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계층 구조(hierarchy structure)를 가지는 깊은 신경망(deep neural network, DNN)들의 세트 내에 포함된 제1 DNN을 위한 제1 전자 장치(electronic device)에 있어서, 적어도 하나의 프로세서; 인스트럭션들을 저장하도록 구성된 적어도 하나의 메모리; 및 상기 적어도 하나의 프로세서와 작동적으로 결합된(operatively coupled with) 통신 회로를 포함하고, 상기 적어도 하나의 프로세서는, 상기 인스트럭션들을 실행할 시, 상기 DNN들의 세트에 포함되고 상기 제1 DNN의 하위의 DNN인 제2 DNN을 위한 제2 전자 장치로부터, 상기 제2 전자 장치와 연결된 반도체 소자 시뮬레이터에 의해 수행된 제1 반도체 소자의 시뮬레이션 결과에 대한 특징 정보를 수신하고, 상기 특징 정보에 기반하여, 기계 학습을 수행하고, 상기 제2 전자 장치로부터, 상기 반도체 소자 시뮬레이터를 이용한 제2 반도체 소자의 시뮬레이션을 수행하기 위한 초기해를 제공할 것을 요청하는 신호를 수신하고, 상기 신호의 상기 수신에 응답하여, 상기 기계 학습의 결과에 기반하여 정제된(refined) 초기해를 상기 제2 전자 장치에게 송신하도록 구성되는 제1 전자 장치
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청구항 1에 있어서, 상기 적어도 하나의 프로세서는, 상기 인스트럭션들을 실행할 시, 상기 DNN들의 세트에 포함되고 상기 제1 DNN의 상위의 DNN인 제3 DNN을 위한 제3 전자 장치에게 상기 기계 학습의 결과에 따라 변경된 정보를 송신하도록 더 구성되는 제1 전자 장치
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청구항 1에 있어서, 상기 DNN들의 세트는, 상기 반도체 소자 시뮬레이터를 이용하는 복수의 사용자들에게 각각 할당되고, 상기 제2 DNN을 포함하며, 상기 제1 DNN의 하위의 복수의 DNN들을 포함하는 제1 전자 장치
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청구항 1에 있어서, 상기 적어도 하나의 프로세서는, 상기 인스트럭션들을 실행할 시, 상기 특징 정보를 수신하는 것에 기반하여, 상기 특징 정보의 타당성 검토를 수행하도록 더 구성되는 제1 전자 장치
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청구항 1에 있어서, 상기 기계 학습의 상기 결과에 기반하여 정제된 초기해는, 상기 반도체 소자 시뮬레이터가 상기 제2 반도체 소자의 시뮬레이션에 정전기적 전위를 직접적으로 이용하기 위해 구성되는 제1 전자 장치
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청구항 5에 있어서, 상기 정전기적 전위는, 상기 제2 반도체 소자의 드레인 전류의 크기의 측정을 위해 이용되는 제1 전자 장치
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청구항 6에 있어서, 상기 제2 반도체 소자의 상기 드레인 전류의 크기의 변화는, 상기 제2 반도체 소자의 활성 모드(active mode)의 구간의 획득 및 상기 제2 반도체 소자의 포화 모드(saturation mode)의 구간의 획득을 위해 이용되는 제1 전자 장치
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청구항 1에 있어서, 상기 DNN들의 세트의 상기 계층 구조는, 상기 반도체 소자 시뮬레이터를 포함하는 복수의 반도체 소자 시뮬레이터들을 이용하는 사용자들의 집단의 계층 구조에 대응하는 제1 전자 장치
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청구항 1에 있어서, 상기 특징 정보는, 상기 제1 전자 장치의 인가에 기반하여, 상기 제2 전자 장치로부터 상기 제1 전자 장치에게 송신되는 전자 장치
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청구항 1에 있어서, 상기 초기해를 제공할 것을 요청하는 상기 신호는, 상기 제1 전자 장치의 인가에 기반하여, 상기 제2 전자 장치로부터 상기 제1 전자 장치에게 송신되는 전자 장치
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