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n×m 의 매트릭스 구조를 가지는 패널 영상의 복수의 화소 신호들을 행 데이터 세트와 열 데이터 세트로 재구성하고, 상기 행 데이터 세트와 상기 열 데이터 세트를 PCA(Principal Component Analysis) 기법을 적용하여 상기 패널 영상에서 얼룩이 제거된 행 배경 영상 및 열 배경 영상을 생성하는 배경 영상 추정부(n 및 m 은 자연수);상기 패널 영상과 상기 행 및 열 배경 영상들 각각의 차이를 이용하여 배경과 얼룩으로 이루어진 행 이진 영상 및 열 이진 영상을 생성하는 얼룩 영상 생성부; 및상기 행 이진 영상과 열 이진 영상을 이용하여 상기 얼룩을 검출하는 얼룩 결정부를 포함하는 비전 검사 장치
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제1항에 있어서, 상기 배경 영상 추정부는상기 패널 영상의 화소 행에 포함된 n 개의 화소 신호들로 이루어진 n 차원의 행 데이터를 m 개의 화소 행들에 대응하여 행 데이터 세트로 구성하고, 상기 패널 영상의 화소 열에 포함된 m 개의 화소 신호들로 이루어진 m 차원의 열 데이터를 n 개의 화소 행들에 대응하여 열 데이터 세트로 구성하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치
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제2항에 있어서, 상기 배경 영상 추정부는상기 n 차원의 행 데이터 세트를 PCA 기법을 적용하여 q 차원의 행 데이터 세트로 변환하고, 상기 q 차원의 행 데이터 세트를 상기 n 차원의 행 데이터 세트로 복원하여 상기 행 배경 영상에 대응하는 화소 신호들을 구하고(q 는 n 및 m 보다 작은 자연수),상기 m 차원의 열 데이터 세트를 상기 PCA 기법을 적용하여 q 차원의 열 데이터 세트로 변환하고, 상기 q 차원의 열 데이터 세트를 상기 m 차원의 열 데이터 세트로 복원하여 상기 열 배경 영상에 대응하는 화소 신호들을 구하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치
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제3항에 있어서, 상기 q는 '5' 인 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치
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제1항에 있어서, 상기 얼룩 영상 생성부는상기 패널 영상과 상기 행 배경 영상과의 차이를 이용하여 행 차이 영상을 생성하고, 상기 패널 영상과 상기 열 배경 영상과의 차이를 이용하여 열 차이 영상을 생성하고,상기 행 차이 영상의 화소 신호들에 제1 임계치를 적용하여 상기 배경과 상기 얼룩으로 구분되는 행 이진 영상을 생성하고, 상기 열 차이 영상의 화소 신호들에 제2 임계치를 적용하여 상기 배경과 상기 얼룩으로 구분되는 열 이진 영상을 생성하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치
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제5항에 있어서, 상기 제1 임계치는 상기 행 차이 영상의 화소 신호들의 평균과 표준편차에 의해 결정되고, 상기 제2 임계치는 상기 열 차이 영상의 화소 신호들의 평균과 표준편차에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치
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제1항에 있어서, 상기 얼룩 결정부는 상기 행 이진 영상과 상기 열 이진 영상의 화소 신호들의 교집합 연산을 통해 상기 얼룩의 위치에 대응하는 시드 패턴을 포함하는 교집합 영상을 생성하고, 상기 행 이진 영상과 상기 열 이진 영상의 화소 신호들의 합집합 연산을 통해 상기 얼룩의 크기 및 형상에 대응하는 후보 패턴을 포함하는 합집합 영상을 생성하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치
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제7항에 있어서, 상기 얼룩 결정부는 상기 교집합 연산을 수행하기 전에, 상기 행 이진 영상과 상기 열 이진 영상에 포함된 노이즈를 제거하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치
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제7항에 있어서, 상기 얼룩 결정부는상기 시드 패턴을 상기 후보 패턴의 외곽 영역까지 확장하여 상기 얼룩을 결정하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치
