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다중 부성 미분 저항 소자 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2018016377
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예에 따른 다중 부성 미분 저항 소자는 제 1 부성 미분 저항 소자 및 상기 제 1 부성 미분 저항 소자에 병렬 연결되는 제 2 부성 미분 저항 소자를 포함하되, 제 1 부성 미분 저항 소자의 피크 및 벨리 특성과 제 2 부성 미분 저항 소자의 피크 및 벨리 특성이 합성되어, 2개의 피크와 벨리를 갖는 것이다.
Int. CL H01L 27/06 (2006.01.01) H01L 29/861 (2006.01.01) H01L 27/24 (2006.01.01)
CPC H01L 27/0629(2013.01) H01L 27/0629(2013.01) H01L 27/0629(2013.01)
출원번호/일자 1020170073336 (2017.06.12)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0135341 (2018.12.20) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.06.12)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박진홍 대한민국 경기도 화성
2 심재우 대한민국 경기도 부천시 원미구
3 이혜원 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인엠에이피에스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 경기도 수원시 장안구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.06.12 수리 (Accepted) 1-1-2017-0558168-27
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2018-0527883-73
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.06.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0383233-29
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.08.06 수리 (Accepted) 1-1-2018-0774077-16
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.08.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0774078-62
6 등록결정서
Decision to grant
2018.12.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0876051-46
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
다중 부성 미분 저항 소자에 있어서,제 1 부성 미분 저항 소자 및상기 제 1 부성 미분 저항 소자에 병렬 연결되는 제 2 부성 미분 저항 소자를 포함하되,상기 제 1 부성 미분 저항 소자의 피크 및 벨리 특성과 상기 제 2 부성 미분 저항 소자의 피크 및 벨리 특성이 합성되어, 2개의 피크와 벨리를 갖는 것이고,상기 제 1 부성 미분 저항 소자 및 제 2 부성 미분 저항 소자는 각각 서로 접합된 상태에 있는 축퇴된 제 1 극성의 반도체와 축퇴된 제 2 극성의 반도체를 포함하고,상기 축퇴된 제 1 극성의 반도체 및 축퇴된 제 2 극성의 반도체 중 어느 하나에 접속된 저항 소자를 포함하는 것이며,상기 축퇴된 제 1 극성의 반도체층을 2개 형성하고, 상기 축퇴된 제 2 극성의 반도체층을 2개 형성하고, 상기 저항 소자를 2개 형성하는 공정을 통해 상기 축퇴된 제 1 극성의 반도체층, 축퇴된 제 2 극성의 반도체층 및 저항 소자가 동일 평면상에서 직렬로 배치되되, 상기 제 1 및 제 2 부성 미분 저항 소자는 상기 동일 평면상에서 병렬로 배치되는 것인 다중 부성 미분 저항 소자
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서,상기 축퇴된 제 1 극성의 반도체는 불순물의 농도가 매우 높아 페르미 레벨이 전도대 보다 높게 형성된 것이고, 상기 축퇴된 제 2 극성의 반도체는 불순물의 농도가 매우 높아 페르미 레벨이 가전자대 보다 낮게 형성된 것인 다중 부성 미분 저항 소자
4 4
