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실리콘 슬러리를 이용한 전자 소자 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2014029916
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자 및 그 제조방법에 관한 것으로, 특히 실리콘 웨이퍼 제작 과정에서 발생하는 실리콘 슬러리를 전자소자를 제조하기 위해 사용되는 실리콘 및 실리콘 웨이퍼 대신 사용하여 전자소자를 제조함으로써 비용을 절감하고, 소결 및 열처리를 통해 전류 밀도와 특성을 제어할 수 있는 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자 및 그 소자의 제조방법을 제공한다. 실리콘 슬러리, 전자소자
Int. CL H01L 29/861 (2014.01) H01L 29/786 (2014.01) H01L 31/04 (2014.01)
CPC H01L 29/16(2013.01) H01L 29/16(2013.01) H01L 29/16(2013.01) H01L 29/16(2013.01) H01L 29/16(2013.01) H01L 29/16(2013.01)
출원번호/일자 1020070033023 (2007.04.03)
출원인 경희대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0865960-0000 (2008.10.23)
공개번호/일자 10-2008-0090056 (2008.10.08) 문서열기
공고번호/일자 (20081030) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.04.03)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 경희대학교 산학협력단 대한민국 경기도 용인시 기흥구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박규창 대한민국 서울 광진구
2 장 진 대한민국 서울 서초구
3 추병권 대한민국 서울 동대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세중 대한민국 서울시 강남구 테헤란로 ***, **** (역삼동. 성지하이츠 Ⅱ)(해오름국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 월드빔솔루션 서울특별시 동대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.04.03 수리 (Accepted) 1-1-2007-0259573-80
2 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2007.06.07 수리 (Accepted) 1-1-2007-0414363-46
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.09.07 수리 (Accepted) 4-1-2007-5139506-36
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.02.05 수리 (Accepted) 4-1-2008-5020006-08
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.02.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0082040-42
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.03.17 수리 (Accepted) 1-1-2008-0192639-35
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.03.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0192634-18
8 등록결정서
Decision to grant
2008.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0447448-72
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.09 수리 (Accepted) 4-1-2015-5029677-09
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.19 수리 (Accepted) 4-1-2019-5164254-26
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상부에 실리콘 웨이퍼 또는 비정질 실리콘으로 형성되는 활성층 또는 도핑층을 갖는 전자소자에 있어서,상기 활성층은 실리콘 웨이퍼 제조공정에서 발생한 실리콘 슬러리를 박막 형태로 형성하고, 소결을 실시하여 형성된 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용하여 제조된 전자소자
2 2
제 1 항에 있어서,상기 도핑층은,진성 실리콘 슬러리를 이용하여 박막형태로 형성한 다음, p형 도펀트 또는 n형 도펀트를 주입하여 형성된 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용하여 제조된 전자소자
3 3
제 1 항에 있어서,상기 도핑층은,p형 도핑된 실리콘 슬러리 또는 n형 도핑된 실리콘 슬러리를 박막형태로 형성한 다음, 소결을 실시하여 형성된 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용하여 제조된 전자소자
4 4
제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 소결 방법은,점진적으로 온도를 상승시키는 퍼니스(Furnace) 방법, 급격하게 온도를 향상시키는 급속열처리(RTA)방법, 빔 조사방법, RTA와 빔 조사방법을 혼합하여 사용하는 방법 중 어느 한 방법을 사용하는 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자
5 5
제 1 항에 있어서,상기 전자소자는 실리콘 슬러리로 형성된 박막의 소결 중에 기판으로부터 오염물질이 유입되는 것을 방지하기 위하여 기판 상부에 실리콘 산화막, 실리콘 질화막, 실리콘 산화 질화막, 실리케이트 막 중 어느 하나로 버퍼층을 더 형성한 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용하여 제조된 전자소자
6 6
제 1 항에 있어서,상기 실리콘 슬러리는 가공되지 않은 실리콘 슬러리, 상기 실리콘 슬러리를 연마하여 입자크기를 1㎛ 이하로 제조한 실리콘 파우더 또는 화학물질을 첨가하여 용액 상태로 만들 실리콘 슬러리 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용하여 제조된 전자소자
7 7
제 1 항, 제 2 항, 제 3 항, 제 5항 또는 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 전자 소자는,다이오드, 박막 트랜지스터, 태양전지 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용하여 제조된 전자소자
8 8
기판 상부에 실리콘 웨이퍼 또는 비정질 실리콘으로 형성되는 활성층 또는 도핑층을 갖는 전자소자의 제조방법에 있어서,실리콘 슬러리를 이용하여 박막형태의 실리콘 슬러리층을 형성하는 단계와;상기 실리콘 슬러리층이 형성된 소자에 소결을 실시하여 활성층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자 제조방법
9 9
제 8 항에 있어서,상기 실리콘 슬리러층을 형성하는 단계에서,상기 실리콘 슬러리는 진성 실리콘 슬러리인 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자 제조방법
10 10
제 8 항에 있어서,상기 활성층 상부에 p형 또는 n형 도핑된 실리콘 슬러리를 이용하여 도핑층을 형성하거나, 실리콘 슬러리층에 p형 또는 n형 도펀트를 주입하여 도핑층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자 제조방법
11 11
제 8 항 또는 제10항에 있어서,상기 활성층 또는 도핑층을 형성하는 단계는,상기 실리콘 슬러리를 1㎛이하의 균일한 입자를 같는 실리콘 파우더로 제조하는 단계; 또는 상기 실리콘 슬러리를 솔벤트 및 유기용제, 계면활성제, 분산제, 접착제, 응고제 중 어느 하나 이상을 첨가하여 용액 상태로 제조하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자 제조방법
12 12
제 8 항에 있어서,상기 소결 공정은,점진적으로 온도를 상승시키는 퍼니스(Furnace) 방법, 급격하게 온도를 향상시키는 급속열처리(RTA)방법, 빔 조사방법, RTA와 빔 조사방법을 혼합하여 사용하는 방법 중 어느 한 방법을 사용하는 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자 제조방법
13 13
제 12 항에 있어서,상기 퍼니스(Furnace) 방법에는 할로겐 램프 또는 자외선 램프가 사용되며,상기 빔 조사방법은 UV 어닐링 또는 레이저 조사를 이용한 어닐링 방법이 사용되는 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용한 박막 트랜지스터의 제조방법
14 14
제 8 항에 있어서,상기 기판 상부에 활성층의 열처리 실시중 기판의 오염물질이 활성층에 유입되는 것을 방지하기 위한 버퍼층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자소자 제조방법
15 15
제 8 항에 있어서,상기 활성층 또는 도핑층은,스핀코팅, 딥핑, 스프레이를 이용한 도포방법 또는 스퀴지를 이용한 스크린 프린팅 방법 중 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 실리콘 슬러리를 이용한 전자소자 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.