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플렉서블 배열 소자의 배열 간 상대적인 위치 결정 방법으로서,상기 플렉서블 배열 소자는 변형될 수 있는 기판 내에 일정한 간격으로 배치된 복수의 배열들을 포함하고,상기 방법은,인접한 배열에 대하여 제1 정전용량을 측정하는 단계;상기 기판이 변형된 후 상기 인접한 배열에 대하여 제2 정전용량을 측정하는 단계; 및상기 제1 정전용량 및 제2 정전용량 측정값에 기초하여 상기 인접한 배열 간 상대적인 위치를 결정하는 단계를 포함하는, 플렉서블 배열 소자의 배열 간 상대적인 위치 결정 방법
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제1항에 있어서,상기 인접한 배열 간 상대적인 위치를 결정하는 단계는,상기 제1 정전용량 측정값에 기초하여 상기 인접한 배열 간 거리를 계산하는 단계; 및상기 제2 정전용량 측정값에 기초하여 상기 기판의 변형에 따라 달라진 상기 인접한 배열 간 거리를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 배열 소자의 배열 간 상대적인 위치 결정 방법
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제2항에 있어서,상기 제1 정전용량 C1은 아래의 수학식에 의해 계산되고,상기 제2 정전용량 C2은 아래의 수학식에 의해 계산되고,여기서 t는 상기 복수의 배열들의 기판의 면에 수직인 방향으로의 길이를 나타내고, L은 상기 복수의 배열들의 기판의 면에 수평인 방향으로의 길이를 나타내며, d는 상기 인접한 배열 간 거리를 나타내고, θ는 상기 기판의 변형에 따라 상기 인접한 배열이 이루게 되는 각도를 나타내며, εr과 ε0는 각각 기판과 진공에서의 유전율을 의미하는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 배열 소자의 배열 간 상대적인 위치 결정 방법
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제3항에 있어서,상기 기판의 유전율 εr 는 상기 기판을 구성하는 물질, 기판의 압축 또는 인장에 따라 변화할 수 있고, 상기 인접한 배열 간 상대적인 위치를 결정하는 단계는, 상기 압축 또는 인장에 따른 배열 간 정전용량 측정값에 기초하여 상기 배열 간 상대적인 위치를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 배열 소자의 배열 간 상대적인 위치 결정 방법
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제4항에 있어서,상기 기판은 서로 유전율이 상이한 적어도 두 개의 물질 층으로 구성되어 상기 인접한 배열에서 각 물질 층마다 정전용량이 상이하게 측정되고,상기 방법은, 상기 기판이 휘어지는 방향에 따라 상기 인접한 배열에 대한 정전용량이 달라지는 것에 기초하여 상기 기판이 휘어지는 방향을 결정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 배열 소자의 배열 간 상대적인 위치 결정 방법
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제1항에 있어서,상기 복수의 배열들 각각은 제1 부분과 상기 제1 부분에 비해 폭이 좁은 제2 부분으로 구성되어 상기 인접한 배열에서 제1 부분들 간 거리와 제2 부분들 간 거리가 상이하고,상기 방법은, 상기 기판이 휘어지는 방향에 따라 상기 인접한 배열에 대한 정전용량이 달라지는 것에 기초하여 상기 기판이 휘어지는 방향을 결정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 배열 소자의 배열 간 상대적인 위치 결정 방법
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변형될 수 있는 기판 내에 배치되며 관심영역을 향해 초음파를 출력하는 복수의 초음파 출력부;상기 관심영역에 위치한 물체로부터 반사된 초음파를 수신하는 초음파 수신부; 및상기 초음파의 출력 시점과 수신 시점의 차이에 기초하여 초음파의 왕복 시간을 계산하고, 상기 왕복 시간 정보에 기초하여 상기 물체의 이미지를 획득하는 처리부를 포함하되,상기 처리부는, 인접한 초음파 출력부에 대하여 제1 정전용량을 측정하고,상기 기판이 변형된 후 상기 인접한 초음파 출력부에 대하여 제2 정전용량을 측정하고,상기 제1 정전용량 및 제2 정전용량 측정값에 기초하여 상기 복수의 초음파 출력부의 상대적인 위치를 결정하고,상기 복수의 초음파 출력부의 상대적인 위치에 기초하여 상기 물체의 이미지를 보정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 초음파 이미징 장치
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제7항에 있어서,상기 처리부는, 상기 제1 정전용량 측정값에 기초하여 상기 인접한 배열 간 거리를 계산하고, 상기 제2 정전용량 측정값에 기초하여 상기 기판의 변형에 따라 달라진 상기 인접한 배열 간 거리를 계산함으로써 상기 복수의 초음파 출력부의 상대적인 위치를 결정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 초음파 이미징 장치
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제8항에 있어서,상기 제1 정전용량 C1은 아래의 수학식에 의해 계산되고,상기 제2 정전용량 C2은 아래의 수학식에 의해 계산되고,여기서 t는 상기 복수의 배열들의 기판의 면에 수직인 방향으로의 길이를 나타내고, L은 상기 복수의 배열들의 기판의 면에 수평인 방향으로의 길이를 나타내며, d는 상기 인접한 배열 간 거리를 나타내고, θ는 상기 기판의 변형에 따라 상기 인접한 배열이 이루게 되는 각도를 나타내며, εr과 ε0는 각각 기판과 진공에서의 유전율을 의미하는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 초음파 이미징 장치
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제9항에 있어서,상기 기판의 유전율 εr 는 상기 기판을 구성하는 물질, 기판의 압축 또는 인장에 따라 변화할 수 있고, 상기 처리부는, 상기 압축 또는 인장에 따른 배열 간 정전용량 측정값에 기초하여 상기 배열 간 상대적인 위치를 결정하는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 초음파 이미징 장치
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제10항에 있어서,상기 기판은 서로 유전율이 상이한 적어도 두 개의 물질 층으로 구성되어 상기 인접한 배열에서 각 물질 층마다 정전용량이 상이하게 측정되고,상기 처리부는, 상기 기판이 휘어지는 방향에 따라 상기 인접한 배열에 대한 정전용량이 달라지는 것에 기초하여 상기 기판이 휘어지는 방향을 결정하도록 더 구성되는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 초음파 이미징 장치
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제7항에 있어서,상기 복수의 초음파 출력부 각각은 미세가공 초음파 트랜스듀서(MUT)와 상기 미세가공 초음파 트랜스듀서를 지지하는 지지 배열로 구성되고, 상기 지지 배열은 제1 부분과 상기 제1 부분에 비해 폭이 좁은 제2 부분으로 구성되어 상기 인접한 배열에서 제1 부분들 간 거리와 제2 부분들 간 거리가 상이하고,상기 처리부는, 상기 기판이 휘어지는 방향에 따라 상기 인접한 배열에 대한 정전용량이 달라지는 것에 기초하여 상기 기판이 휘어지는 방향을 결정하도록 더 구성되는 것을 특징으로 하는, 플렉서블 초음파 이미징 장치
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제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 따른 플렉서블 배열 소자의 배열 간 상대적인 위치 결정 방법을 수행하기 위한, 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체에 저장된 컴퓨터 프로그램
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