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가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터 및 이를 포함하는 디지털 제어 발진기

  • 기술번호 : KST2015085212
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 CMOS 공정을 이용하여 금속-산화물-금속(MOM) 구조의 평판 캐패시터에 스위치를 적용하여 제어신호에 따라 서로 다른 캐패시턴스를 형성하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터가 개시된다. 상기 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터는, 하나의 제1 금속층을 포함하는 복수의 금속층 및 상기 복수의 금속층 사이에 개재된 복수의 유전체층을 포함하는 적층구조물; 및 상기 복수의 금속층 중 상기 제1 금속층을 제외한 나머지 금속층 중 적어도 하나의 금속층에 일단이 연결된 적어도 하나의 스위치를 갖는 스위치부를 포함하며, 상기 제1 금속층과 상기 스위치의 타단은 캐패시터의 양 단자가 되며, 상기 스위치의 단락/개방 제어를 통해 상기 양 단자 사이에 적어도 두 개의 캐패시턴스를 제공한다.가변, 캐패시턴스, 캐패시터, 디지털 제어 발진기, 단위 캐패시턴스, 스위치, CMOS, MOM
Int. CL H03B 5/08 (2006.01) H03L 7/099 (2006.01)
CPC H01L 28/40(2013.01)H01L 28/40(2013.01)H01L 28/40(2013.01)H01L 28/40(2013.01)H01L 28/40(2013.01)
출원번호/일자 1020090055584 (2009.06.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-1304596-0000 (2013.08.30)
공개번호/일자 10-2010-0063636 (2010.06.11) 문서열기
공고번호/일자 (20130905) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020080121851   |   2008.12.03
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.06.22)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이자열 대한민국 대전광역시 유성구
2 민병훈 대한민국 전라북도 군산시 미룡로 **, 주공아파트*단지 *
3 김성도 대한민국 대전광역시 유성구
4 유현규 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인씨엔에스 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, 대림아크로텔 *층(도곡동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.06.22 수리 (Accepted) 1-1-2009-0377105-40
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.08.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.09.17 수리 (Accepted) 9-1-2012-0071636-20
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.09.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0550867-11
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.10.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0867681-14
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.10.24 수리 (Accepted) 1-1-2012-0867680-79
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2013.03.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0209620-76
9 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2013.04.29 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2013-0017046-13
10 등록결정서
Decision to grant
2013.06.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0387299-31
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
하나의 제1 금속층을 포함하는 복수의 금속층 및 상기 복수의 금속층 사이에 개재된 복수의 유전체층을 포함하는 적층구조물; 및상기 복수의 금속층 중 상기 제1 금속층을 제외한 나머지 금속층 중 적어도 하나의 금속층에 일단이 연결된 적어도 하나의 스위치를 갖는 스위치부를 포함하고,상기 제1 금속층의 일단과 상기 스위치의 타단은 캐패시터의 양 단자가 되며, 상기 스위치의 단락/개방 제어를 통해 선택하는 금속층에 따라서, 상기 양 단자 사이에 적어도 두 개의 캐패시턴스를 제공하며, 상기 적층구조물은, 상기 제1 금속층 및 상기 유전체층에 의해 각기 서로 다른 간격으로 상기 제1 금속층과 대향 배치된 제2 금속층과 제3 금속층을 포함하고,상기 스위치부는, 상기 제1 금속층 및 제2 금속층 사이에 형성된 제1 스위치 및 상기 제1 금속층 및 제3 금속층 사이에 형성된 제2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터
