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검사 장치 및 그 제어 방법(EXAMINING APPARATUS AND EXAMINIG METHOD THEREOF)

  • 기술번호 : KST2016017633
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 검사 장치는 피검체의 목표 지점 또는 목표 지점으로부터 미리 설정된 거리만큼 떨어진 계측 지점에 레이저를 조사하는 레이저 조사부, 목표 지점에 레이저가 조사된 경우, 계측 지점에서의 정방향 계측 데이터를 생성하고, 계측 지점에 레이저가 조사된 경우, 목표 지점에서의 역방향 계측 데이터를 생성하는 계측부, 및 정방향 계측 데이터와 역방향 계측 데이터의 자기 상관도 및 상호 상관도에 기초하여 피검체의 결함을 판단하는 신호 처리부를 포함한다.
Int. CL G01N 29/24 (2006.01.01) G01N 29/04 (2006.01.01) G01N 29/44 (2006.01.01)
CPC G01N 29/2418(2013.01) G01N 29/2418(2013.01) G01N 29/2418(2013.01)
출원번호/일자 1020150045358 (2015.03.31)
출원인 삼성전자주식회사, 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0116925 (2016.10.10) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.03.23)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김일 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 손훈 대한민국 대전광역시 유성구
3 문영준 대한민국 경기도 화성
4 장경운 대한민국 경기도 수원시 권선구
5 정창규 대한민국 경기도 수원시 영통구
6 최성우 대한민국 경기도 용인시 수지구
7 박병진 대한민국 대전광역시 유성구
8 양진열 대한민국 대전광역시 유성구
9 최재묵 대한민국 대전광역시 유성구
10 황순규 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인세림 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로 ***, **층, **층(서초동, 태우빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.03.31 수리 (Accepted) 1-1-2015-0315887-80
2 보정요구서
Request for Amendment
2015.04.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2015-0066885-18
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2015.04.13 수리 (Accepted) 1-1-2015-0355481-84
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2020.03.23 수리 (Accepted) 1-1-2020-0301942-94
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
피검체의 목표 지점 또는 상기 목표 지점으로부터 미리 설정된 거리만큼 떨어진 계측 지점에 레이저를 조사하는 레이저 조사부;상기 목표 지점에 레이저가 조사된 경우, 상기 계측 지점에서의 정방향 계측 데이터를 생성하고, 상기 계측 지점에 레이저가 조사된 경우, 상기 목표 지점에서의 역방향 계측 데이터를 생성하는 계측부; 및상기 정방향 계측 데이터와 역방향 계측 데이터의 자기 상관도 및 상호 상관도에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 신호 처리부를 포함하는 검사 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 신호 처리부는 상기 정방향 계측 데이터의 자기 상관도, 상기 역방향 계측 데이터의 자기 상관도, 및 상기 정방향 계측 데이터와 역방향 계측 데이터의 상호 상관도 중 어느 두 상관도 간의 차에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 검사 장치
3 3
제 1 항에 있어서,상기 신호 처리부는,상기 정방향 계측 데이터와 상기 역방향 계측 데이터의 자기 상관도 및 상호 상관도를 판단하는 상관도 계산부;상기 자기 상관도 및 상호 상관도에 기초하여 손상 지수를 판단하는 손상 지수 계산부; 및상기 손상 지수에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 손상 여부 판단부를 포함하는 검사 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 손상 여부 판단부는 상기 손상 지수와 미리 설정된 기준값을 비교하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 검사 장치
5 5