제 1 항에 있어서,제 1 부성 미분 저항 소자는제 1 전극, 제 2 전극 및 제 3 전극;상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 배치되고, 서로 접합된 상태에 있는 축퇴된 p형 반도체와 축퇴된 n형 반도체; 및상기 제 2 전극과 상기 제 3 전극 사이에 배치된 저항 소자를 포함하고,상기 제 2 부성 미분 저항 소자는제 1 전극, 제 2 전극 및 제 3 전극;상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 배치되고, 서로 접합된 상태에 있는 축퇴된 p형 반도체와 축퇴된 n형 반도체; 및상기 제 2 전극과 상기 제 3 전극 사이에 배치된 저항 소자를 포함하며,상기 제 1 부성 미분 저항 소자의 제 1 전극과 제 2 부성 미분 저항 소자의 제 1 전극이 전기적으로 접속되고, 상기 제 1 부성 미분 저항 소자의 제 3 전극과 제 2 부성 미분 저항 소자의 제 3 전극이 전기적으로 접속된 것인 다중 부성 미분 저항 소자
5 5
제 1 항에 있어서,제 1 부성 미분 저항 소자는제 1 전극 및 제 2 전극;상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 배치되고, 서로 접합된 상태에 있는 축퇴된 p형 반도체, 축퇴된 n형 반도체 및 저항 소자를 포함하고,제 2 부성 미분 저항 소자는제 1 전극 및 제 2 전극;상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 배치되고, 서로 접합된 상태에 있는 축퇴된 p형 반도체, 축퇴된 n형 반도체 및 저항 소자를 포함하고,상기 제 1 부성 미분 저항 소자의 제 1 전극과 제 2 부성 미분 저항 소자의 제 1 전극이 전기적으로 접속되고, 상기 제 1 부성 미분 저항 소자의 제 2 전극과 제 2 부성 미분 저항 소자의 제 2 전극이 전기적으로 접속된 것인 다중 부성 미분 저항 소자
6 6
제 5 항에 있어서,상기 축퇴된 n형 반도체 및 저항 소자는상기 축퇴된 p형 반도체에 접합된 n형 반도체 중 축퇴된 p형 반도체와 접합을 이루는 부분을 축퇴시키는 공정을 통해 형성된 것인 다중 부성 미분 저항 소자
7 7
다중 부성 미분 저항 소자에 있어서,N 개의 부성 미분 저항 소자가 서로 병렬 접속된 것이고,각 부성 미분 저항 소자의 피크 및 벨리 특성이 합성되어 N 개의 피크와 벨리를 갖는 것이고,각각의 부성 미분 저항 소자는 서로 접합된 상태에 있는 축퇴된 p형 반도체 및 축퇴된 n형 반도체를 포함하고, 상기 축퇴된 p형 반도체 및 축퇴된 n형 반도체 중 어느 하나와 접속된 저항 소자를 포함하는 것이며,상기 축퇴된 p형 반도체층을 N 개 형성하고, 상기 축퇴된 n형 반도체층을 N 개 형성하고, 상기 저항 소자를 N 개 형성하는 공정을 통해 상기 축퇴된 p형 반도체층, 축퇴된 n형 반도체층 및 저항 소자가 동일 평면상에서 직렬로 배치되되, 상기 N 개의 부성 미분 저항 소자는 동일한 기판 상에서 병렬로 배치되는 것인 다중 부성 미분 저항 소자
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다중 부성 미분 저항 소자의 제조 방법에 있어서,기판에 축퇴된 제 1 극성의 반도체 층을 N(N은 2 이상의 자연수)개 형성하는 단계;상기 축퇴된 제 1 극성의 반도체 층과 접합하도록, 축퇴된 제 2 극성의 반도체 층을 N 개 형성하는 단계;상기 제 2 극성의 반도체 층과 인접하도록 N 개의 저항층을 형성하는 단계;상기 제 1 극성의 반도체 층과 접하는 N 개의 제 1 전극, 상기 제 2 극성의 반도체 층과 저항층 사이에 접하는 N 개의 제 2 전극 및 상기 저항층과 접하는 N 개의 제 3 전극을 각각 형성하는 단계; 및상기 N 개의 제 1 전극 및 N 개의 제 3 전극을 각각 병렬 접속하는 단계를 포함하는 다중 부성 미분 저항 소자의 제조 방법
9 9
다중 부성 미분 저항 소자의 제조 방법에 있어서,기판에 축퇴된 제 1 극성의 반도체 층을 N(N은 2 이상의 자연수)개 형성하는 단계;상기 축퇴된 제 1 극성의 반도체 층과 접합하도록, 제 2 극성의 반도체 층을 N 개 형성하는 단계;상기 축퇴된 제 1 극성의 반도체에 접합된 제 2 극성의 반도체 층 중 축퇴된 제 1 극성의 반도체와 접합을 이루는 부분을 축퇴시키는 단계;상기 제 1 극성의 반도체 층과 접하는 N 개의 제 1 전극, 상기 제 2 극성의 반도체 층 중 축퇴되지 않은 부분과 접하는 N 개의 제 2 전극을 각각 형성하는 단계; 및상기 N 개의 제 1 전극 및 N 개의 제 2 전극을 각각 병렬 접속하는 단계를 포함하는 다중 부성 미분 저항 소자의 제조 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US10566389 US 미국 FAMILY
2 US20180358412 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US10566389 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US2018358412 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.