2 2
제1항에 있어서, 상기 유전체층은,산화물인 것을 특징으로 하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터
3 3
제1항에 있어서, 상기 적층구조물은,CMOS 공정을 통해 형성되는 것을 특징으로 하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서,상기 제1 스위치는 상기 캐패시터의 일단자에 드레인이 연결되고 상기 제2 금속층에 소스가 연결되는 N 채널 MOS 트랜지스터이며, 상기 제2 스위치는 상기 캐패시터의 일단자에 소스가 연결되고 상기 제3 금속층에 드레인이 연결되는 P 채널 MOS 트랜지스터이며, 상기 N 채널 MOS 트랜지스터와 상기 P 채널 MOS 트랜지스터의 게이트로 공통의 제어 신호가 입력되는 것을 특징으로 하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터
6 6
하나의 제1 금속층을 포함하는 복수의 금속층 및 상기 복수의 금속층 사이에 개재된 복수의 유전체층을 포함하는 적층구조물; 및상기 복수의 금속층 중 상기 제1 금속층을 제외한 나머지 금속층 중 적어도 하나의 금속층에 일단이 연결된 적어도 하나의 스위치를 갖는 스위치부를 포함하고,상기 제1 금속층의 일단과 상기 스위치의 타단은 캐패시터의 양 단자가 되며, 상기 스위치의 단락/개방 제어를 통해 선택하는 금속층에 따라서, 상기 양 단자 사이에 적어도 두 개의 캐패시턴스를 제공하며, 상기 적층구조물은, 상기 제1 금속층 및 상기 유전체층에 의해 각기 서로 다른 간격으로 상기 제1 금속층과 대향 배치된 제2 금속층과 제3 금속층을 포함하고,상기 스위치부는, 제어신호가 입력되는 입력단과 상기 제3 금속층에 연결된 출력단을 갖는 제1 인버터와, 상기 제1 인버터의 출력단에 입력단이 연결되고 상기 제2 금속층에 연결된 출력단을 갖는 제2 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터
7 7
제1항 또는 제6항에 있어서,상기 제1 금속층은 상기 제2 금속층 및 제3 금속층의 사이에 배치되며, 상기 제1 내지 제3 금속층은 서로 동일한 면적을 갖는 것을 특징으로 하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터
8 8
제1항에 있어서, 상기 복수의 금속층은 각기 서로 다른 면적을 갖고 상기 제1 금속층이 가장 큰 면적을 가지며,상기 제1 금속층 및 상기 나머지 금속층은 상기 유전체층을 통해 상호 대향하는 영역이 발생하도록 배치된 것을 특징으로 하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터
9 9
하나의 제1 금속층을 포함하는 복수의 금속층 및 상기 복수의 금속층 사이에 개재된 복수의 유전체층을 포함하는 적층구조물; 및상기 복수의 금속층 중 상기 제1 금속층을 제외한 나머지 금속층 중 적어도 하나의 금속층에 일단이 연결된 적어도 하나의 스위치를 갖는 스위치부를 포함하고,상기 제1 금속층의 일단과 상기 스위치의 타단은 캐패시터의 양 단자가 되며, 상기 스위치의 단락/개방 제어를 통해 선택하는 금속층에 따라서, 상기 양 단자 사이에 적어도 두 개의 캐패시턴스를 제공하며, 상기 적층 구조물은,상기 제1 금속층은 일층의 전면에 형성되며, 상기 나머지 금속층 각각은 동일층에 형성되되 서로 분리된 복수의 파트를 포함하고,상기 스위치부는 서로 다른 상기 나머지 금속층의 각 파트와 상기 캐패시터의 일 단자 사이에 연결되며,상기 스위치의 단락/개방 제어를 통해 상기 제1 금속층과 상기 나머지 금속층의 파트 사이에 캐패시턴스를 선택적으로 형성하는 것을 특징으로 하는 가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터
10 10
가변 캐패시턴스를 갖는 캐패시터를 포함하는 캐패시터부;상기 캐패시터부와 병렬 연결된 인덕터; 및상기 캐패시터부와 상기 인덕터의 연결 연결노드에 연결되어 부성저항을 발생시키는 교차 결합쌍을 포함하며, 상기 캐패시터부는 하나의 제1 금속층을 포함하는 복수의 금속층 및 상기 복수의 금속층 사이에 개재된 복수의 유전체층을 포함하는 적층구조물과, 상기 복수의 금속층 중 상기 제1 금속층을 제외한 나머지 금속층 중 적어도 하나의 금속층에 일단이 연결된 적어도 하나의 스위치를 갖는 스위치부를 포함하여, 상기 제1 금속층의 일단과 상기 스위치의 타단은 상기 캐패시터의 양 단자가 되며, 상기 스위치의 단락/개방 제어를 통해 선택하는 금속층에 따라서, 상기 양 단자 사이에 적어도 두 개의 캐패시턴스를 제공하고, 상기 적층구조물은, 상기 제1 금속층 및 상기 유전체층에 의해 각기 서로 다른 간격으로 상기 제1 금속층과 대향 배치된 제2 금속층과 제3 금속층을 포함하고,상기 스위치부는, 상기 제1 금속층 및 제2 금속층 사이에 형성된 제1 스위치 및 상기 제1 금속층 및 제3 금속층 사이에 형성된 제2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 디지털 제어 발진기
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1 US20100134195 US 미국 FAMILY

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1 US2010134195 US 미국 DOCDBFAMILY
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1 지식경제부 한국전자통신연구원 IT원천기술개발 차세대 무선 융합 단말용 Advanced Digital RF 기술 개발