맞춤기술찾기

이전대상기술

프로그램 동작 시 메모리 셀들 사이의 간섭을 방지하는 3차원 플래시 메모리 및 그 동작 방법

  • 기술번호 : KST2022018006
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 프로그램 동작 시 메모리 셀들 사이의 간섭을 방지하는 3차원 플래시 메모리 및 그 동작 방법이 개시된다. 일 실시예에 따르면, 3차원 플래시 메모리는, 수평 방향으로 각각 연장 형성된 채 수직 방향으로 적층된 복수의 워드 라인들; 및 상기 복수의 워드 라인들을 상기 수직 방향으로 관통하며 연장 형성되는 적어도 하나의 메모리 셀 스트링-상기 적어도 하나의 메모리 셀 스트링은 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 채널층 및 상기 채널층을 감싸도록 연장 형성되는 전하 저장층을 포함한 채 상기 복수의 워드 라인들에 대응하는 복수의 메모리 셀들을 구성함-을 포함한다.
Int. CL G11C 16/04 (2006.01.01) G11C 16/08 (2006.01.01) G11C 16/10 (2006.01.01) H01L 27/1157 (2017.01.01) H01L 27/11582 (2017.01.01) G11C 8/12 (2006.01.01) G06F 12/02 (2018.01.01)
CPC G11C 16/0483(2013.01) G11C 16/08(2013.01) G11C 16/10(2013.01) H01L 27/1157(2013.01) H01L 27/11582(2013.01) G11C 8/12(2013.01) G06F 12/0246(2013.01)
출원번호/일자 1020210021346 (2021.02.17)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0117692 (2022.08.24) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.02.17)
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 송윤흡 서울특별시 성동구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2021-0193682-06
2 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2022.03.07 수리 (Accepted) 1-1-2022-0249520-00
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2022.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0323127-20
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2022.06.03 수리 (Accepted) 1-1-2022-0583203-87
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2022.06.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2022-0583206-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
프로그램 동작 시 메모리 셀들 사이의 간섭을 방지하는 3차원 플래시 메모리에 있어서, 수평 방향으로 각각 연장 형성된 채 수직 방향으로 적층된 복수의 워드 라인들; 및 상기 복수의 워드 라인들을 상기 수직 방향으로 관통하며 연장 형성되는 적어도 하나의 메모리 셀 스트링-상기 적어도 하나의 메모리 셀 스트링은 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 채널층 및 상기 채널층을 감싸도록 연장 형성되는 전하 저장층을 포함한 채 상기 복수의 워드 라인들에 대응하는 복수의 메모리 셀들을 구성함-을 포함하고, 상기 3차원 플래시 메모리는, 프로그램 동작 시 상기 복수의 메모리 셀들에 포함되는 오드(Odd) 메모리 셀들이 형성하는 오드 메모리 셀 블록 또는 이븐(Even) 메모리 셀들이 형성하는 이븐 메모리 셀 블록 중 어느 하나의 메모리 셀 블록에서만 대상 메모리 셀을 선택하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
2 2
제1항에 있어서,상기 3차원 플래시 메모리는, 상기 오드 메모리 셀 블록 또는 상기 이븐 메모리 셀 블록 중 상기 어느 하나의 메모리 셀 블록을 제외한 나머지 메모리 셀 블록을 상기 대상 메모리 셀이 선택되지 않는 더미 셀 블록으로 사용하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
3 3
