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나노선과 나노입자막으로 구성된 pn 이종접합 다이오드 및 이를 제조하는 방법

  • 기술번호 : KST2015131848
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 나노선과 나노입자막으로 구성된 pn 이종접합 다이오드 및 이를 제조하는 방법에 관한 것으로, 나노선과, 상기 나노선과 교차접합되는 라인 패턴 형태의 나노입자막과, 상기 나노선 및 상기 나노입자막의 양단에 각각 형성되는 전극을 포함하여, 상기 나노입자막의 전극 중 선택된 어느 하나에서 상기 나노선의 전극 중 선택된 어느 하나로 이어지는 경로에서 정류특성이 나타나도록 구성함으로써, 정류특성이 안정적으로 나타날 수 있도록 하고, 저전압에서 동작할 수 있고, 동작 속도를 증가시킬 수 있도록 하는 발명에 관한 것이다.
Int. CL H01L 29/861 (2006.01)
CPC H01L 29/8611(2013.01) H01L 29/8611(2013.01) H01L 29/8611(2013.01)
출원번호/일자 1020090067526 (2009.07.23)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1064482-0000 (2011.09.05)
공개번호/일자 10-2011-0010026 (2011.01.31) 문서열기
공고번호/일자 (20110915) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.07.23)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김상식 대한민국 서울특별시 송파구
2 조경아 대한민국 서울특별시 광진구
3 전진형 대한민국 서울특별시 용산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 대아 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 인텔렉추얼디스커버리 주식회사 서울특별시 강남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.07.23 수리 (Accepted) 1-1-2009-0451604-36
2 보정요구서
Request for Amendment
2009.08.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0055435-21
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.08.05 수리 (Accepted) 1-1-2009-0478230-30
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149278-93
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.12.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0585219-85
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.02.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0122700-42
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.03.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0206403-34
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.04.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0299169-02
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.04.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0299170-48
10 등록결정서
Decision to grant
2011.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0487432-62
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
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번호 청구항
1 1
나노선; 상기 나노선과 교차접합되는 라인 패턴 형태의 나노입자막; 및 상기 나노입자막 및 상기 나노선의 양단에 각각 형성되는 전극을 포함하여, 상기 나노입자막의 전극 중 선택된 어느 하나에서 상기 나노선의 전극 중 선택된 어느 하나로 이어지는 경로에서 정류특성을 나타내는 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 나노선의 지름은 10 ~ 500㎚이고, 길이는 100㎚ ~ 30㎛인 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 라인 패턴의 선폭은 10㎚ ~ 10㎛이고, 길이는 100㎚ ~ 30㎛인 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 나노선은 n형 반도체 Si, Ge, GaN, InP, GaAs, GaP, SiC, ZnO 및 Ga2O3 중 어느 하나의 성분으로 이루어진 것이고, 상기 나노입자막은 p형 반도체 Si, Ge, GaN, InP, GaAs, GaP, SiC, ZnO, CdTe, HgTe, Cu2O, CuAlO2, CuGaO 및 PbS 중 어느 하나의 성분으로 이루어진 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 나노선은 p형 반도체 Si, Ge, GaN, InP, GaAs, GaP, SiC, ZnO 및 CuO 중 어느 하나의 성분으로 이루어진 것이고, 상기 나노입자막은 n형 반도체 Si, Ge, GaN, InP, GaAs, GaP, SiC, ZnO, HgSe 및 CdS 중 어느 하나의 성분으로 이루어진 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드
6 6
절연층 상부에 나노선을 형성하는 단계; 상기 나노선 및 상기 절연층 상부에 상기 나노선과 교차접합되는 라인 패턴 형태의 나노입자막을 형성하는 단계; 및 상기 나노입자막의 양단에 각각 제 1 전극 및 제 2 전극을 형성하고, 상기 나노선의 양단에 각각 제 3 전극 및 제 4 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드 제조 방법
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 나노입자막을 형성하는 단계는 상기 절연층 상부에 라인/스페이스 타입의 감광막 패턴을 형성하는 단계; 상기 감광막 패턴 사이의 영역에 나노입자막을 스핀 코팅(Spin Coating) 방법으로 형성하는 단계; 상기 나노입자막을 경화시키는 단계; 및 상기 감광막 패턴을 제거하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드 제조 방법
8 8
제 6 항에 있어서, 상기 나노입자막을 경화시키는 단계는 50 ~ 300℃의 온도에서 1분 ~ 1시간 가열하는 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드 제조 방법
9 9
제 6 항에 있어서, 상기 절연층은 유리, 나무, 플라스틱 및 고무 중에서 어느 하나로 이루어지거나, SiO2층이 형성된 실리콘 기판 및 Al2O3층이 형성된 실리콘 기판 중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드 제조 방법
10 10
SiO2층 상부에 n형 ZnO 나노선을 형성하는 단계; 상기 n형 ZnO 나노선 및 상기 SiO2층 상부에 상기 n형 ZnO 나노선과 교차접합되는 라인 패턴 형태의 p형 HgTe 나노입자막을 형성하는 단계; 및 상기 p형 HgTe 나노입자막의 양단에 각각 제 1 전극 및 제 2 전극을 형성하고, 상기 n형 ZnO 나노선의 양단에 각각 제 3 전극 및 제 4 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 pn 이종접합 다이오드 제조 방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 한국과학재단 한국과학재단 국가지정연구실사업 이종차원 하이브리드 나노재료를 이용한 메모리/광 나노소자 개발