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비이진 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호 방법 및 장치

  • 기술번호 : KST2014000111
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 비이진 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호 방법 및 장치에 관한 것으로서, 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호 방법은, 채널로부터 수신되는 신호를 복조하여 LLR 값을 생성하는 과정과, 상기 생성된 LLR 값들 중 큰 값을 가지는 순서대로 소정 수의 LLR 값을 선택하는 과정과, 상기 선택된 LLR값들 중 가장 큰 LLR값과 나머지 LLR값들 각각의 차이값을 계산하는 과정과, 상기 가장 큰 LLR값과 상기 계산된 차이 값들로 이루어진 메시지 벡터를 이용하여 LDPC 복호를 수행하는 과정을 포함하여, 검사 노드 갱신의 연산 복잡도를 감소시키면서 동시에 성능이 열화되는 정도를 줄일 수 있다.LDPC(Low-Density Parity Check), EMS(Extended Min-Sum), 검사노드, 복호 알고리즘
Int. CL H03M 13/11 (2006.01) H04L 1/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020080112324 (2008.11.12)
출원인 삼성전자주식회사, 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1562220-0000 (2015.10.15)
공개번호/일자 10-2010-0053280 (2010.05.20) 문서열기
공고번호/일자 (20151022) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 발송처리완료
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.11.11)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김성환 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 황성수 대한민국 경기도 용인시 수지구
3 이종호 대한민국 서울특별시 관악구
4 정성윤 대한민국 서울특별시 강서구
5 윤상보 대한민국 경기도 성남시 분당구
6 하정석 대한민국 대전광역시 유성구
7 아주지 카이스 튀니지 대전 광역시 유성구
8 배슬기 대한민국 서울특별시 서대문구
9 강동협 대한민국 서울특별시 송파구
10 황대성 대한민국 울산광역시 동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이정순 대한민국 서울특별시 종로구 경희궁길 **, *층 리앤권법률특허사무소 (신문로*가, 서광빌딩)
2 권혁록 대한민국 서울특별시 종로구 경희궁길 **, *층 리앤권법률특허사무소 (신문로*가, 서광빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 경기도 수원시 영통구
2 한국과학기술원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.11.12 수리 (Accepted) 1-1-2008-0782862-38
2 보정요구서
Request for Amendment		 2008.11.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2008-0126510-67
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2008.11.14 수리 (Accepted) 1-1-2008-0787887-30
4 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status		 2009.07.14 수리 (Accepted) 1-1-2009-0428390-10
5 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)		 2009.07.31 수리 (Accepted) 1-1-2009-0472940-09
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5132663-40
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
8 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2013.11.11 수리 (Accepted) 1-1-2013-1022724-17
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.11.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-1022718-43
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
13 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2015.02.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
14 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2015.04.13 수리 (Accepted) 9-1-2015-0028067-67
15 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2015.04.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0246716-31
16 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2015.06.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0576633-00
17 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2015.06.15 수리 (Accepted) 1-1-2015-0576616-23
18 등록결정서
Decision to grant		 2015.08.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0588196-10
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
저밀도 패리티 검사의 부호를 위한 복호 방법에 있어서,채널로부터 수신되는 신호를 복조하여 LLR(log likelihood ratio) 값들을 생성하는 과정과,상기 생성된 LLR 값들 중 내림차순으로 소정 수의 LLR 값들을 선택하는 과정과,상기 선택된 LLR 값들 중 가장 큰 LLR 값과 나머지 LLR 값들의 차이 값들을 계산하는 과정과,상기 가장 큰 LLR 값 및 상기 차이 값들을 포함하는 메시지 벡터를 생성하는 과정과,상기 메시지 벡터를 이용하여 저밀도 패리티 검사의 복호를 수행하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
2 2
제 1항에 있어서,상기 저밀도 패리티 검사의 복호를 수행하는 과정은,패리티 검사 행렬에 상응하게 가변 노드들을 연결한 제1 신호를 생성하는 과정과,상기 제1 신호에서 이전 반복 과정에서 인터리빙된 제2 신호를 감산한 결과를 디인터리빙한 제3 신호를 생성하는 과정과,상기 제3 신호를 이용하여 상기 패리티 검사 행렬에 상응하게 검사 노드들을 연결한 제4 신호를 생성하는 과정과,상기 제4 신호에서 상기 제3 신호를 감산한 결과를 인터리빙한 제5 신호를 생성하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
3 3
제 1항에 있어서,상기 메시지 벡터는, 상기 메시지 벡터의 색인 0에서 상기 가장 큰 LLR 값을 포함하고, 상기 메시지 벡터의 색인 1부터 상기 메시지 벡터의 색인 N까지 상기 차이 값들을 오름차순으로 포함하는 것을 특징으로 하는 방법
4 4
저밀도 패리티 검사의 부호를 위한 복호 장치에 있어서,채널로부터 수신되는 신호를 복조하여 LLR(log likelihood ratio) 값들을 생성하는 복조기와,상기 생성된 LLR 값들 중 내림차순으로 소정 수의 LLR 값들을 선택하고, 상기 선택된 LLR 값들 중 가장 큰 LLR 값과 나머지 LLR값들의 차이값 들을 계산한 후, 상기 가장 큰 LLR 값과 상기 차이 값들을 포함하는 메시지 벡터를 생성하는 메시지 벡터 생성기와,상기 메시지 벡터를 이용하여 저밀도 패리티 검사의 복호를 수행하는 복호기를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치
5 5
제 4항에 있어서,상기 복호기는,상기 메시지 벡터를 생성하는 생성기와,패리티 검사 행렬에 상응하게 가변 노드들을 연결한 제1 신호를 출력하는 가변 노드부와,상기 제1 신호에서 이전 반복 과정에서 인터리빙된 제2 신호를 감산한 결과를 디인터리빙한 제3 신호를 출력하는 디인터리버와,상기 제3 신호를 제공받아 상기 패리티 검사 행렬에 상응하게 검사 노드들을 연결한 제4 신호를 출력하는 검사 노드부와,상기 제4 신호에서 상기 제3 신호를 감산한 결과를 인터리빙한 제5 신호를 상기 가변 노드부로 출력하는 인터리버를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치
6 6
제 4항에 있어서,상기 메시지 벡터는, 상기 메시지 벡터의 색인 0에서 상기 가장 큰 LLR 값을 포함하고, 상기 메시지 벡터의 색인 1부터 상기 메시지 벡터의 색인 N까지 상기 차이 값들을 오름차순으로 포함하는 것을 특징으로 하는 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.