제 3 항에 있어서,상기 손상 지수 계산부는 상기 정방향 계측 데이터의 자기 상관도, 상기 역방향 계측 데이터의 자기 상관도, 및 상기 정방향 계측 데이터와 상기 역방향 계측 데이터의 상호 상관도 중 어느 두 상관도가 상이한 정도에 기초하여 손상 지수를 판단하는 검사 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 계측부는 상기 목표 지점에 레이저가 조사된 경우, 상기 계측 지점에서 초음파를 검출하여 정방향 계측 데이터를 생성하고, 상기 계측 지점에 레이저가 조사된 경우, 상기 목표 지점에서 초음파를 검출하여 역방향 계측 데이터를 생성하는 검사 장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 신호 처리부의 판단 결과를 사용자에게 화상이나 사운드로 출력하는 출력부를 더 포함하는 검사 장치
8 8
제 1 항에 있어서,정상 피검체에 대한 역방향 계측 데이터가 저장된 저장부를 더 포함하되,상기 계측부는 검사 대상이 되는 피검체의 정방향 계측 데이터를 생성하고,상기 신호 처리부는 상기 검사 대상이 되는 피검체의 정방향 계측 데이터와 상기 정상 피검체에 대한 역방향 계측 데이터의 자기 상관도 및 상호 상관도에 기초하여 상기 검사 대상이 되는 피검체의 결함을 판단하는 검사 장치
9 9
제 1 항에 있어서,상기 레이저 조사부는 검사 대상이 되는 피검체의 목표 지점에 레이저를 조사하고, 정상 피검체의 계측 지점에 레이저를 조사하고,상기 계측부는 상기 검사 대상이 되는 피검체의 정방향 계측 데이터를 생성하고, 상기 정상 피검체의 역방향 계측 데이터를 생성하는 검사 장치
10 10
제 1 항에 있어서,상기 레이저 조사부는 비접촉식으로 피검체에 레이저를 조사하고,상기 계측부는 비접촉식으로 상기 피검체의 초음파를 검출하는 검사 장치
11 11
피검체의 목표 지점에 레이저를 조사하고, 상기 목표 지점으로부터 미리 설정된 거리만큼 떨어진 계측 지점에서의 정방향 계측 데이터를 생성하는 단계;상기 계측 지점에 레이저를 조사하고, 상기 목표 지점에서의 역방향 계측 데이터를 생성하는 단계; 및상기 정방향 계측 데이터와 상기 역방향 계측 데이터의 자기 상관도 및 상호 상관도에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 단계를 포함하는 검사 장치의 검사 방법
12 12
제 11 항에 있어서,상기 결함을 판단하는 단계는 상기 정방향 계측 데이터의 자기 상관도, 상기 역방향 계측 데이터의 자기 상관도, 및 상기 정방향 계측 데이터와 역방향 계측 데이터의 상호 상관도 중 어느 두 상관도 간의 차에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 검사 장치의 검사 방법
13 13
제 11 항에 있어서,상기 결함을 판단하는 단계는,상기 정방향 계측 데이터와 상기 역방향 계측 데이터의 자기 상관도 및 상호 상관도를 판단하는 단계;상기 자기 상관도 및 상호 상관도에 기초하여 손상 지수를 판단하는 단계; 및상기 손상 지수에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 단계를 포함하는 검사 장치의 검사 방법
14 14
제 13 항에 있어서,상기 손상 지수에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 단계는 상기 손상 지수와 미리 설정된 기준값을 비교하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 검사 장치의 검사 방법
15 15
제 13 항에 있어서, 상기 손상 지수를 판단하는 단계는 상기 정방향 계측 데이터의 자기 상관도, 상기 역방향 계측 데이터의 자기 상관도, 및 상기 정방향 계측 데이터와 상기 역방향 계측 데이터의 상호 상관도 중 어느 두 상관도가 상이한 정도에 기초하여 손상 지수를 판단하는 검사 장치의 검사 방법
16 16
제 11 항에 있어서,상기 정방향 계측 데이터를 생성하는 단계는 상기 계측 지점에서 초음파를 검출하여 정방향 계측 데이터를 생성하고,상기 역방향 계측 데이터를 생성하는 단계는 상기 목표 지점에서 초음파를 검출하여 역방향 계측 데이터를 생성하는 검사 장치의 검사 방법
17 17
제 11 항에 있어서,상기 피검체의 결함을 판단하는 단계의 판단 결과를 사용자에게 화상이나 사운드로 출력하는 단계를 더 포함하는 검사 장치의 검사 방법
18 18
제 11 항에 있어서,상기 결함을 판단하는 단계는 상기 정방향 계측 데이터를 생성하는 단계에서 생성된 정방향 계측 데이터와 상기 검사 장치에 미리 저장된 역방향 계측 데이터의 자기 상관도 및 상호 상관도에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 검사 장치의 검사 방법
19 19
제 11 항에 있어서,상기 정방향 계측 데이터를 생성하는 단계는 검사 대상이 되는 피검체의 목표 지점에 레이저를 조사하고, 상기 목표 지점으로부터 미리 설정된 거리만큼 떨어진 계측 지점에서의 정방향 데이터를 생성하고,상기 역방향 계측 데이터를 생성하는 단계는 정상 피검체의 계측 지점에 레이저를 조사하고, 목표 지점에서의 역방향 데이터를 생성하고,상기 결함을 판단하는 단계는 상기 검사 대상이 되는 피검체의 정방향 계측 데이터와 상기 정상 피검체의 역방향 계측 데이터의 자기 상관도 및 상호 상관도에 기초하여 상기 피검체의 결함을 판단하는 검사 장치의 검사 방법
20 20
제 19 항에 있어서,상기 피검체의 결함을 판단하는 단계 이전에,상기 정상 피검체의 역방향 계측 데이터를 저장하는 단계를 더 포함하는 검사 장치의 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.