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마이크로어레이의 품질 결정 방법

  • 기술번호 : KST2015135507
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 품질 관리 프로브의 길이에 따른 신호 강도를 수치화하는 과정을 포함하는 마이크로어레이의 품질 결정 방법을 제공한다.마이크로어레이, 품질 결정
Int. CL C12Q 1/68 (2018.01.01) G06F 17/11 (2006.01.01) G16C 10/00 (2019.01.01)
CPC C12Q 1/6837(2013.01) C12Q 1/6837(2013.01) C12Q 1/6837(2013.01) C12Q 1/6837(2013.01)
출원번호/일자 1020090103558 (2009.10.29)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1657688-0000 (2016.09.08)
공개번호/일자 10-2011-0046865 (2011.05.06) 문서열기
공고번호/일자 (20160922) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.10.29)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박경희 대한민국 서울특별시 강남구
2 이규상 대한민국 경기도 수원시 영통구
3 안태진 대한민국 서울특별시 강남구
4 이재훈 대한민국 서울특별시 관악구
5 손대순 대한민국 서울특별시 관악구
6 김경아 대한민국 서울특별시 중랑구
7 박태성 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2009-0665150-17
2 보정요구서
Request for Amendment
2009.11.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0083186-58
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.11.09 수리 (Accepted) 1-1-2009-0686508-06
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5132663-40
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
7 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2014-1040210-18
8 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2014.12.09 수리 (Accepted) 1-1-2014-1198347-79
9 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.02.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
11 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.04.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0023885-26
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
13 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.12.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0880889-14
14 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2016-0157902-50
15 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.03.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0259349-70
16 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.03.17 수리 (Accepted) 1-1-2016-0259341-16
17 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.07.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0513807-18
18 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2016.08.11 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2016-0780813-31
19 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.08.11 수리 (Accepted) 1-1-2016-0780812-96
20 등록결정서
Decision to Grant Registration
2016.08.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0628565-27
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
3' 말단 또는 5' 말단을 통하여 기판상에 고정되어 있는 품질 관리 프로브 핵산을 포함하는 마이크로어레이를 제공하는 단계;상기 품질 관리 프로브 핵산과 상기 품질 관리 프로브 핵산에 상보적으로 결합할 수 있는 검출가능한 신호 물질로 표지된 올리고뉴클레오티드를 포함하는 시료를 혼성화시키는 단계;상기 혼성화된 올리고뉴클레오티드의 표지로부터 신호를 측정하여, 상기 품질 관리 프로브 핵산의 길이 x에 대한 표지 신호의 강도 y의 상관 관계를 얻는 단계; 및상기 상관 관계의 분석을 통해 선별 기준을 만족시키는 마이크로어레이를 선택하는 단계를 포함하는 마이크로어레이의 품질 결정 방법 방법으로서,상기 상관 관계의 분석은 상기 상관 관계로부터 도출되는 그래프의 로지스틱 곡선 적합성을 검정하여 p값이 0
2 2
제1항에 있어서, 상기 올리고뉴클리오티드는 2 내지 100개의 염기를 포함하는 것인 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 신호 물질은 형광성 물질 또는 방사선 물질로 이루어진 것인 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 혼성화시키는 단계 이후 혼성화되지 않은 시료를 제거하는 단계를 더 포함하는 것인 방법
5 5
삭제
6 6
제1항에 있어서, 상기 품질 결정 기준값 M0은 5 이상의 값을 갖고, 상기 품질 결정 기준값 M1은 0 초과 0
7 7
제1항에 있어서, 상기 상관 관계의 분석은 상기 상관 관계로부터 도출되는 그래프의 로지스틱 곡선 적합성을 검정하여 p값이 0
8 8
제7항에 있어서, 상기 품질 결정 기준값 M2는 25 이상의 값을 갖는 것인 방법
9 9
제1항에 있어서, 상기 상관 관계의 분석은 상기 상관 관계로부터 도출되는 그래프의 로지스틱 곡선 적합성을 검정하여 적합성을 만족하지 못하는 경우, 상기 상관 관계로부터 도출되는 그래프에서 상기 표지 신호 강도의 최대값의 25%에 해당하는 품질 관리 프로브 핵산의 길이를 나타내는 값인 bp25% 및 상기 표지 신호 강도의 최대값의 75%에 해당하는 품질 관리 프로브 핵산의 길이를 나타내는 값인 bp75%를 결정하는 단계; 상기 bp25% 및 bp75%를 하기 수학식 Ⅶ에 적용하여 m3값을 얻는 단계; 및상기 m3값을 상기 m3값의 최소값인 품질 결정 기준값 M3와 비교하는 단계를 포함하는 것인 방법:수학식 Ⅶm3= (bp25% + bp75%)/(bp75% - bp25%)
10 10
제9항에 있어서, 상기 품질 결정 기준값 M3는 3 이상의 값을 갖는 것인 방법
11 11
제1, 7 및 9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 상관 관계의 분석은 상기 상관 관계로부터 도출되는 상기 그래프에서 상기 품질 관리 프로브 핵산의 길이인 x의 최소값 및 최대값에 대한 상기 표지 신호 강도인 y의 적분값을 결정하는 단계; 및상기 적분값을 품질 결정 기준값 M4와 비교하는 단계를 더 포함하고, 상기 품질 결정 기준값 M4는 1 이하의 값을 갖는 것인 방법
12 12
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.