기도 김포시 걸포*로 **,

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인엠에이피에스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 경기도 수원시 장안구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2015-1056216-45
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.10.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.12.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0166484-92
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.12.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0910688-27
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.02.20 수리 (Accepted) 1-1-2017-0173449-88
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.02.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0173450-24
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
8 등록결정서
Decision to grant
2017.06.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0408124-47
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번호 청구항
1 1
2차원 반도체의 도핑 방법에 있어서,기판 상에, 감광 입자가 포함된 절연층을 형성하는 단계;열처리 공정을 통해, 상기 절연층에 포함된 상기 감광 입자를 절연층의 표면으로 이동시키는 단계;상기 절연층 상에, 2차원 반도체층을 형성하는 단계; 및 상기 절연층에 포함된 상기 감광 입자의 흡수 파장에 대응하는 빛을 노광시키고, 상기 감광 입자의 광학적 활성화를 통해 상기 2차원 반도체층에 포함된 2차원 반도체 물질을 도핑시키는 단계를 포함하는, 2차원 반도체의 도핑 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 2차원 반도체 물질을 도핑시키는 단계 이전에, 상기 감광 입자가 포함된 절연층 및 2차원 반도체층이 형성된 기판을 어닐링하는 단계를 더 포함하는, 2차원 반도체의 도핑 방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 2차원 반도체 물질을 도핑시키는 단계는 빛의 노광에 의해 상이 변화된 감광 입자의 산화 또는 환원 반응을 통해 상기 2차원 반도체 물질에 전하가 전달되는 것인, 2차원 반도체의 도핑 방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 감광 입자는 광자를 흡수하여 전자를 전달하는 광유발 전자 전달(Photoinduced Electron Transfer, PET) 물질인 것인, 2차원 반도체의 도핑 방법
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 감광 입자는 셀렌화카드뮴 (CdSe), 산화타이타늄(TiO2), 및 루테늄 (Ruthenium) 화합물 중 어느 하나 이상을 포함하는 것인, 2차원 반도체의 도핑 방법
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 2차원 반도체 물질은전이금속칼코겐 화합물(Transition Metal Dichalcogenide) 중 어느 하나를 포함하는 것인, 2차원 반도체의 도핑 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 감광 입자가 포함된 절연층은오인산화인(P2O5)이 포함된 실리콘 다이옥사이드(SiO2)를 포함하는 것인, 2차원 반도체의 도핑 방법
8 8
제 1 항에 있어서,상기 2차원 반도체 물질의 도핑 농도는,상기 감광 입자가 상기 절연층의 표면에 분포하는 양 및 상기 감광 입자와 상기 2차원 반도체 물질과의 거리 중 적어도 하나에 따라 조절되는 것인, 2차원 반도체의 도핑 방법
9 9
청구항 1항 내지 8항 중 어느 한 항에 기재된 방법을 통해 도핑된 2차원 반도체
10 10
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11 11
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12 12
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13 13
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14 14
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15 15
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1 미래창조과학부 성균관대학교 중견연구자지원 사물인터넷 소자용 그래핀/전이금속칼코겐 화합물 기반 저전력 반도체소자 원천기술개발