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n×m 의 매트릭스 구조를 가지는 패널 영상의 복수의 화소 신호들을 행 데이터 세트와 열 데이터 세트로 재구성하고, 상기 행 데이터 세트와 상기 열 데이터 세트를 PCA(Principal Component Analysis) 기법을 적용하여 상기 패널 영상에서 얼룩이 제거된 행 배경 영상 및 열 배경 영상을 생성하는 단계(n 및 m 은 자연수);상기 패널 영상과 상기 행 및 열 배경 영상들 각각의 차이를 이용하여 배경과 얼룩으로 이루어진 행 이진 영상 및 열 이진 영상을 생성하는 단계; 및상기 행 이진 영상과 열 이진 영상을 이용하여 상기 얼룩을 검출하는 단계를 포함하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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제10항에 있어서, 상기 배경 영상 및 열 배경 영상을 생성하는 단계는상기 패널 영상의 화소 행에 포함된 n 개의 화소 신호들로 이루어진 n 차원의 행 데이터를 m 개의 화소 행들에 대응하여 행 데이터 세트로 구성하는 단계; 및 상기 패널 영상의 화소 열에 포함된 m 개의 화소 신호들로 이루어진 m 차원의 열 데이터를 n 개의 화소 행들에 대응하여 열 데이터 세트로 구성하는 단계를 포함하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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제11항에 있어서, 상기 배경 영상 및 열 배경 영상을 생성하는 단계는상기 n 차원의 행 데이터 세트를 PCA 기법을 적용하여 q 차원의 행 데이터 세트로 변환하고, 상기 q 차원의 행 데이터 세트를 상기 n 차원의 행 데이터 세트로 복원하여 상기 행 배경 영상에 대응하는 화소 신호들을 구하는 단계(q 는 n 및 m 보다 작은 자연수); 및상기 m 차원의 열 데이터 세트를 상기 PCA 기법을 적용하여 q 차원의 열 데이터 세트로 변환하고, 상기 q 차원의 열 데이터 세트를 상기 m 차원의 열 데이터 세트로 복원하여 상기 열 배경 영상에 대응하는 화소 신호들을 구하는 단계를 더 포함하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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제12항에 있어서, 상기 q는 '5' 인 것을 특징으로 하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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제10항에 있어서, 상기 행 이진 영상 및 열 이진 영상을 생성하는 단계는상기 패널 영상과 상기 행 배경 영상과의 차이를 이용하여 행 차이 영상을 생성하는 단계;상기 패널 영상과 상기 열 배경 영상과의 차이를 이용하여 열 차이 영상을 생성하는 단계; 상기 행 차이 영상의 화소 신호들에 제1 임계치를 적용하여 상기 배경과 상기 얼룩으로 구분되는 행 이진 영상을 생성하는 단계; 및 상기 열 차이 영상의 화소 신호들에 제2 임계치를 적용하여 상기 배경과 상기 얼룩으로 구분되는 열 이진 영상을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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제14항에 있어서, 상기 제1 임계치는 상기 행 차이 영상의 화소 신호들의 평균과 표준편차에 의해 결정되고, 상기 제2 임계치는 상기 열 차이 영상의 화소 신호들의 평균과 표준편차에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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제10항에 있어서, 상기 얼룩을 검출하는 단계는 상기 행 이진 영상과 상기 열 이진 영상의 화소 신호들의 교집합 연산을 통해 상기 얼룩의 위치에 대응하는 시드 패턴을 포함하는 교집합 영상을 생성하는 단계; 및 상기 행 이진 영상과 상기 열 이진 영상의 화소 신호들의 합집합 연산을 통해 상기 얼룩의 크기 및 형상에 대응하는 후보 패턴을 포함하는 합집합 영상을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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제16항에 있어서, 상기 얼룩을 검출하는 단계는 상기 교집합 연산을 수행하기 전에, 상기 행 이진 영상과 상기 열 이진 영상에 포함된 노이즈를 제거하는 단계를 더 포함하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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제16항에 있어서, 상기 얼룩을 검출하는 단계는 상기 시드 패턴을 상기 후보 패턴의 외곽 영역까지 확장하여 상기 얼룩을 결정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 패널의 얼룩 검출 방법
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