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GSL의 누설 전류를 개선하는 3차원 플래시 메모리 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2022006572
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 COP 구조가 적용된 3차원 플래시 메모리에서 GSL의 누설 전류를 개선하기 위한 기술이 제안된다. 일 실시예에 따르면, COP 구조가 적용된 3차원 플래시 메모리는, 기판 상 수평 방향으로 연장 형성되며 순차적으로 적층되는 복수의 워드 라인들; 상기 복수의 워드 라인들의 하단에 위치하는 GSL(Ground Selection Line); 및 상기 복수의 워드 라인들 및 상기 GSL을 관통하여 상기 기판 상 수직 방향으로 연장 형성되는 적어도 하나의 스트링-상기 적어도 하나의 스트링은 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 채널층 및 상기 채널층을 감싸도록 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 전하 저장층을 포함함-을 포함하고, 상기 채널층 중 상기 GSL에 대응하는 일부 영역은, 상기 기판의 상부 표면의 결정화된 실리콘을 이용하여 실리콘으로 형성되는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 27/11582 (2017.01.01) H01L 27/11568 (2017.01.01) H01L 21/285 (2006.01.01) H01L 21/768 (2006.01.01)
CPC H01L 27/11582(2013.01) H01L 27/11568(2013.01) H01L 21/28525(2013.01) H01L 21/76883(2013.01)
출원번호/일자 1020200121278 (2020.09.21)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0038906 (2022.03.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.09.21)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송윤흡 서울특별시 성동구
2 김봉석 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2020.09.21 수리 (Accepted) 1-1-2020-0998696-14
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2021.10.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2021.12.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2022-0019368-97
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2022.03.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0169859-53
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2022.03.30 수리 (Accepted) 1-1-2022-0343457-04
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2022.03.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2022-0343458-49
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번호 청구항
1 1
COP 구조가 적용된 3차원 플래시 메모리에서, 기판 상 수평 방향으로 연장 형성되며 순차적으로 적층되는 복수의 워드 라인들; 상기 복수의 워드 라인들의 하단에 위치하는 GSL(Ground Selection Line); 및 상기 복수의 워드 라인들 및 상기 GSL을 관통하여 상기 기판 상 수직 방향으로 연장 형성되는 적어도 하나의 스트링-상기 적어도 하나의 스트링은 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 채널층 및 상기 채널층을 감싸도록 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 전하 저장층을 포함함-을 포함하고, 상기 채널층 중 상기 GSL에 대응하는 일부 영역은, 상기 기판의 상부 표면의 결정화된 실리콘을 이용하여 실리콘으로 형성되는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
2 2
제1항에 있어서,상기 채널층 중 상기 GSL에 대응하는 일부 영역은, 상기 기판의 상부 표면의 결정화된 실리콘을 기초로 하는 에피택셜(Epitaxial) 성장을 통해 상기 실리콘으로 형성되는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
3 3
제1항에 있어서,상기 기판의 상부 표면은, 상기 기판을 형성하는 폴리 실리콘에 레이저 어닐링(Laser annealing) 기법이 적용됨에 따라 상기 실리콘으로 결정화되는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
4 4
제1항에 있어서,상기 채널층 중 상기 복수의 워드 라인들에 대응하는 나머지 영역은, 폴리 실리콘으로 형성되는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
5 5
제1항에 있어서,상기 기판 중 상부 표면을 제외한 나머지 영역은, 폴리 실리콘으로 형성되는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
6 6
제1항에 있어서,상기 전하 저장층은, 상기 복수의 워드 라인들에 대응하는 위치에 연장 형성되는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
7 7
COP 구조가 적용된 3차원 플래시 메모리의 제조 방법에 있어서, 기판 상 수평 방향으로 연장 형성되며 순차적으로 적층되는 복수의 워드 라인들, 상기 복수의 워드 라인들의 하단에 위치하는 GSL(Ground Selection Line) 및 상기 복수의 워드 라인들과 상기 GSL을 관통하여 상기 기판 상 수직 방향으로 연장 형성되는 적어도 하나의 홀(Hole)을 포함하는 반도체 구조체를 준비하는 단계; 상기 반도체 구조체에서 상기 적어도 하나의 홀 내부에 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 내부 공간을 포함하는 전하 저장층을 연장 형성하는 단계; 및 상기 전하 저장층의 내부 공간을 통해, 상기 기판의 상부 표면의 결정화된 실리콘을 이용하여 상기 GSL에 대응하는 위치에 채널층 중 일부 영역을 실리콘으로 형성하는 단계를 포함하는 3차원 플래시 메모리의 제조 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 채널층 중 일부 영역을 실리콘으로 형성하는 단계는, 상기 기판의 상부 표면의 결정화된 실리콘을 기초로 하는 에피택셜(Epitaxial) 성장을 통해 상기 채널층 중 일부 영역을 상기 실리콘으로 형성하는 단계인 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 제조 방법
9 9
제7항에 있어서,상기 기판을 형성하는 폴리 실리콘에 레이저 어닐링(Laser annealing) 기법을 적용하여 상기 기판의 상부 표면을 상기 실리콘으로 결정화하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 제조 방법
10 10
제7항에 있어서,상기 채널층 중 상기 복수의 워드 라인들에 대응하는 나머지 영역을 폴리 실리콘으로 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 제조 방법
11 11
제7항에 있어서,상기 기판 중 상부 표면을 제외한 나머지 영역은, 폴리 실리콘으로 형성되는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 제조 방법
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