제2항에 있어서,상기 3차원 플래시 메모리는, 메모리 웨어 레벨링(Memory wear leveling)을 위한 기 설정된 조건 발생 시 상기 대상 메모리 셀을 선택하는 메모리 셀 블록을 상기 나머지 메모리 셀 블록으로 전환하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
4 4
제2항에 있어서,상기 3차원 플래시 메모리는, 상기 어느 하나의 메모리 셀 블록에 포함되는 메모리 셀들이 모두 프로그램된 경우, 상기 오드 메모리 셀 블록 또는 상기 이븐 메모리 셀 블록 중 상기 어느 하나의 메모리 셀 블록을 제외한 나머지 메모리 셀 블록에서 상기 대상 메모리 셀을 선택하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
5 5
제1항에 있어서,상기 3차원 플래시 메모리는, 상기 대상 메모리 셀에 대한 프로그램 동작 시 상기 오드 메모리 셀 블록 또는 상기 이븐 메모리 셀 블록 중 상기 어느 하나의 메모리 셀 블록을 제외한 나머지 메모리 셀 블록에 포함되는 적어도 두 개 이상의 메모리 셀들을 간섭 방지 용도로 사용하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
6 6
제1항에 있어서,상기 3차원 플래시 메모리는, 상기 복수의 워드 라인들 중 오드 워드 라인들을 그룹핑하여 오드 메모리 셀 블록을 형성하고, 이븐 워드 라인들을 그룹핑하여 이븐 메모리 셀 블록을 형성하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리
7 7
수평 방향으로 각각 연장 형성된 채 수직 방향으로 적층된 복수의 워드 라인들; 및 상기 복수의 워드 라인들을 상기 수직 방향으로 관통하며 연장 형성되는 적어도 하나의 메모리 셀 스트링-상기 적어도 하나의 메모리 셀 스트링은 상기 수직 방향으로 연장 형성되는 채널층 및 상기 채널층을 감싸도록 연장 형성되는 전하 저장층을 포함한 채 상기 복수의 워드 라인들에 대응하는 복수의 메모리 셀들을 구성함-을 포함하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법에 있어서,상기 복수의 메모리 셀들에 포함되는 오드(Odd) 메모리 셀들이 형성하는 오드 메모리 셀 블록 또는 이븐(Even) 메모리 셀들이 형성하는 이븐 메모리 셀 블록 중 어느 하나의 메모리 셀 블록에서만 대상 메모리 셀을 선택하는 단계; 및 상기 복수의 워드 라인들 중 상기 선택된 대상 메모리 셀에 대응하는 워드 라인에 인가되는 프로그램 전압에 기초하여, 프로그램 동작을 수행하는 단계를 포함하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 오드 메모리 셀 블록 또는 상기 이븐 메모리 셀 블록 중 상기 어느 하나의 메모리 셀 블록을 제외한 나머지 메모리 셀 블록을 상기 대상 메모리 셀이 선택되지 않는 더미 셀 블록으로 사용하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 사용하는 단계는, 메모리 웨어 레벨링(Memory wear leveling)을 위한 기 설정된 조건 발생 시 상기 대상 메모리 셀을 선택하는 메모리 셀 블록을 상기 나머지 메모리 셀 블록으로 전환하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
10 10
제8항에 있어서,상기 선택하는 단계는, 상기 어느 하나의 메모리 셀 블록에 포함되는 메모리 셀들이 모두 프로그램된 경우, 상기 오드 메모리 셀 블록 또는 상기 이븐 메모리 셀 블록 중 상기 어느 하나의 메모리 셀 블록을 제외한 나머지 메모리 셀 블록에서 상기 대상 메모리 셀을 선택하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
11 11
제7항에 있어서,상기 대상 메모리 셀에 대한 프로그램 동작 시 상기 오드 메모리 셀 블록 또는 상기 이븐 메모리 셀 블록 중 상기 어느 하나의 메모리 셀 블록을 제외한 나머지 메모리 셀 블록에 포함되는 적어도 두 개 이상의 메모리 셀들을 간섭 방지 용도로 사용하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
12 12
제7항에 있어서,상기 복수의 워드 라인들 중 오드 워드 라인들을 그룹핑하여 오드 메모리 셀 블록을 형성하고, 이븐 워드 라인들을 그룹핑하여 이븐 메모리 셀 블록을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 플래시 메모리의 프로그램 동작 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한양대학교 산학협력단 산업기술혁신사업 / 산업핵심기술개발사업 / 전자정보디바이스산업원천기술개발사업(민간투자금) [민간] 차세대 VNAND 예측개발을 위한 스케일링 시나리오 및 기초 연구