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고속 감지 증폭기 및 고속 감지 증폭기의 동작 방법

  • 기술번호 : KST2014059919
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 복수의 메모리 셀들을 가지는 메모리 셀 어레이를 구비하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기는 제1 입력 노드의 셀 전류와 제2 입력 노드의 기준 전류간의 차이를 센싱하여 증폭하는 감지 증폭기 회로와, 상기 감지 증폭기 회로의 상기 제1 및 제2 입력 노드에 결합하여 상기 제1 및 제2 입력 노드로 바이어스 전류를 N배-여기서 N은 2이상의 자연수- 증폭시킨 제1 분배 전류 및 제2 분배 전류를 각각 제공하는 전류 미러 회로를 포함한다. 간단한 전류 거울 구조를 통하여 감지 증폭기의 빠른 응답속도를 얻을 수 있고, 비트 라인 노드(Bit-Line Node)와 감지 증폭기의 입력단을 분리하여 감지 증폭기의 읽기 동작 시 높은 민감도(sensitivity)를 제공할 수 있다.
Int. CL G11C 7/06 (2006.01.01) G11C 11/16 (2006.01.01) G11C 7/18 (2006.01.01)
CPC G11C 7/06(2013.01) G11C 7/06(2013.01) G11C 7/06(2013.01)
출원번호/일자 1020100138557 (2010.12.30)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1224259-0000 (2013.01.14)
공개번호/일자 10-2012-0076831 (2012.07.10) 문서열기
공고번호/일자 (20130121) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.30)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 송윤흡 대한민국 서울특별시 성동구
2 박용식 대한민국 서울특별시 성동구
3 길규현 대한민국 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.30 수리 (Accepted) 1-1-2010-0875026-03
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.07.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.08.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0070100-68
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.06.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0380739-87
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.08.28 수리 (Accepted) 1-1-2012-0692835-00
6 등록결정서
Decision to grant
2012.12.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0795740-45
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 메모리 셀들을 가지는 메모리 셀 어레이를 구비하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기에 있어서, 제1 입력 노드의 셀 전류와 제2 입력 노드의 기준 전류간의 차이를 센싱하여 증폭하는 감지 증폭기 회로; 및상기 감지 증폭기 회로의 상기 제1 및 제2 입력 노드에 결합하여 상기 제1 및 제2 입력 노드로 바이어스 전류를 N배-여기서 N은 2이상의 자연수- 증폭시킨 제1 분배 전류 및 제2 분배 전류를 각각 제공하는 전류 미러 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
2 2
제1항에 있어서, 상기 바이어스 전류를 제공하는 전류원을 포함하는 셀 전류 공급부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
3 3
제2항에 있어서, 상기 전류 미러 회로는 상기 바이어스 전류를 분배한 제1 참조 전류를 N배 증폭하여 제1 분배 전류 를 생성하여 상기 감지 증폭기 회로의 상기 제1 입력 노드로 제공하는 제1 전류 거울; 및 상기 바이어스 전류를 분배한 제2 참조 전류를 N배 증폭하여 제2 분배 전류를 생성하여 상기 감지 증폭기 회로의 제2 입력 노드로 제공하는 제2 전류 거울을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
4 4
제3항에 있어서, 상기 제1 전류 거울은 소스가 상기 바이어스 전류를 공급하는 전류원의 일단에 결합되고, 게이트는 드레인 및 제1 비트라인 노드와 연결되는 제1 PMOS 트랜지스터; 및 게이트는 상기 제1 PMOS 트랜지스터의 게이트와 연결되고, 소오스는 상기 바이어스 전류를 공급하는 전류원의 일단에 결합되고, 드레인은 상기 감지 증폭기 회로의 상기 제1 입력 노드에 연결되는 제2 PMOS 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
5 5
제4항에 있어서, 상기 제2 전류 거울은 소스가 상기 바이어스 전류를 공급하는 전류원의 일단에 결합되고, 게이트는 드레인 및 제2 비트라인 노드와 연결되는 제3 PMOS 트랜지스터; 및 게이트는 상기 제3 PMOS 트랜지스터의 게이트와 연결되고, 소오스는 상기 바이어스 전류를 공급하는 전류원의 일단에 결합되고, 드레인은 상기 감지 증폭기 회로의 상기 제2 입력 노드에 연결되는 제4 PMOS 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
6 6
제5항에 있어서, 감지 증폭기 인에이블 신호가 활성화되면 상기 제1 전류 거울에 의해 N배 증폭된 상기 제1 분배 전류를 분배하여 상기 감지 증폭기 회로의 제1 입력 노드로 셀 전류를 제공하는 제1 입력 전류 분배 회로; 및상기 감지 증폭기 인에이블 신호가 활성화되면 상기 제2 전류 거울에 의해 N배 증폭된 상기 제2 분배 전류를 분배하여 상기 감지 증폭기 회로의 제2 입력 노드로 기준 전류를 제공하는 제2 입력 전류 분배 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
7 7
제6항에 있어서, 상기 제1 입력 전류 분배 회로는 드레인은 상기 제2 PMOS 트랜지스터의 드레인 및 상기 감지 증폭기 회로의 제1 입력 노드와 연결되고, 게이트는 소오스와 연결되고, 소오스는 접지에 연결되는 제1 NMOS 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
8 8
제6항에 있어서, 상기 제2 입력 전류 분배 회로는 드레인은 상기 제4 PMOS 트랜지스터의 드레인 및 상기 감지 증폭기 회로의 제2 입력 노드와 연결되고, 게이트는 소오스와 연결되고, 소오스는 접지에 연결되는 제2 NMOS 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
9 9
제1항에 있어서, 워드라인에 의해 선택된 메모리 셀에 연결된 제1 비트라인 노드와 상기 감지 증폭기 회로의 제1 입력노드가 전기적으로 분리되고, 상기 메모리 셀에 대응되는 참조 셀에 연결된 제1 비트라인 노드와 상기 감지 증폭기 회로의 제2 입력노드가 전기적으로 분리되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
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제1항에 있어서, 상기 감지 증폭기 회로는 래치 타입 감지 증폭기 회로인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기
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복수의 메모리 셀들을 가지는 메모리 셀 어레이를 구비하는 반도체 메모리 장치에 포함되어 제1 입력 노드의 셀 전류와 제2 입력 노드의 기준 전류간의 차이를 센싱하여 증폭하는 감지 증폭기의 동작 방법은, 바이어스 전류를 공급받는 단계; 및 상기 감지 증폭기 회로의 상기 제1 및 제2 입력 노드로 바이어스 전류를 N배-여기서 N은 2이상의 자연수- 증폭시킨 제1 분배 전류 및 제2 분배 전류를 각각 제공하는 단계; 및감지 증폭기 인에이블 신호가 활성화되면 상기 N배 증폭된 상기 제1 및 제2 분배 전류를 분배하여 각각 상기 감지 증폭기 회로의 상기 제1 및 제2 입력 노드로 상기 셀 전류 및 기준 전류로서 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기의 동작 방법
12 12
제11항에 있어서, 워드라인에 의해 선택된 메모리 셀에 연결된 제1 비트라인 노드와 상기 감지 증폭기 회로의 제1 입력노드가 전기적으로 분리되고, 상기 메모리 셀에 대응되는 참조 셀에 연결된 제1 비트라인 노드와 상기 감지 증폭기 회로의 제2 입력노드가 전기적으로 분리되는 것을 특징으로 하는 감지 증폭기의 동작 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한양대학교 산학협력단 기술혁신사업(산업원천기술개발사업) 30nm급 수직자화형 고집적 STT-MRAM